用于在参考校准目标中设置校准补片的方法技术

技术编号:2934938 阅读:175 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种用于在照相元件上定位参考校准补片的方法,包括以下步骤:对所述照相元件曝光形成参考校准目标的潜影图像,所述参考校准目标具有二维的条形码符号和参考校准补片,所述二维条形码符号具有指示特征,所述参考校准补片和所述二维条形码符号的指示特征具有已知的空间关系;处理所述照相元件,使得由潜影图像形成密的图像;扫描所述密的图像而形成数字图像;在数字图像中定位所述二维条形码符号的指示器特征,并在数字图像中相对于指示器特征定位所述参考校准补片。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及摄影术,尤其涉及具有参考校准补片和数据的照相元件。
技术介绍
在本领域中已知在光学印刷期间使用参考校准补片在胶片上曝光能够实现较好的曝光控制。例如见1998,6,16公布的Terashita的美国专利5767983。还表明使用参考校准补片在数字印刷中确定扫描胶片数据的校正值是有用的。例如见1997,9,16公布的Reem等人的美国专利5667944,以及1997,7,15公布的Wheeler等人的美国专利5649260。还已知在胶片的边沿上提供关于胶片类型和帧数的条形码供洗印时使用。在这些校准处理中使用的参考校准补片可以是无色的、有色的,或者是无色和有色的任意组合。无色的补片通过使用大致相等的红绿蓝光化学曝光产生。不幸的是,在数字图像中,产生相对于其背景具有低的对比度的参考校准补片,例如在彩色负胶片上的孤立的低曝光区域显影时获得的参考校准补片的曝光难于以足够的精度确定。根据应用,在工业中使用许多类型的扫描仪以获得数字图像。扫描仪可以使用点检测器,以便从通常是小的一个图像区域每次同时获得一个象素的数据,并通过在检测器和图像之间的二维的相对运动,累加为一个完整的图像。扫描仪可以使用直线阵列检测器,用于每次获得由象素构成的完整的直线,通过在检测器和图像之间的一维的相对运动,便累加为二维的图像。扫描仪可以使用面积阵列检测器直接获得二维图像。用于向扫描仪输送照相元件的输送机构可以是许多类型中的一种或几种,包括手力推进或定位机构,托架推进机构,或高速连续进给机构。由于对准、放大、输送速度等的偏差,每类扫描仪检测器和输送机构可以引起数字图像相对物理图像的位置和几何形状的变化。所有这些变化使得补片的定位更加困难。用于解决定位参考校准补片的问题的一种方案是在照相元件上附加印制能够容易识别的和能够定位的特征,也叫做基准标记。见1993,3,30公布的Walker等人的美国专利5198907,其中披露了印制一种L型的注册标记,其相对于在扫描仪的校准原物中的曝光区域具有一个确定的长度。印制这种基准标记的一个问题是,其中需要曝光装置,并占据照相元件上的一个可观的面积,所述面积最好用于附加的参考感光补片或其它数据。因而需要提供一种改进的用于在照相元件上定位感光补片的方法。
技术实现思路
上述需要被本专利技术满足了,本专利技术提供一种用于在照相元件上定位校准补片的方法,包括以下步骤对所述照相元件曝光形成参考校准目标的潜影图像,所述参考校准目标具有二维的条形码符号和参考校准补片,所述二维条形码符号具有指示特征,所述参考校准补片和所述二维条形码符号的指示特征具有已知的空间关系;处理所述照相元件,使得由潜影图像形成密的图像;扫描所述密的图像而形成数字图像;在数字图像中定位所述二维条形码符号的指示器特征,并在数字图像中相对于指示器特征定位所述参考校准补片。本专利技术的方法的优点在于,基准标记不占据照相元件上的额外的面积,从而优化可用面积的使用,因为标准的二维条形码符号已经包括使得能够读出所述条形码的指示特征。因而,这些指示特征可以按照本专利技术用于定位参考校准补片。附图简介附图说明图1是具有按照本专利技术的参考校准目标的照相元件的示意图;图2是具有用于确定一个以上的点的指示特征的二维条形码符号的示意图;图3是具有用于确定中心点的指示特征的二维条形码符号的示意图;图4是说明本专利技术的方法的流程图。专利技术的具体实施例方式使用由任何曝光调制装置提供的曝光在照相元件上形成参考校准补片的阵列,其中最好使用光源,集成室和具有用于确定曝光的衰减光纤的滤光器阵列和含有镜头阵列和视场光阑的成像头,每个光纤曝光一个参考校准补片,如Bigelow等人的美国专利09/635389所述。在阵列中的参考校准补片的数量取决于应用。对于APS照相胶片,最好取23个补片。照相元件至少包括基体,其具有感光层,用于感光而形成可以显影的潜影图像。感光层可以包含常规的卤化银或其它的感光材料,例如可以进行热和压力显影的化学物质。可以具有透明的基体,反射的基体,或者具有磁敏感涂层的基体。照相元件可以通过标准的化学处理进行处理,其中包括但不限于柯达处理C-41及其变种,ECN-2,VNF-1,ECP-2及其变种,D-96,D-97,E-4,E-6,K-14,R-3和RA-2SM,或RA-4;富士处理CN-16及其变种,CR-6,CP-43FA,CP-47L,CP-48S,RP-305,RA-4RT;爱克发MSC 100/101/200胶片和纸处理,爱克发彩色处理70,71,72和94,爱克发铬处理44NP和63;以及柯尼卡处理CNK-4,CPK-2-22,DP,和CRK-2,以及柯尼卡ECOJETHQA-N,HQA-F HQA-P处理。照相元件可以使用另外的方法处理,例如显式干处理,其可以在元件中保留一些或保留所有的显影的银或银的卤化物,或者它们可以包括被添加的一层或者数量合适的水,用于泡涨照相元件。根据照相元件的设计,照相元件也可以使用干处理进行处理,其中可以包括热处理或高压处理。所述处理也可以包括显式干处理、干处理和传统湿处理的组合。合适的其它处理和干处理包括在以下的专利文献中披露的处理2000,6,3,Levy,US 60/211058;2000,6,3,Irving,60/211446;2000,6,3,Irving,60/21 1065;2000,6,3,Irving,60/211079;EP0762201A1,1997,3,12,Ishikawa;EP0926550A1,1998,12,12,Iwai;US5832328,1998,11,3,Ueda;US5758223,1998,5,26,Kobayashi;US5698382,1997,12,16,Nakahanada;US5519510,1996,5,21,Edgar;US5988896,1999,11,23,Edgar。注意在由Edgar披露的处理中,图像的显影和扫描同时发生。因而,本专利技术的意图是,任何显影和扫描步骤可以同时进行。正如在同时待审的Keech等人的美国专利申请09/635600中披露的,和在照相元件上的曝光的参考校准补片一道存储校准数据有助于校准处理。这种数据最好使用利用光学方法印制在照相元件上的二维条形码符号被存储。条形码数据和参考校准补片被统称为参考校准目标。通过在标准的图像帧中设置参考校准目标,如同同时待审的Keech等人的美国专利申请09/635496中披露的,可以使用标准的洗印胶片扫描设备获得目标的数字图像。所述扫描设备可以使用点传感器、线传感器或阵列传感器,如上所述。使用二维条形码符号存储数据在现有技术中是公知的,国家和国际标准组织已经把许多这种符号标准化。例如,在美国专利4939354,1990,7,3,Priddy中披露的Data Matrix象征方法,其主题便是ANSI/AIM BC-1 1-1997和ISO/IEC 160222000标准。作为第二个例子,MaxiCode象征方法,其在美国专利4874936,1989,10,17,Chandler中披露了,该专利的主题便是ANSI/AIM BC-10-1997和ISO/IEC160232000标准。作为第三个例子,AztecCode象本文档来自技高网
...

【技术保护点】
一种照相元件,包括:a) 基体;b) 在所述基体上的感光层;以及c) 在参考校准目标的光敏层内的潜影图像,所述参考校准目标具有参考校准补片和二维条形码符号,所述二维条形码符号具有指示特征,在所述参考校准补片和二维条形码符号的指示 特征之间具有已知的空间关系。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:JT基奇JP斯彭斯
申请(专利权)人:伊斯曼柯达公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术
  • 暂无相关专利