射线探伤曝光参数仪制造技术

本实用新型专利技术涉及射线探伤仪，尤其是涉及射线探伤曝光参数仪，包括机壳、电源与电路板，其特征在于：其电路板电路由一单板机、连接该单板机数据输入脚的一键盘编码电路、连接该键盘编码电路输入脚的一键盘和连接该单板机数据输出脚的一显示器组成。本实用新型专利技术的有益效果是可以准确地得到探伤钢材缝熔化焊对接接头的曝光参数，满足底片显影时间的要求，得到清晰的底片，提高对金属焊缝的探伤准确件。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及射线探伤仪，尤其是涉及射线探伤曝光参数仪。
技术介绍
我国国家标准GB/T12605-90《钢管环缝熔化焊对接接头上下透照工艺和质量分级》中第9.2款规定黑度底片有效检出范围内的焊缝成象区黑度范围应为1.5-3.5(包括固有灰雾度)。目前，由于对探伤曝光参数选值不精确，难以达到国家标准中的黑度要求.不能准确反映被测钢材(板材与管材)焊缝熔化焊对接接头情况。探伤曝光参数是指根据被测钢材厚度和射线机与被测钢材的距离而制定的相应射线机管电压与曝光时间。即管电压的大小与曝光时间的长短，随着被测钢材厚度和射线机与被测钢材的距离而变。至今尚无该参数仪。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术中存在的上述问题，提供一种射线探伤曝光参数仪。本技术的技术方案是以射线源的有效焦点尺寸和钢材表面至胶片的距离，确定射线源至钢材表面的最小距离。我们将焦距300-1000mm、曝光时间1min-5min、钢材电压110Kv-400Kv、钢材厚度5mm-80mm的探伤曝光时间曲线关系数值，通过计算机编制程序，下载到单板机，通过键盘输入查询数据，选择查询方案，经过单板机计算后，得到适合的曝光时间值，通过液晶屏显示输出。其仪器包括机壳、电源与电路板，其特征在于其电路板电路由一单板机、连接该单板机数据输入脚的一键盘编码电路、连接该键盘编码电路输入脚的一键盘和连接该单板机数据输出脚的一显示器组成。本技术的有益效果是可以准确地得到探伤钢材缝熔化焊对接接头的曝光参数，满足底片显影时间的要求，得到清晰的底片，提高对金属焊缝的探伤准确性。附图说明图1为本技术电路框图；图2为图1的具体电路图；图3为图1的键盘示意图；图4为图2的工作流程图。具体实施方式见图1与图2可知本技术的一具体电路。其电路板上的单板机U1为W78LE516(内置64KFLASHROM)，键盘编码电路U2为IC74148，键盘U3为上、下、左、右方向键、管材键、板材键、设定和确定键的8个触摸键，显示器4为12864E-602液晶显示屏，与非门为74HC00，用于产生液晶屏的使能信号(E)。电阻为10只10K欧(0805贴片封装)，1只1K欧，电容为1只22UF，13只0.01UF(0805贴片封装)，1只30PF(0805贴片封装)，电源U5可为两节1.5v电池。其特征在于可由W78LE516(内置64KFLASHROM)的输入脚P1口的P1.1、P1.2和P1.3连接键盘编码电路U2-74148的输出脚GS-Group Selection(信息群选择)，GS信号作为U1的外部中断的请求信号，键盘编码电路U274148的输入脚连接触摸键盘U3的上、下、左、右方向键、管材键、板材键、设定和确定键，U1-W78LE516输出脚PO接液晶显示屏U3-HY-12864E-602数据线P20-RS(复位)、P21-R/W(读/写)、P22-CSA(Chip Slection A-片选A)、P23-CSB(ChipSlection B-片选B)、P24-LIGHT(灯)和两节1.5v电池组成。其触摸键盘有9个引脚，为独立式剪片，其中1-8脚代表键盘按键信号，第9脚为接地，将1-8脚接至74HC148的8个输入端，并且这8个输入端上拉，即在没有按键的时候，输入的全为高电平，哪个输入端变为低电平即表示哪个按键被按下。74HC148的输出端接至单板机(W78LE516)P1口的P1.1，P1.2，P1.3，GS引脚接到单板机(W78LE516)的INT0引脚。当有按键按下时，74HC148的GS引脚变为低电平，向单板机(W78LE516)发出中断请求。在中断处理程序中从P1口即可读入键盘编码。HY-12864E-602液晶显示屏的使能信号由单板机的读和写信号产生，单板机U1-W78LE516的读写信号经过74HC00或非处理后接至液晶屏的使能(E)，即 (前两个个引脚是W78LE516的，后一个引脚是LCD的。触摸键盘有9个引脚，为独立式剪片，其中1-8脚代表键盘按键信号，9脚为接地，将1-8脚接至74HC148的8个输入端，并且这8个输入端上拉，即在没有按键的时候，输入的全为高电平，哪个输入端变为低电平即表示哪个按键被按下。74HC148的输出端接至单板机(W78LE516)P1口的P1.1，P1.2，P1.3，GS引脚接到单板机(W78LE516)的INT0引脚。当有按键按下时，74HC148的GS引脚变为低电平，向单板机(W78LE516)发出中断请求。在中断处理程序中从P1口即可读入键盘编码。液晶屏的D0-D7引脚接至单板机的P0口，控制信号接至P2口，巧妙的利用地址指令输出控制信号。其控制线分别连接。键盘通过74HC148进行编码，并向单板机(W78LE516)进行中断请求，单片机响应中断，读入数据，并识别出用户所需要查询的参数，然后计算并查询表格得出正确参数，显示输出用户输入数据后，根据不同的查询请求，单板机(W78LE516)进行计算，并查询其内置FLASHROM中的数据。流程开机→默认查询→有无键查询→无→自动关机30秒→有→是板材吗→否→算出壁厚；是→从EEPROM中查询其电压与曝光时间→显示。权利要求1.一种射线探伤曝光参数仪，包括机壳、电源与电路板，其特征在于其电路板电路由一单板机、连接该单板机数据输入脚的一键盘编码电路、连接该键盘编码电路输入脚的一键盘和连接该单板机数据输出脚的一显示器组成。2.根据权利要求1所述的一种射线探伤曝光参数仪，其特征在于可由内置64KFASHROM的单板机(U1W78LE516)的输入脚(P1写口的P1.1、P1.2和P1.3)连接键盘编码电路(U2-74148)的输出脚GS-Group Selection-信息群选择，键盘编码电路(U2-74148)的输入脚连接触摸键盘(U3)的上、下、左、右方向健、管材键、板材键、设定键、设定和确定键，(U1W78LE516)的输出脚(P0)接液晶显示屏(U3)HY-12864E-602数据线(P20-RS)复位、(P21-R/W)读/写、(P22CSA)Chip Selection A-片选A、(P23-CSB)ChipSelection B-片选B、(P24)Light-灯和两节1.5V电池组成。专利摘要本技术涉及射线探伤仪，尤其是涉及射线探伤曝光参数仪，包括机壳、电源与电路板，其特征在于其电路板电路由一单板机、连接该单板机数据输入脚的一键盘编码电路、连接该键盘编码电路输入脚的一键盘和连接该单板机数据输出脚的一显示器组成。本技术的有益效果是可以准确地得到探伤钢材缝熔化焊对接接头的曝光参数，满足底片显影时间的要求，得到清晰的底片，提高对金属焊缝的探伤准确件。文档编号G06F17/00GK2786622SQ20052002521公开日2006年6月7日 申请日期2005年1月28日 优先权日2005年1月28日专利技术者常福春 申请人:常福春本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种射线探伤曝光参数仪，包括机壳、电源与电路板，其特征在于：其电路板电路由一单板机、连接该单板机数据输入脚的一键盘编码电路、连接该键盘编码电路输入脚的一键盘和连接该单板机数据输出脚的一显示器组成。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：常福春，
申请(专利权)人：常福春，
类型：实用新型
国别省市：12[中国|天津]