一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统，属于电网用电信息采集技术领域。本发明专利技术方法，包括：设置电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间，确定每组测试数据的响应时间；根据每组测试数据的响应时间及权重比例，确定电力芯片的响应时间。本发明专利技术为芯片在具体设备中的应用提供了关键技术指标，为芯片生产及场景应用提供技术指导，有效的促进芯片产业链的应用对接。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统
本专利技术涉及电网用电信息采集
，并且更具体地，涉及一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统。
技术介绍
面向电力行业设备应用特点，作为国家关键基础设施的电网系统，芯片需要集成国产密码算法以保证信息源的安全。在用电信息采集系统中，电力安全芯片应用于全环节中，上至系统主站，下至千家万户的电能表。安全芯片内置国密算法，用户通过安全芯片进行用户身份认证及权限管理，设备通过安全芯片进行身份认证，数据信息通过安全芯片进行加密传输，保障了用户数据信息的隐私性，保证了用户数据的安全及不被篡改，为用电信息采集系统安全防护提供技术保障。电力专用芯片根据国家密码标准对指令的输入及执行进行加解密处理，其加解密的速度及实时性将成为衡量芯片性能的重要指标，急需开展国密算法电力安全芯片的数据处理响应速度进行验证及测试的方法研究，为芯片研制提供重要的技术指标，为芯片批量化生产和应用提供支撑和保障。国家密码管理办公室自2002年起，开始制定并颁布一系列的密码标准，从而建立并完善国家的密码体系结构。目前已经公布的国密算法包括祖冲之算法、SM1、SM2、SM3、SM4、SM7、SM9算法等等。其中祖冲之算法、SM1、SM4、SM7是对称密码算法；SM2、SM9是非对称密码算法；SM3是杂凑密码算法。传统的芯片测试环境是由三部分组成：激励生成(StimulusGenerator)、DUT(DeviceUnderTest)和响应检测(ResponseChecking)。DUT就是待测的逻辑电路，激励生成模块将测量信号向量根据DUT的输入接口信号时序输入到被测电路中，响应检测模块接收到被驱动的DUT的输出结果，根据分析，判断DUT是否符合设计功能。
技术实现思路
本专利技术为了实现芯片响应时间的测试，且为芯片应用提供支撑和保障，而提出了一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法，包括：设置电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间，确定每组测试数据的响应时间；根据每组测试数据的响应时间及权重比例，确定电力芯片的响应时间。可选的，测试数据的响应时间为发送测试数据的时间与接收反馈数据的时间的差值。可选的，测试数据通过c语言编写的软件生成并发送。可选的，c语言编写的软件通过SPI通讯总线连接电力芯片。可选的，方法，还包括：去除确定的每组测试数据的响应时间中的无效数据；其中，无效数据为偏离数据区间的数据。本专利技术还提出了一种适用于电力安全芯片响应时间的测试系统，包括：初始单元，设置电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；数据采集单元，针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；计算单元，根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间，确定每组测试数据的响应时间；输出单元，根据每组测试数据的响应时间及权重比例，确定电力芯片的响应时间。可选的，测试数据的响应时间为发送测试数据的时间与接收反馈数据的时间的差值。可选的，测试数据通过c语言编写的软件生成并发送。可选的，c语言编写的软件通过SPI通讯总线连接电力芯片。可选的，计算单元还用于，去除确定的每组测试数据的响应时间中的无效数据；其中，无效数据为偏离数据区间的数据。本专利技术为芯片在具体设备中的应用提供了关键技术指标，为芯片生产及场景应用提供技术指导，有效的促进芯片产业链的应用对接。附图说明图1为本专利技术方法的流程图；图2为本专利技术系统的结构图。具体实施方式现在参考附图介绍本专利技术的示例性实施方式，然而，本专利技术可以用许多不同的形式来实施，并且不局限于此处描述的实施例，提供这些实施例是为了详尽地且完全地公开本专利技术，并且向所属
的技术人员充分传达本专利技术的范围。对于表示在附图中的示例性实施方式中的术语并不是对本专利技术的限定。在附图中，相同的单元/元件使用相同的附图标记。除非另有说明，此处使用的术语(包括科技术语)对所属
的技术人员具有通常的理解含义。另外，可以理解的是，以通常使用的词典限定的术语，应当被理解为与其相关领域的语境具有一致的含义，而不应该被理解为理想化的或过于正式的意义。本专利技术为了实现芯片响应时间的测试，且为芯片应用提供支撑和保障，而提出了一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法，如图1所示，包括：设置电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间，确定每组测试数据的响应时间；去除确定的每组测试数据的响应时间中的无效数据；其中，无效数据为偏离数据区间的数据；根据每组测试数据的响应时间及权重比例，确定电力芯片的响应时间。其中，测试数据的响应时间为发送测试数据的时间与接收反馈数据的时间的差值。其中，测试数据通过c语言编写的软件生成并发送。其中，c语言编写的软件通过SPI通讯总线连接电力芯片。下面结合实施例对本专利技术进行进一步的说明：基于C语言的测试软件通过SPI通讯总线向被测芯片发送测试数据，通过输入测试数据，测试软件进行结果反馈，运用权重占比公式，数据有效值判断，计算芯片的响应时间；若向被测芯片发送测试数据的时间为t1,被测芯片接受数据的时间为t2,则芯片的响应时间为t＝t2'-t1'。芯片响应时间的测试分权设置：根据电力业务的国密算法计算应用频率，设置不同的算法权重，本专利技术中设置SM1/SM4算法的运算权重为5，SM2算法的运算权重为3，SM3算法的运算权重为4，则三种算法的权重比例分别为5/3+4+5＝0.42、3/3+4+5＝0.25、4/3+4+5＝0.33，权重值为根据电力业务的密码算法应用的经验取值。本专利技术中测试数据组合为随机产生的10组需要密码算法运算的数据值，围绕所测得的十组数据结果进行统计分类，将十个响应时间结果进行分析统计，在统计中去掉无效数值，无效数值指偏离大部分数据区间的数据。将测试结果数据结合权重比例进行平均值计算，若十组数据均为有效数值，如下表所示：SM1/SM4算法SM2算法SM3算法测试次数334权重值0.420.250.33芯片响应时间值T1、T2、T3T4、T5、T6T7、T8、T9、T0则芯片响应时间为：[(T1+本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法，所述方法包括：/n获取电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；/n针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；/n根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间，确定每组测试数据的响应时间；/n根据每组测试数据的响应时间及权重比例，确定电力芯片的响应时间。/n

【技术特征摘要】
1.一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法，所述方法包括：
获取电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；
针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；
根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间，确定每组测试数据的响应时间；
根据每组测试数据的响应时间及权重比例，确定电力芯片的响应时间。


2.根据权利要求1所述的方法，所述测试数据的响应时间为发送测试数据的时间与接收反馈数据的时间的差值。


3.根据权利要求1所述的方法，所述测试数据通过c语言编写的软件生成并发送。


4.根据权利要求3所述的方法，所述c语言编写的软件通过SPI通讯总线连接电力芯片。


5.根据权利要求1所述的方法，所述方法，还包括：去除确定的每组测试数据的响应时间中的无效数据；
所述无效数据为偏离数据区间的数据。


6.一种适用...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹永峰，翟峰，赵兵，许海清，赵东艳，梁晓兵，原义栋，付义伦，王楠，李保丰，许斌，孔令达，徐萌，李奇，董之微，朱钰，于同伟，卢岩，刘鹰，冯云，岑炜，张庚，袁泉，冯占成，任博，周琪，卢艳，韩文博，郑旖旎，
申请(专利权)人：中国电力科学研究院有限公司，国家电网有限公司，国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院，北京智芯微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11