用于校正层析X射线摄影图像中的时间伪像的系统和方法技术方案

本发明专利技术涉及用于对对象（４）进行成像的成像系统，所述成像系统包括：检测单元（３），用于接连地采集对象（４）的投影数据组（Ｐ↓［ｉ］），所述检测单元（３）具有由至少一个时间常数（τ）所表征的时间响应函数；旋转单元，它在投影数据组（Ｐ↓［ｉ］）被采集时以基本上恒定的角速度（ω）围绕对象（４）移动检测单元（３）；重建单元（９），用于根据投影数据组（Ｐ↓［ｉ］）来计算对象（４）的图像数据组（１３）；以及滤波器单元（１０），它在工作状态下把滤波器（ｆ）应用到图像数据组（１３）上，以便计算校正值，该滤波器基本上用作为对于被扰动的图像在与角速度方向相对应的方向上的导数，并且基本上正比于时间常数（τ）和基本上正比于角速度（ω），所述滤波器单元（１０）被安排成从图像数据组（１３）中减去校正值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于校正在计算的层析X射线摄影(CT)或类似的成像技术中出现的时间伪像的系统和方法。在对象的医疗X射线检查中，X射线源发射由准直单元准直的X辐射。X辐射通过正在被检查的对象，透射的X辐射在X射线敏感的检测器上被检测。通过使用X射线敏感的检测器而采集透射数据可得到X射线投影图像。如果这样的医疗X射线检查包括一系列接连的采集，后面采集的X射线图像会被X射线检测器的时间性能恶化，在这里时间性能是指从接收的X射线信号到电荷的变换(的多步骤过程)并不立即发生，而是在时间上延伸的，正如下面描述的那样。典型的X射线检测器单元包括一个把X射线量子变换成光子的变换器层(也称为闪烁器)和一个用于把光子变换成电荷的光电二极管。当由短的X射线脉冲进行照射时，这样的检测器单元显示一种信号响应，它可以用多个指数衰减曲线之一或其总和来建模，每个衰减曲线由衰减时间常数表征。例如，如果在接连的采集中被检查的对象的投影大于在以前的采集时的投影，则由于对象引起的衰减，以前的被充分照射的区域仅仅以一个减小的X射线强度被曝光。一个残余信号在以前未遮蔽的检测器区域中被检测，它起源于在这个区域中检测器单元的延本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于对对象（４）进行成像的成像系统，包括：.检测单元（３），用于接连地采集对象（４）的投影数据组（Ｐ↓［ｉ］），所述检测单元（３）具有由至少一个时间常数（τ）所表征的时间响应函数，.旋转单元，它在投影数据组（Ｐ↓［ｉ］）被采 集的同时以基本上恒定的角速度（ω）围绕对象（４）移动检测单元（３），.重建单元（９），用于根据投影数据组（Ｐ↓［ｉ］）计算对象（４）的图像数据组（１３），以及.滤波器单元（１０），它在工作状态下把滤波器（ｆ）应用到图像数据组 （１３）上，以便计算校正值，其中该滤波器－基本上用作为对于受扰动的图像在与角速度方向相对...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：L斯皮斯，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]