一种光学检测设备制造技术

技术编号:29456281 阅读:8 留言:0更新日期:2021-07-27 17:21
本实用新型专利技术实施例公开了一种光学检测设备。该光学检测设备包括:承载台,用于承载待测面板;紫外光检测模块,包括紫外光照明单元和紫外光图像采集单元,紫外光照明单元向待测面板发射紫外光,紫外光图像采集单元获取经待测面板出射的紫外光图像;可见光检测模块,包括可见光照明单元和可见光图像采集单元,可见光照明单元向待测面板发射可见光,可见光图像采集单元获取经待测面板反射的可见光图像。本实施例解决了现有OLED显示面板有机发光功能层不能进行检测的问题,不仅可以实现表面光学检测,还能实现内部发光膜层的检测,拓展了光学检测设备的光学检测功能,一定程度上有助于减少光学检测成本,改善OLED显示面板的成品良率。

【技术实现步骤摘要】
一种光学检测设备
本技术实施例涉及面板检测
,尤其涉及一种光学检测设备。
技术介绍
在现有的有机发光(OLED,OrganicLight-EmittingDiode)显示面板的制备过程中,通常需要光学检测装置(AOI,AutomaticOpticInspection)对制程中的显示面板进行拍照检测。利用采集获得的图像进行处理分析识别缺陷,以淘汰或回收残次的面板,提高成品面板的良率。对于OLED显示面板而言,其中的有机发光功能层一般会延伸至面板边缘区域设置的焊盘区。图1是本技术实施例提供的一种OLED显示面板边缘区域的剖视图,参考图1,在OLED显示面板的焊盘区一般会设置多个通孔,在制备OLED发光器件时,其中的阴极金属层可以通过通孔与下层的金属走线层导通连接,从而实现信号的驱动。然而,可以理解,当有机发光功能层即EL层向面板边缘延伸过多时,会阻挡阴极金属层与下层金属走线层通过通孔电连接,也即会增加阴极金属层与金属走线层的接触电阻,导致接触部分的电流增加,进而会引起该接触部分局部过热,导致电接触不良。目前的AOI检测装置并不能对有机发光功能层的延伸长度进行检测,现有的面板制程也并不能确定有机发光功能层的延伸情况,故而容易降低面板的良率。
技术实现思路
本技术提供一种光学检测设备,以通过光学检测识别OLED显示面板中有机发光功能层的延伸情况,确保有机发光显示面板中阴极金属层和金属走线层的电连接质量,改善显示面板的良率。本技术实施例提供了一种光学检测设备,包括:承载台,用于承载待测面板;紫外光检测模块,包括紫外光照明单元和紫外光图像采集单元,所述紫外光照明单元向所述待测面板发射紫外光,所述紫外光图像采集单元获取经所述待测面板出射的紫外光图像;可见光检测模块,包括可见光照明单元和可见光图像采集单元,所述可见光照明单元向所述待测面板发射可见光,所述可见光图像采集单元获取经所述待测面板反射的可见光图像。可选地,还包括显微镜模块,设置在紫外光图像采集单元和/或所述可见光图像采集单元的入光侧,所述显微镜模块用于放大所述待测面板的反射图像。可选地,还包括龙门架移动机构,所述龙门架移动机构位于所述承载台上方;所述紫外光图像采集单元、所述可见光图像采集单元和所述显微镜模块均设置在龙门架移动机构上,所述龙门架移动机构用于分别单独驱动所述紫外光图像采集单元、所述可见光图像采集单元和所述显微镜模块移动。可选地,所述龙门架移动机构包括升降机构和水平位移机构,所述水平位移机构设置于所述升降机构上,所述紫外光图像采集单元、所述可见光图像采集单元和所述显微镜模块设置于所述水平位移机构上;所述升降机构用于驱动所述水平位移机构在纵向方向上移动;所述水平位移机构用于分别单独驱动所述紫外光图像采集单元、所述可见光图像采集单元和所述显微镜模块在水平方向上移动。可选地,所述水平位移机构包括第一水平位移组件、第二水平位移组件和第三水平位移组件;所述紫外光图像采集单元设置于所述第一水平位移组件上,所述可见光图像采集单元设置于所述第二水平位移组件上,所述显微镜模块设置于所述第三水平位移组件上;所述第一水平位移组件和所述第二水平位移组件均在第一水平面上驱动所述紫外光图像采集单元和所述可见光图像采集单元沿第一方向和第二方向移动;所述第三水平位移组件在第二水平面上驱动所述显微镜模块沿第一方向和所述第二方向移动;所述第二水平面位于所述承载台之上,所述第一水平面位于所述第二水平面之上;所述第一方向和所述第二方向交叉。可选地,所述承载台上还设置有运动机构,所述运动机构用于将所述待测面板移动至所述承载台上或将所述待测面板从所述承载台上移开。可选地,还包括定位模块,所述定位模块用于检测所述待测面板上的定位标记,并根据所述定位标记反馈控制所述运动机构移动所述待测面板至预定位置。可选地,还包括图像处理模块,分别与所述紫外光图像采集单元和所述可见光图像采集单元电连接;所述图像处理模块用于分别对所述紫外光图像采集单元提供的紫外光图像和所述可见光图像采集单元提供的可见光图像进行图像处理和特征识别。可选地,还包括显示模块,与所述图像处理模块电连接;所述显示模块还用于显示所述紫外光图像采集单元提供的紫外光图像和所述可见光图像采集单元提供的可见光图像。可选地,所述待测面板为OLED显示面板。本技术实施例中,通过设置紫外光检测模块和可见光检测模块,利用其中的紫外光照明单元向待测面板发射紫外光,再由紫外光图像采集单元获取经待测面板出射的紫外光图像,可以对待测面板内部的发光膜层进行光学检测;其中的可见光照明单元向待测面板发射可见光,再由可见光图像采集单元获取经待测面板反射的可见光图像,可以对待测面板表面的结构进行光学检测。本技术实施例解决了现有OLED显示面板有机发光功能层不能进行检测的问题,利用现有的光学检测设备,不仅可以实现表面光学检测,还能实现内部发光膜层的检测,既提高了光学检测设备的集成度,拓展了光学检测设备的光学检测功能,一定程度上也有助于减少光学检测成本,改善OLED显示面板的成品良率。附图说明图1是本技术实施例提供的一种OLED显示面板边缘区域的剖视图;图2是本技术实施例提供的一种光学检测设备的结构示意图;图3是本技术实施例提供的光学检测设备检测的两个OLED显示面板局部紫外光检测图像;图4是本技术实施例提供的另一种光学检测设备的结构示意图;图5是本技术实施例提供的又一种光学检测设备的结构示意图;图6是本技术实施例提供的又一种光学检测设备的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术,而非对本技术的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部结构。图2是本技术实施例提供的一种光学检测设备的结构示意图,参考图2,该光学检测设备包括承载台10,用于承载待测面板1;紫外光检测模块20,包括紫外光照明单元21和紫外光图像采集单元22,紫外光照明单元21向待测面板1发射紫外光,紫外光图像采集单元22获取经待测面板1出射的紫外光图像;可见光检测模块30,包括可见光照明单元31和可见光图像采集单元32,可见光照明单元31向待测面板1发射可见光,可见光图像采集单元32获取经待测面板1反射的可见光图像。其中,紫外光检测模块20和可见光检测模块30分别用于检测待测面板1不同的图像。可见光检测模块30用于对待测面板1的表面进行光学检测,其中的可见光照明单元31向待测面板1打光,可见光图像采集单元32则可直接获取待测面板1反射的光线,也即可以直接获取待测面板1表面的图像,从而能够通过该图像分析确定待测面板1上的缺陷。而紫外光图像采集单元22可以利用紫外光照明单元本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学检测设备,其特征在于,包括:/n承载台,用于承载待测面板;/n紫外光检测模块,包括紫外光照明单元和紫外光图像采集单元,所述紫外光照明单元向所述待测面板发射紫外光,所述紫外光图像采集单元获取经所述待测面板出射的紫外光图像;/n可见光检测模块,包括可见光照明单元和可见光图像采集单元,所述可见光照明单元向所述待测面板发射可见光,所述可见光图像采集单元获取经所述待测面板反射的可见光图像。/n

【技术特征摘要】
1.一种光学检测设备,其特征在于,包括:
承载台,用于承载待测面板;
紫外光检测模块,包括紫外光照明单元和紫外光图像采集单元,所述紫外光照明单元向所述待测面板发射紫外光,所述紫外光图像采集单元获取经所述待测面板出射的紫外光图像;
可见光检测模块,包括可见光照明单元和可见光图像采集单元,所述可见光照明单元向所述待测面板发射可见光,所述可见光图像采集单元获取经所述待测面板反射的可见光图像。


2.根据权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,还包括显微镜模块,设置在紫外光图像采集单元和/或所述可见光图像采集单元的入光侧,所述显微镜模块用于放大所述待测面板的图像。


3.根据权利要求2所述的光学检测设备,其特征在于,还包括龙门架移动机构,所述龙门架移动机构位于所述承载台上方;
所述紫外光图像采集单元、所述可见光图像采集单元和所述显微镜模块均设置在龙门架移动机构上,所述龙门架移动机构用于分别单独驱动所述紫外光图像采集单元、所述可见光图像采集单元和所述显微镜模块移动。


4.根据权利要求3所述的光学检测设备,其特征在于,所述龙门架移动机构包括升降机构和水平位移机构,所述水平位移机构设置于所述升降机构上,所述紫外光图像采集单元、所述可见光图像采集单元和所述显微镜模块设置于所述水平位移机构上;
所述升降机构用于驱动所述水平位移机构在纵向方向上移动;
所述水平位移机构用于分别单独驱动所述紫外光图像采集单元、所述可见光图像采集单元和所述显微镜模块在水平方向上移动。


5.根据权利要求4所述的光学检测设备,其特征在于,所述水平位移机构包括第一水平位移组件、第二水平位移组件和第三水平位移...

【专利技术属性】
技术研发人员:朴俊映
申请(专利权)人:乐金显示光电科技中国有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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