一种集成电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试装置，包括底座，所述底座底端螺栓安装有支撑座，所述底座顶端镶嵌有电动伸缩架，所述电动伸缩架顶端焊接有设备安装架，所述底座顶端表面螺栓安装有滑架，所述滑架位于设备安装架正下方，所述滑架内壁滑扣安装有限位滑块。本实用新型专利技术通过底座顶端镶嵌有限位转盘，方便根据需求转动安装于显示器安装架内的显示器，以便展示测试数据，通过显示器安装架顶端镶嵌有旋转线盒，可对显示器线束进行固定，避免在转动显示器安装架过程中导致线束缠绕的情况发生，通过底座内部镶嵌的蓄电池，方便向整个装置提供工作电量，通过设备安装架内部镶嵌有安装网板，方便配合螺栓快速安装固定用于测试集成电路的设备。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置
本技术涉及集成电路检测相关
，具体为一种集成电路测试装置。
技术介绍
集成电路(integratedcircuit)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。集成电路专利技术者为杰克·基尔比(基于锗(Ge)的集成电路)和罗伯特·诺伊思(基于硅(Si)的集成电路)。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。集成电路一般需要进行测试，从而需要使用集成电路测试装置来完成。但现有的集成电路测试装置，使用不便，无法安装多种测试设备，集成电路板难以改变朝向位置，难以满足测试需求。为此，我们提出一种集成电路测试装置。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种集成电路测试装置，以解决上述背景技术中现有的集成电路本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)底端螺栓安装有支撑座(2)，所述底座(1)顶端镶嵌有电动伸缩架(3)，所述电动伸缩架(3)顶端焊接有设备安装架(4)，所述底座(1)顶端表面螺栓安装有滑架(5)，所述滑架(5)位于设备安装架(4)正下方，所述滑架(5)内壁滑扣安装有限位滑块(7)，所述限位滑块(7)表面焊接有横向滑架(8)，所述横向滑架(8)内部滑扣安装有限位转轴(9)，所述限位转轴(9)顶端表面镶嵌有电路板放置座(10)。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)底端螺栓安装有支撑座(2)，所述底座(1)顶端镶嵌有电动伸缩架(3)，所述电动伸缩架(3)顶端焊接有设备安装架(4)，所述底座(1)顶端表面螺栓安装有滑架(5)，所述滑架(5)位于设备安装架(4)正下方，所述滑架(5)内壁滑扣安装有限位滑块(7)，所述限位滑块(7)表面焊接有横向滑架(8)，所述横向滑架(8)内部滑扣安装有限位转轴(9)，所述限位转轴(9)顶端表面镶嵌有电路板放置座(10)。


2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述电路板放置座(10)两侧均镶嵌有定位板(11)，所述定位板(11)表面插扣安装有定位销(12)，所述定位销(12)一端位于底座(1)表面。


3.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：马艳，王晓莹，田梅安，
申请(专利权)人：苏州港芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32