本发明专利技术提供了一种用于电子装置的物体检测方法及装置，该方法包含有依序开启一第一光源、一第二光源及一第三光源，以分别发送一第一光波信号、一第二光波信号及一第三光波信号；依序接收由一物体反射的该第一光波信号、该第二光波信号及该第三光波信号，以分别判断该物体反射的该第一光波信号、该第二光波信号及该第三光波信号的强度；以及根据该第一光波信号及该第二光波信号的强度变化，判断该物体于一第一方向的一第一位移，并根据该第一光波信号及该第三光波信号的强度变化，判断该物体于一第二方向的一第二位移，其中，该第一方向与该第二方向垂直或接近垂直。本发明专利技术可以利用手势实现非接触式的操控。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术指一种物体检测方法及装置，尤指一种可用来检测使用者手势的物体检测 方法及装置。
技术介绍
随着科技的进步，遥控技术已成为人们生活中不可或缺的部分。现有的遥控 技术普遍用于家电用品（如电视、录像机、冷气机等）的遥控器，其主要是使用红外线 (In化ared，IR)作为通信媒介，使用者可操作遥控器上的按键，遥控器即可传送相对应的红 外线信号至家电用品，W控制家电用品执行相对应的操作。举例来说，通过电视机的遥控 器，使用者可执行开关机、选台、音量控制及选单控制等操作。 然而，在某些情况下，使用者可能因双手脏污或其它原因而不方便碰触遥控器上 的按键。此外，许多设置于公共场所的互动式显示器，不便提供遥控器及实体按键等接触式 控制功能。在此情况下，使用者只能选择通过手势来进行非接触式的操控。有鉴于此，实有 必要提出一种物体检测方法及装置，W实现非接触式的操控。
技术实现思路
因此，本专利技术的主要目的即在于提供一种物体检测方法及装置，其可通过检测使 用者的手势来进行电子装置的操作，W实现非接触式的操控。 本专利技术掲露一种物体检测方法，用于一电子装置，该物体检测方法包含有依序开 启一第一光源、一第二光源及一第Η光源，W分别发送一第一光波信号、一第二光波信号及 一第Η光波信号；依序接收由一物体反射的该第一光波信号、该第二光波信号及该第Η光 波信号，W分别判断该物体反射的该第一光波信号、该第二光波信号及该第Η光波信号的 强度；W及根据该物体反射的该第一光波信号及该第二光波信号的强度变化，判断该物体 于一第一方向的一第一位移，并根据该物体反射的该第一光波信号及该第Η光波信号的强 度变化，判断该物体于一第二方向的一第二位移，其中，该第一方向与该第二方向垂直或接 近垂直。 本专利技术还掲露一种物体检测方法，用于一电子装置，该物体检测方法包含有依序 开启一第一光源、一第二光源及一第Η光源，W分别发送一第一光波信号、一第二光波信号 及一第Η光波信号；通过一接收元件依序接收由一物体反射的该第一光波信号、该第二光 波信号及该第Η光波信号，W分别判断该物体反射的该第一光波信号、该第二光波信号及 该第Η光波信号的强度；根据该物体反射的该第一光波信号、该第二光波信号及该第Η光 波信号的强度，分别取得相对应的一第一距离、一第二距离及一第Η距离；根据该接收元件 的位置与该第一光源的位置，取得一第一球必的位置，根据该接收元件的位置与该第二光 源的位置，取得一第二球必的位置，并根据接收元件的位置与该第Η光源的位置，取得一第 Η球必的位置；W该第一球必为球必，该第一距离为半径，设定一第一半球面，W该第二球 必为球必，该第二距离为半径，设定一第二半球面，并W该第Η球必为球必，该第Η距离为 半径，设定一第Η半球面；W及判断该物体的所在位置为该第一半球面、该第二半球面及该 第Η半球面的交点。 本专利技术还掲露一种物体检测装置，其包含有一第一光源、一第二光源及一第Η光 源，分别用来发送一第一光波信号、一第二光波信号及一第Η光波信号；一接收元件，用来 接收由一物体反射的该第一光波信号、该第二光波信号及该第Η光波信号；一处理装置； W及一存储单元。该存储单元用来存储一程序代码，W指示该处理装置执行W下步骤：依序 开启该第一光源、该第二光源及该第Η光源，W依序发送该第一光波信号、该第二光波信号 及该第Η光波信号；根据由该接收元件所接收到的该第一光波信号、该第二光波信号及该 第Η光波信号，判断该物体反射的该第一光波信号、该第二光波信号及该第Η光波信号的 强度；W及根据该物体反射的该第一光波信号、该第二光波信号及该第Η光波信号的强度， 判断该物体的位移。 本专利技术提供一种物体检测方法及装置，用来检测物体的位置及移动方向，并借此 检测使用者的手势，进而根据手势判断使用者所执行的操作。在此情况下，使用者可在不需 要接触遥控器或电子装置的情况下，实现非接触式的操控。【附图说明】 图1为本专利技术实施例一物体检测装置的示意图。 图2为本专利技术实施例设置有物体检测装置的一电子装置的示意图。 图3为本专利技术实施例一流程的示意图。 图4为本专利技术实施例用来开启光源的控制信号的示意图。 图5为本专利技术实施例一物体反射光波信号的示意图。 图6为本专利技术实施例物体检测装置检测物体通过时反射的光波信号强度的波形 图。 图7为本专利技术实施例物体检测装置检测物体通过时反射的光波信号强度的波形 图。 图8为本专利技术实施例物体检测装置检测物体通过时反射的光波信号强度的波形 图。 图9为本专利技术实施例物体检测装置检测物体通过时反射的光波信号强度的波形 图。 图10为本专利技术实施例物体检测装置检测物体通过时反射的光波信号强度的波形 图。 图11为本专利技术实施例一流程的示意图。 图12为本专利技术实施例判断物体与物体检测装置之间的距离的示意图。 图13为本专利技术实施例处理装置判断物体所在位置的示意图。 图14为本专利技术实施例处理装置根据物体的坐标判断手势的示意图。 符号说明： 10物体检测装置102接收元件 104处理装置 106存储单元 108程序代码LSI~LS3 光源S1~S3光波信号20电子装置[003? 30 流程 300 ~308 步骤TH临界值TM_1~TM_3中间时间 化_义、化_7位移量 110 流程 1100 ~1114 步骤X物体 01 ~03 球必[00川 al、bl路径长度rl~r3 距离 服1~服3半球面【具体实施方式】 请参考图1，图1为本专利技术实施例一物体检测装置10的示意图。如图1所示，物体 检测装置10包含有光源LSI~LS3、一接收元件102、一处理装置104及一存储单元106。物 体检测装置10可设置于一电子装置，用来进行物体检测。电子装置可为一移动电话、一笔 记型电脑、一平板电脑、一电子书或一家电用品（如电视、显示器、录影机、冷气机等）。光源 LSI~LS3可分别用来发送光波信号S1~S3,接收元件102则用来接收一物体反射的光波 信号S1~S3。光波信号S1~S3可为红外线（In化ared，IR)信号，此时光源LSI~LS3可 分别为一红外线发射器，如红外线发光二极管（In化aredLi曲tEmittingDiode,IRL邸）， 而接收元件102可为一红外线接收器。在其它实施例中，光波信号SI~S3也可为其它波长 或类型的信号，只要该信号可通过外界物体反射来检测该物体的位置，其信号类型不应为 本专利技术的限制。光源LSI~LS3及接收元件102的设计也可根据不同类型的信号进行调整， 而不限于此。存储单元106可存储一程序代码108,程序代码108用来指示处理装置104执 行一物体检测方法。处理装置104包含但不限于中央处理器（CentralProcessing化it, CPU)、微处理器（microprocessor)及微控制器（MicroControlUnit,MCU)等。存储单 元106包含但不限于只读存储器巧eacH3nlyMemcxry，ROM)、快闪存储器（FlashMemcxry)、 随机存取存储器（Random-AccessMemo巧，RAM)、光碟只读存储器（CD-ROM/DVD-ROM)、磁 带（Ma即eticTape)、硬碟（HardDisk)及光学资料存本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种物体检测方法，用于一电子装置，其特征在于，该物体检测方法包含有：依序开启一第一光源、一第二光源及一第三光源，以分别发送一第一光波信号、一第二光波信号及一第三光波信号；依序接收由一物体反射的该第一光波信号、该第二光波信号及该第三光波信号，以分别判断该物体反射的该第一光波信号、该第二光波信号及该第三光波信号的强度；以及根据该物体反射的该第一光波信号及该第二光波信号的强度变化，判断该物体于一第一方向的一第一位移，并根据该物体反射的该第一光波信号及该第三光波信号的强度变化，判断该物体于一第二方向的一第二位移，其中，该第一方向与该第二方向垂直或接近垂直。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：沈自强，林慧珍，高盟超，
申请(专利权)人：纬创资通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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