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一种用于k近邻分类的线性特征提取方法技术

技术编号:2926864 阅读:250 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术属于统计模式识别与机器学习技术领域,具体为一种用于k近邻分类的线性特征提取方法。本发明专利技术提出多类数据点在局部引力和局部斥力的作用下形成一个邻接图模型以及表示该图模型的鉴别邻接矩阵。从目标函数导出一个非半正定的对称矩阵,对该矩阵进行谱分析可知,将数据映射到由这个矩阵负特征值对应的特征向量张成的空间中去时,近邻分类的准确率能达到最大。本方法通过谱分析来确定适合于分类的新空间的最佳维数,而不是如已有方法那样只能在实验中不断调试得到。而且,该方法还具有非参数、非迭代、避免局部小、避免奇异矩阵等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于统计模式识别与机器学习
,具体涉及。
技术介绍
模式分类是机器学习领域最基本的研究任务之一。在实际问题中,各模式的每一维都是该模式的一个特征。由于通常不知道哪些特征对分类是有效的,因此通常是尽可能多地采集数据特征,然后交给分类器去判断。因此,表征模式的特征通常是高维的。高维的模式特征通常带来两方面的问题1)计算和存储代价较高,2)维数灾难问题。维数灾难问题是许多模式识别方法在实际应用中面临的主要问题,如人脸识别、图像分类和文本处理等。当样本量有限而特征维数很高时,维数灾难问题就会凸现,它直接导致分类器性能的下降。特征提取就是研究如何从现有的特征中提取出有效特征,同时把数据从高维空间映射到低维空间。映射可以是线性或非线性的。由于线性特征提取方法的简单有效性,它广泛应用于机器学习和模式识别的各个领域。 当前,已提出了很多线性特征提取方法,主要的有 文将主分量分析运用于人脸识别,提出了特征脸方法。主分量分析寻找在最小均方意义下最能代表原始数据的投影,将高维人脸图像用低维特征系数表示。主分量分析是以信号表示为目的的特征提取,不需要类标号信息,属于无监督的特本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于k近邻分类的线性特征提供方法,设X=[x↓[1],x↓[2],…,x↓[n]]为原空间R↑[D]中的n个样本,要寻找一个线性映射P,使X在该线性映射下得到的新空间中,同类近邻点之间尽可能的近,异类近邻点之间尽可能的远:    [x↓[1],x↓[2],…,x↓[n]]*[P↑[T]x↓[1],P↑[T]x↓[2],…,P↑[T]x↓[n]]  (1)    同类近邻点之间的紧度定义为:    △=*‖P↑[T]x↓[i]-P↑[T]x↓[j]‖↑[2]    (x↓[i]∈Neig↑[I](j)∨x↓[j]∈Neig↑[I](i))  (2)    其中Neig↑[I](i)表示点x↓...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张巍薛向阳孙子晨郭跃飞
申请(专利权)人:复旦大学
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]

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