一种集成电路测试连接装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试连接装置，包括支撑机构、散热机构、驱动机构、升降机构、固定机构、转接口和转换头，所述支撑机构包括支撑腿、支撑底板、安装架，所述支撑腿设置在支撑底板的下表面，所述安装架设置在支撑底板的上表面，所述散热机构包括吹风机和散热口，所述吹风机设置在安装架的上方，所述驱动机构包括电机、移动箱、齿轮一、支撑杆，所述电机设置在安装架的上表面，所述升降机构包括转动钮、转动轴、齿轮二、齿轮三、螺纹杆，所述固定机构包括固定板、卡板和插口，所述转接口设置在安装架的右侧，所述转换头设置在安装架的左侧，本实用新型专利技术通过设置散热机构对放置腔内进行散热，并且升降机构能够对转接口和转换头进行防尘。行防尘。行防尘。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试连接装置


[0001]本技术涉及集成电路
，具体为一种集成电路测试连接装置。

技术介绍

[0002]集成电路(Integrated Circuit，IC)是一种微型电子器件，通过采用一定的工艺，把一个电路中所需要的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连在一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。对电子产品进行功能测试时，一般是对电子产品的集成电路进行功能测试，对集成电路进行功能测试时，需要将集成电路的各个功能引脚通过集成电路转接板连接到测试装置。
[0003]但是，现有的集成电路测试连接装置的结构存在以下缺点：
[0004]1、现有的集成电路测试连接装置没有设置散热机构，当长时间运行使，内部温度过高降低装置的使用年限。
[0005]2、现有的集成电路测试连接装置防尘效果不好，长时间不用，接口处会沾满灰尘使检测结果不准确。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供一种集成电路测试连接装置，以解决上述
技术介绍
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试连接装置，其特征在于，包括支撑机构、散热机构、驱动机构、升降机构、固定机构、转接口(1)和转换头(2)，所述支撑机构包括支撑腿(3)、支撑底板(4)、安装架(5)，所述支撑腿(3)设置在支撑底板(4)的下表面，所述安装架(5)设置在支撑底板(4)的上表面，所述散热机构包括吹风机(6)和散热口(7)，所述吹风机(6)设置在安装架(5)的上方，所述驱动机构包括电机(8)、移动箱(9)、齿轮一(10)、支撑杆(11)，所述电机(8)设置在安装架(5)的上表面，所述升降机构包括转动钮(12)、转动轴、齿轮二(13)、齿轮三(14)、螺纹杆(15)，所述固定机构包括固定板(16)、卡板(17)和插口(18)，所述转接口(1)设置在安装架(5)的右侧，所述转换头(2)设置在安装架(5)的左侧。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试连接装置，其特征在于：所述安装架(5)内部设置有空腔，安装架(5)的上表面设置有滑动槽，所述滑动槽的下方设置有吹风机(6)，所述吹风机(6)与移动箱(9)固定连接。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试连接装置，其特征在于：所述安装架(5)的上表面设置有放置箱(19)，所述移动箱(9)安装在放置箱(19)内部，所述电机(8)设置在放置箱(19)的后侧，所述电机(8)下方设置有安装槽，所述移动箱(9)的前后两侧设置有支撑杆(11)，所述支撑...

【专利技术属性】
技术研发人员：马艳，王晓莹，田梅安，
申请(专利权)人：苏州港芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：