【技术实现步骤摘要】
芯片测试主板、测试系统以及测试方法
本公开涉及处理器
，更具体地，涉及一种芯片测试主板、测试系统以及测试方法。
技术介绍
随着制造技术的进步，晶体管的尺寸变得越来越小，芯片的规模随之越来越大，能源效率与性能也不断得到提高。系统级芯片(System-on-a-Chip，SOC)作为一种具有专用功能的集成电路，其中包含完整的电路系统并嵌入有软件程序，其设计通常非常复杂。这使得在对SOC进行大规模生产之前，需要经过大量的裸机测试，以保证SOC内部各逻辑模块的工作情况与设计初衷是一致的。为了对SOC的功能进行测试，测试人员需要预先准备大量的对应于不同测试目标的测试用例，通过控制被测SOC迭代执行这些用例，来获得执行结果，进而基于执行结果来对被测SOC进行全方位的测试。
技术实现思路
基于此，本公开提供了一种自动化芯片测试主板、测试系统以及测试方法，用于对被测芯片进行自动化的测试，从而实现更加方便、简洁、智能的远程控制自动化芯片测试平台。根据本公开的一方面，提供了一种自动化芯片测试主板，芯片接口，配置...
【技术保护点】
1.一种芯片测试主板，包括：/n芯片接口，配置成将被测芯片连接至所述测试主板；以及/n控制器，配置成与所述芯片接口连接，其中，所述控制器包括网络连接单元和控制单元，所述网络连接单元配置成进行网络通信，所述控制单元配置成：/n经由所述网络连接单元接收测试数据；/n控制使得所述被测芯片运行所述测试数据；以及/n获取所述被测芯片运行所述测试数据产生的测试信息，并经由所述网络连接单元发送所述测试信息。/n
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试主板，包括：
芯片接口，配置成将被测芯片连接至所述测试主板；以及
控制器，配置成与所述芯片接口连接，其中，所述控制器包括网络连接单元和控制单元，所述网络连接单元配置成进行网络通信，所述控制单元配置成：
经由所述网络连接单元接收测试数据；
控制使得所述被测芯片运行所述测试数据；以及
获取所述被测芯片运行所述测试数据产生的测试信息，并经由所述网络连接单元发送所述测试信息。
2.根据权利要求1所述的测试主板，其中，所述控制器还包括通用输入输出接口，所述控制单元还配置成：
通过所述通用输入输出接口向所述被测芯片输出复位信号，所述复位信号用于对所述被测芯片进行复位以启动所述被测芯片，其中，所述被测芯片在启动之后运行所述测试数据。
3.根据权利要求1所述的测试主板，其中，所述控制器还包括集成电路总线接口，所述测试主板还包括与所述控制器和所述芯片接口连接的电源管理电路，所述控制单元还配置成：
通过所述集成电路总线接口经由所述电源管理电路向所述被测芯片输出电源控制信号，所述电源控制信号用于对所述被测芯片进行上电以启动所述被测芯片，其中，所述被测芯片在启动之后运行所述测试数据。
4.根据权利要求1所述的测试主板，其中，所述控制器还包括收发传输器，
所述控制单元通过所述收发传输器从所述被测芯片获取所述测试信息。
5.根据权利要求1所述的测试主板，还包括第一存储器，其中，所述第一存储器包括串行外设接口，其中，所述控制单元控制使得所述被测芯片运行所述测试数据包括：
通过所述串行外设接口将所述测试数据写入所述第一存储器，以使得所述被测芯片从所述第一存储器读取所述测试数据并运行所述测试数据，其中，所述第一存储器包括闪存芯片或静态随机存取存储器。
6.根据权利要求1所述的测试主板，其中，所述测试数据包括至少一个测试用例以及对应于所述至少一个测试用例的测试参数，
所述测试信息包括所述被测芯片运行所述测试数据产生的运行信息和结果信息。
7.一种芯片测试系统，包括：
至少一个计算设备；以及
一个或多个测试主板，其中，所述一个或多个测试主板中的每个测试主板包括：配置成将被测芯片连接至所述测试主板的芯片接口、与所述芯片接口连接的控制器，其中，所述控制器包括网络连接单元和控制单元，所述控制单元配置成：
经由所述网络连接单元与所述至少一个计算设备进行连接，以从所述计算设备接收测试数据；
控制使得所述被测芯片运行所述测试数据；以及
获取所述被测芯片运行所述测试数据产生的测试信息，并经由所述网络连接单元将所述测试信息发送至所述至少一个计算设备。
8.根据权利要求7所述的测试系统，其中，所述至少一个计算设备配置成：
获取所述测试数据；
将所述测试数据传输至所述一个或多个测试主板上的所述控制器，其中，所述一个或多个测试主板接收的所述测试数据可以相同或者不同；以及
经由所述控制器从所述一个或多个测试主板接收所述测试信息。
9.一种芯片测试方法，适用于测试主板，其中，所述测试主板包括将...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈辉，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12
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