用于检测可移动物体的移动的检测电路制造技术

用于检测可移动物体（２）如操纵杆的移动的检测电路（１）设有检测器（１００，２００），用于检测可移动物体（２）的移动。检测器（１００，２００）包括检测单元（１０１－１３６，２０１－２０４），用于检测来自源（４）的光点（３），光点（３）取决于这些移动。检测电路（１）还设有参考检测器（３００）用于补偿老化变化／过程变化，参考检测器（３００）包括参考检测单元（３０１－３０４），用于标定检测单元（１０１－１３６，２０１－２０４）。这种检测电路（１）在较小的程度上遭受老化变化／过程变化。用于检测Ｘ或Ｙ移动的第一检测器（１００）部分地位于依赖于这些操纵杆的位置的光点（３）内，而参考检测器（３００）则完全地位于独立于这些操纵杆的位置的光点（３）内。用于检测Ｚ移动的第二检测器（２００）完全地位于独立于这些操纵杆的位置的光点（３）内，而参考检测器（３００）则完全地位于独立于这些操纵杆的位置的光点（３）之外。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于检测可移动物体的移动的检测电路，并且还涉及一种检测装置、一种设备和一种方法。这种可移动物体的实例有操纵杆和多功能按键，且这种设备的实例有消费性产品和非消费性产品，但并不排除其它实例，消费性产品如移动电话、个人电脑、个人数字助理和遥控装置。
技术介绍
可从US 6,326,948获知现有技术中的检测装置，该专利公开了一种输入设备，这种输入设备包括带有滑动表面的底座、可在该滑动表面上滑动的可移动体、用于发光的发光元件、反射部分和多个光接收元件，提供这种反射部分用于可移动体并具有用于反射由该发光元件发射的光的反射表面，且多个光接收元件用于接收由该反射部分反射的光。在现有技术的检测装置中，通过对由多个光接收元件所接收的光的量进行比较来检测水平移动。通过对由多个光接收元件所接收的光的总量进行检测来检测竖向移动。此外，由于光来源于可能遭受老化的光发射元件，所以公知的检测装置存在缺陷。因此，现有技术的检测装置在较大程度上遭受老化。
技术实现思路
本专利技术的目的尤其在于提供一种检测电路，这种检测电路在较小程度上遭受老化。此外，本专利技术的其它目的在于提供一种在较小程度上遭受老化的检测装置、设备和方法。根据本专利技术的用于检测可移动物体的移动的检测电路包括：检测器，用于检测可移动物体的移动，该检测器包括检测单元，用于检测位于该检测单元的位置处的来源于源的光点，位于该位置处的光点取决于所述移动；以及-->参考检测器，用于补偿老化变化和/或过程变化，参考检测器包括参考检测单元，参考检测单元用于标定检测单元。通过总体上引入用于补偿老化变化和/或过程变化的参考检测器，根据本专利技术的检测电路在较小的程度上遭受老化变化和/或过程变化。这种参考检测器包括参考检测单元，用于标定检测单元。例如，该源可能遭受老化，又例如，该源和/或检测单元可能遭受过程变化。所有这些遭受的影响均被本专利技术所补偿。此外，根据本专利技术的检测电路还具有其它优点，其中，这种检测电路在较长时间周期内具有提高的可靠性。根据本专利技术的检测电路的一种实施例由检测器来限定。所述检测器包括第一检测器，所述第一检测器用于检测所述可移动物体在检测电路的平面内的第一方向的第一移动，所述检测单元包括第一检测单元，所述第一检测单元用于检测在所述第一检测单元的位置处的光点的存在或缺失，所述光点的位置取决于所述第一移动。在检测电路的平面是水平平面的情形中，第一方向例如是X或Y方向，但并不排除其它选择。根据本专利技术的检测电路的实施例由第一检测器和参考检测器来限定。第一检测器部分地位于依赖于可移动物体的位置的光点内，而参考检测器则完全地位于独立于可移动物体的位置的光点内。光点的大小优选为使得参考检测器的所有参考检测单元均位于独立于可移动物体的位置的光点内，并且光点的大小优选为使得第一检测器的所有第一检测单元部分地位于这一光点内且部分地位于依赖于可移动物体的位置的光点之外。可移动物体的位置决定了在检测电路处的光点的位置。根据本专利技术的检测电路的实施例由检测器所限定，该检测器包括第二检测器，这种第二检测器用于检测可移动物体沿第二方向的第二移动，该第二方向垂直于该检测电路的平面，该光点的强度取决于该第二移动。检测单元包括第二检测单元，该第二检测单元用于检测在该第二检测单元的位置处的光点的第一强度或第二强度，第一强度和第二强度是不等于零的不同强度。在检测电路的平面是水平平面的情形中，第二方向例如是Z方向，但并不排除其它选择。根据本专利技术的检测电路的实施例由完全位于独立于可移动物体的-->位置的光点内的第二检测器和完全位于独立于可移动物体的位置的光点之外的参考检测器来限定。优选光点的大小使参考检测器的所有参考检测单元位于独立于可移动物体的位置的光点之外，且优选第二检测器的所有第二检测单元位于独立于可移动物体的位置的光点内。同样，可移动物体的位置确定光点在检测电路处的位置。因此，用于标定第一检测单元的一个或多个参考检测单元将具有不同于用于标定第二检测单元的一个或多个参考检测单元的位置。多个第一检测单元允许在第一方向(诸如x方向和y方向)的移动被更加精确地检测。例如，多个第一检测单元是交叉线，且第二检测单元位于交叉点处或接近于交叉点，或多个第二检测单元位于交叉点附近、位于一条或多条交叉线或接近于这些交叉线。用于标定第一检测单元的一个或多个参考检测单元也将会接近于交叉点，且用于标定第二检测单元的一个或多个参考检测单元可位于交叉区域之外。将根据本专利技术的检测电路的实施例限定为还包括：用于生成光信号的源，可移动物体包括用于将这种光信号反射到检测电路的反射体，光点从这种反射的光信号产生。通过将源(如发光源或红外发光热源)定位于检测电路内并通过向可移动物体提供反射体，就不再有必要不利地将源定位于可移动物体内。根据本专利技术的检测电路的一种实施例由包括用于生成光电元信号的光电元的检测单元和包括用于生成参考光电元信号的参考光电元的参考检测单元来限定，其中，用于生成光电元信号的光电元耦合到用于将光电元信号数字化的晶体管，参考光电元与被耦合到该晶体管的参考晶体管耦合。通过在这些光电元之后立即将这些光电元信号数字化，就可避免复杂而昂贵的模数转换器和放大器，这些光电元如光电二极管或晶体管。参考光电元信号例如包括通过包含这些已耦合的晶体管的镜像构件而被复制到该光电元及其晶体管的电流。根据本专利技术的检测电路的实施例由检测电路限定，这种检测电路是一种集成检测电路，这种集成检测电路以薄膜多晶硅技术、单晶硅衬底技术、发光二极管技术和有机发光二极管技术中的至少一种技术为基础。这种集成电路可有利地包括这些光电元、这些晶体管和这种源，以形成一种稳健的电路。-->根据本专利技术的检测装置包括根据本专利技术的检测电路，并且还包括该可移动物体。根据本专利技术的检测电路的实施例由倾斜可移动物体或由向下推动可移动物体导致的可移动物体的移动来限定。该倾斜将由第一检测单元来检测，该向下推动将由第二检测单元来检测。倾斜和向下推动均为用户友好的移动。根据本专利技术的设备包括根据本专利技术的检测电路，并且还包括人机界面，这种人机界面包括该可移动物体。根据本专利技术的设备的实施例由还包括显示器的人机界面所限定，这种显示器是一种包括该检测电路的集成显示器。优选地，可移动物体位于集成显示器的显示区域的边际上。这样可移动物体就形成如这种显示器的一部分且不必单独构建，这就使制造更加容易且成本更低。根据本专利技术的检测装置的实施例、根据本专利技术的设备的实施例和根据本专利技术的方法的实施例对应于根据本专利技术的检测电路的实施例。本专利技术尤其以一种见解为基础，即发光元件和检测元件可遭受老化变化和/或过程变化，而且，特别地，本专利技术还以一种基本理念为基础，即将不同类型的检测器用于检测不同类型的移动。此外，本专利技术还提供一种检测电路以解决问题，这种检测电路在较小程度遭受老化。此外，根据本专利技术的检测电路还具有其它优点，其中，这种检测电路在较长时间周期内具有提高的可靠性。参考下面所描述的实施例就会明白本专利技术的这些和其它方面，并参考下面所描述的实施例说明本专利技术的这些和其它方面。附图说明在图中：图1示意性地示出了根据本专利技术的检测装置的截面图，图2示出了检测电路的未移动的可移动物体(左侧)的截面图和已移动的可移动物体(右侧)的俯本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测可移动物体（２）的移动的检测电路（１），所述检测电路（１）包括：　检测器（１００，２００），用于检测可移动物体（２）的移动，该检测器（１００，２００）包括检测单元（１０１－１３６，２０１－２０４），用于检测位于该检测单元（１０１－１３６，２０１－２０４）的位置处的来源于源（４）的光点（３），位于该位置处的光点（３）取决于所述移动；以及　参考检测器（３００），用于补偿老化变化和／或过程变化，参考检测器（３００）包括参考检测单元（３０１－３０４），参考检测单元（３０１－３０４）用于标定该检测单元（１０１－１３６，２０１－２０４）。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】EP 2006-5-19 06114263.4;EP 2006-4-21 06112932.6;EP1.一种用于检测可移动物体(2)的移动的检测电路(1)，所述检测电路(1)包括：检测器(100，200)，用于检测可移动物体(2)的移动，该检测器(100，200)包括检测单元(101-136，201-204)，用于检测位于该检测单元(101-136，201-204)的位置处的来源于源(4)的光点(3)，位于该位置处的光点(3)取决于所述移动；以及参考检测器(300)，用于补偿老化变化和/或过程变化，参考检测器(300)包括参考检测单元(301-304)，参考检测单元(301-304)用于标定该检测单元(101-136，201-204)。2.如权利要求1所述的检测电路(1)，其特征在于：所述检测器(100，200)包括第一检测器(100)，所述第一检测器(100)用于检测所述可移动物体(2)在检测电路(1)的平面内的第一方向的第一移动，所述检测单元(101-136，201-204)包括第一检测单元(101-136)，所述第一检测单元(101-136)用于检测在所述第一检测单元(101-136)的位置处的光点(3)的存在或缺失，所述光点(3)的位置取决于所述第一移动。3.如权利要求2所述的检测电路(1)，其特征在于：所述第一检测器(100)部分地位于依赖于可移动物体(2)的位置的光点(3)内，而参考检测器(300)则完全地位于独立于可移动物体(2)的位置的光点(3)内。4.如权利要求1所述的检测电路(1)，其特征在于：所述检测器(100，200)包括第二检测器(200)，所述第二检测器(200)用于检测所述可移动物体(2)在第二方向的第二移动，所述第二方向垂直于所述检测电路(1)的平面，所述光点(3)的强度取决于所述第二移动，所述检测单元(101-136，201-204)包括第二检测单元(201-204)，所述第二检测单元(201-204)用于检测在所述第二检测单元(201-204)的位置处的所述光点(3)的第一强度或第二强度，所述第一强度和所述第二强度是不等于零的不同强度。。5.如权利要求4所述的检测电路(1)，其特征在于：所述第二检测器(200)完全位于独立于可...

【专利技术属性】
技术研发人员：K范莱，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]