电路板测试装置及测试设备制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电路板测试装置，并公开了具有电路板测试装置的电路板测试设备，其中电路板测试装置包括测试架、多个上探针模组、多个下探针模组、载板和控制箱，下探针模组和上探针模组分别安装在测试架的第一支撑板和与第二支撑板上，在第二支撑板和第一支撑板之间设置有气缸，载板设置在第一支撑板和第二支撑板之间，控制箱设置在测试架底部，与上探针模组和气缸电连接，控制箱控制上探针模组向下探针模组方向移动，使上探针模组和下探针模组分别与被测电路板的上下表面的测试点接触，从而生成测试数据，完成对电路板的测试，本实用新型专利技术提出的电路板测试装置及设备，能够同时进行多个待测电路板的自动测试，提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
电路板测试装置及测试设备
本技术涉及自动化测试
，特别涉及一种电路板测试装置及设备。
技术介绍
电路板广泛应用于电子产品生产中，电路板生产过程中，需要对电路板进行检测，检测其电流、电压、线路开短路或通信性能等参数。目前采用人工检测的方式对电路板进行测试，人工检测的方式，需要工人手持探针，同时连通电路板上的测试点逐一进行检测，这样的检测方式，劳动强度大，浪费人力，且检测效率低。
技术实现思路
本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本技术提出一种电路板测试装置，能够实现电路板自动测试，提高测试效率。本技术还提出一种具有上述电路板测试装置的测试设备。根据本技术的电路板测试装置，包括：测试架，所述测试架包括第一支撑板和与所述第一支撑板通过气缸连接的第二支撑板，所述气缸可带动所述第二支撑板向所述第一支撑板方向移动，所述气缸可带动所述第二支撑板向所述第一支撑板方向移动；多个上探针模组，安装在所述第二支撑板上，所述上探针模组包括扫码枪和上探针，分别对应设置在所述第二支撑板的上表面和下表面，所述第二支撑板上设置有通孔，所述扫码枪可穿过所述通孔至所述第二支撑板下方；多个下探针模组，安装在所述第一支撑板上，所述下探针模组包括下探针；载板，设置在所述第一支撑板和所述第二支撑板之间，用于装设待测电路板；控制箱，设置在所述测试架底部，与所述上探针模组和所述气缸电连接。根据本技术实施例的电路板测试装置，至少具有如下有益效果：电路板测试装置包括测试架、多个上探针模组、多个下探针模组、载板和控制箱，其中测试架包括第一支撑板和第二支撑板，在第一支撑板和第二支撑板之间设置有气缸，气缸可以带动第二支撑板向第一支撑板方向移动，在第一支撑板和第二支撑板上分别安装有多个下探针模组和多个上探针模组，上探针模组和下探针模组分别对应设置有上探针和下探针，载板设置在第一支撑板和第二支撑板之间，用于装设待测电路板，当测试电路板时，将载板从测试架拉出，进行电路板安装后将载板推回至第一支撑板和第二支撑板之间，使被测电路板的下表面与第一支撑板上的下探针模组中的下探针接触，启动控制箱控制气缸运动，带动第二支撑板向下移动，从而带动上探针模组中的上探针和扫码枪同时向下移动，与电路板的上表面相接触，扫码枪用于对被测电路板进行扫码，获取编号方便数据追踪记录，上探针、被测电路板和下探针相互接触连接生成测试数据，测试数据经上探针模组反馈至控制箱，再通过控制箱下载测试数据，从而完成对电路板功能的检测。本申请中，同时设置有多个上探针模组和多个下探针模组可以同时对多个待测电路板进行测试，提高测试效率，另外，也可以根据测试需求，对单独的一块或者多块电路板就行选择性测试，进行多样化测试。根据本技术的一些实施例，多个所述上探针模组、上探针模组呈阵列设置。根据本技术的一些实施例，还包括外壳，所述外壳设置在所述测试架外表面，在所述外壳的正面设置有测试按钮，所述测试按钮与所述控制箱电连接，所述外壳的侧面设置有散热孔。根据本技术第二方面实施例的电路板测试设备，包括：机架；测试装置，安装在所述机架上，所述测试装置包括多个上探针模组、多个下探针模组、载板和控制箱，所述载板设置在所述上探针模组和所述下探针模组之间，用于安装被测电路板，所述控制箱设置在所述下探针模组底部。控制所述上探针模组向下探针模组方向移动，使上探针模组和下探针模组分别连接被测电路板的上下表面，对电路板进行测试。根据本技术实施例的电路板测试设备，至少具有如下有益效果：电路板测试设备包括机架和测试装置，其中测试装置包括多个上探针模组、多个下探针模组、载板和控制箱，载板设置在上探针模组和下探针模组之间，当测试电路板时，将载板从测试架拉出，进行电路板安装后将载板推回至测试装置，使被测电路板的下表面与下探针模组接触，此时控制箱控制上探针模组向下移动，与电路板的上表面相接触，上探针模组、被测电路板和下探针模组相互接触连接生成测试数据，测试数据经上探针模组反馈至控制箱，再通过控制箱下载测试数据，从而完成对电路板功能的检测，本申请中，同时设置有多个上探针模组和多个下探针模组可以同时对多个待测电路板进行测试，提高测试效率，另外，也可以根据测试需求，对单独的一块或者多块电路板就行选择性测试，进行多样化测试。根据本技术的一些实施例，所述上探针模组和与所述下探针模组之间通过气缸连接，所述气缸可带动所述上探针模组向下移动，在所述上探针模组和所述下探针模组之间设置有限位柱。根据本技术的一些实施例，多个所述上探针模组和多个所述下探针模组分别包括呈阵列分布，所述上探针模组包括扫码枪和上探针，所述下探针模组包括下探针，所述上探针和所述下探针上下相对设置。根据本技术的一些实施例，所述控制箱设置有控制按钮，与所述气缸电连接。根据本技术的一些实施例，所述测试装置还包括外壳，所述外壳设置在所述测试架外表面，在所述外壳的表面设置有测试按钮和散热孔，所述测试按钮与所述控制箱电连接。根据本技术的一些实施例，还包括显示屏，设置在所述机架上，与所述测试装置电连接，用于显示电路板测试结果。根据本技术的一些实施例，所述机架底部安装有可活动的轮子，方便移动。本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。附图说明本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1为本技术实施例的电路板测试装置的结构图；图2为本技术实施例的电路板测试装置关于上探针模组和下探针模组的结构图；图3为本技术实施例的电路板测试装置关于载板的结构图；图4为本技术实施例的电路板测设备的结构图。测试装置100、测试架110、第一支撑板111、气缸112、第二支撑板113、通孔113a、限位柱114、上探针模组120、扫码枪121、上探针122、下探针模组130、定位柱131、下探针132、载板140、导轨141、支撑架142、控制箱150、控制按钮151、外壳160、测试按钮161、散热孔162、机架200、轮子210、显示屏300。具体实施方式下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。在本实用新本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路板测试装置，其特征在于，包括：/n测试架，所述测试架包括第一支撑板和与所述第一支撑板通过气缸连接的第二支撑板，所述气缸可带动所述第二支撑板向所述第一支撑板方向移动；/n多个上探针模组，安装在所述第二支撑板上，所述上探针模组包括扫码枪和上探针，分别设置在所述第二支撑板的上表面和下表面，所述第二支撑板上设置有通孔，所述扫码枪可穿过所述通孔延伸至所述第二支撑板下方；/n多个下探针模组，安装在所述第一支撑板上，所述下探针模组包括下探针；/n载板，设置在所述第一支撑板和所述第二支撑板之间，用于装设待测电路板；/n控制箱，设置在所述测试架底部，与所述上探针模组和所述气缸电连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种电路板测试装置，其特征在于，包括：
测试架，所述测试架包括第一支撑板和与所述第一支撑板通过气缸连接的第二支撑板，所述气缸可带动所述第二支撑板向所述第一支撑板方向移动；
多个上探针模组，安装在所述第二支撑板上，所述上探针模组包括扫码枪和上探针，分别设置在所述第二支撑板的上表面和下表面，所述第二支撑板上设置有通孔，所述扫码枪可穿过所述通孔延伸至所述第二支撑板下方；
多个下探针模组，安装在所述第一支撑板上，所述下探针模组包括下探针；
载板，设置在所述第一支撑板和所述第二支撑板之间，用于装设待测电路板；
控制箱，设置在所述测试架底部，与所述上探针模组和所述气缸电连接。


2.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，多个所述上探针模组、下探针模组呈阵列设置。


3.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，还包括外壳，所述外壳设置在所述测试架外表面，在所述外壳的正面设置有测试按钮，所述测试按钮与所述控制箱电连接，所述外壳的侧面设置有散热孔。


4.一种电路板测试设备，其特征在于，包括：
机架；
测试装置，安装在所述机架上，所述测试装置包括多个上探针模组、多个下探针模组、载板和控制箱，所述载板设置在所述上探针模组和所述下探针模组之间，用于安装被测电路板，所述控制箱设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐礼明，周志辉，余海彪，周红祥，翟建军，
申请(专利权)人：深圳市深发五金技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44