容性的图像测定方法技术

技术编号:2935182 阅读:258 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
采用网格状布置的导体表面来进行容性的图像测定,其中,在为测量而设的导体(2)之间总是采用了屏蔽导体(8)。在多个充电和放电周期内,为避免屏蔽电容之间的位移电流,属于各个像点的导体上的电位总是相跟随的。为使该导体上的电位产生同等的变化,譬如可以采用带有反馈运算放大器(9,10)的补偿线路。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种,它尤其适用于借助容性测量的传感器来测定指印。在容性的表面传感器中,譬如在指印传感器中,待测物体(例如手指的表面)和传感器之间的间距是通过导体表面(衬垫)较小的网格状装置来测量的。在指印传感器的情况下,该导体表面非常小,其尺寸约为50μm至100μm。譬如,在ISSCC97中由M.Tartagni和R.Guerrieri所著的简要论文“基于反馈容性检测方案的390dpi活性指印成像器(A 390dpi Live Fingerprint Imager Based on FeedbackCapacitive Sensing Scheme)”的第154、155和402页曾讲述过这类容性测量的指印传感器。由于相对于被测物体的电容很小,所以,譬如相对于相邻导体或相对于相关传感器的载体的寄生电容会对测试结果产生干扰作用。为了能够把小的测试信号同较大的干扰信号分离开来,需要有灵敏的放大器。包含在放大信号中的干扰信号可以直接用测试技术进行抑制,或在AD转换后通过对获取的信号进行数字处理来抑制。该措施费用较高,而且需要较高的精确度。本专利技术的任务在于,给出一种,它尤其适用于测本文档来自技高网...

【技术保护点】
容性的图像测定方法,其中:a)需要以图像形式测定的平面(1)被分解成网格状的像点,所述像点分配有一种导电体装置,对于每个像点,所述导电体至少包括一个测试导体(2)和一个屏蔽导体(7,8),b)需要以图像形式测定的平面(1)被放置在测 试导体(2)的对面,这样,在像点和测试导体(2)之间总存在一个取决于相关像点的电容,c)在每个像点处,测试导体(2)和屏蔽导体(7,8)总是与同一个电位相接,然后又分开,d)在每个像点处,测试导体(2)和/或屏蔽导体(7,8)上的电 荷被放电到相应的积聚电容(Cs)上,其中,同时对测试导体(2)和屏蔽导体(7,8)之间产生的电位差进行补...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:PW冯巴瑟J维勒尔T谢特尔S马克斯泰纳
申请(专利权)人:因芬尼昂技术股份公司
类型:发明
国别省市:DE[德国]

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