显示面板和显示装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例提供了一种显示面板和显示装置，包括显示区和围绕所述显示区设置的边框区，将所述静电检测结构位于所述边框区，静电检测结构包括至少两条静电检测走线，所述至少两条静电检测走线在所述显示面板所在平面上的投影具有至少一个交点。通过如此设置静电检测结构，可以通过监测交点位置处是否存在静电击穿的现象，从而有效快速地锁定显示面板中静电电荷量积累的位置，即易发生ESD的位置，从而可以提升改善ESD问题的时效，进一步地，将静电检测结构设置在边框区，可以阻挡外部静电电荷入侵显示面板，起到静电防护作用。

【技术实现步骤摘要】
显示面板和显示装置
本技术涉及显示面板和显示装置，具体涉及显示

技术介绍
有机发光二极管(英文：OrganicLightEmittingDiode，简称：OLED)显示面板以其全固态、主动发光、高对比度、超薄、低功耗、响应速度快等诸多优点，逐渐成为目前显示领域极具前景的显示产品。现有显示面板的制造工艺中通常包含薄膜晶体管(英文：ThinFilmTransistor，简称：TFT)制程工艺。在TFT制程工艺中，静电释放(ESD)一直为影响产品良率的主要因素之一，如何防范ESD尤为重要。
技术实现思路
有鉴于此，本技术实施例致力于提供一种显示面板，能够有效监测静电释放的位置，进行静电防护。本技术实施例第一方面提供了一种显示面板，包括显示区和围绕所述显示区设置的边框区，还包括静电检测结构，所述静电检测结构位于所述边框区，包括至少两条静电检测走线，所述至少两条静电检测走线在所述显示面板所在平面上的正投影具有至少一个交点。在第一方面的一个可替换的实施例中，所述至少一个交点之间不重叠。在第一方面的一个可替换的实施例中，所述静电检测结构包括包括第一静电检测走线、第二静电检测走线和第三静电检测走线，所述第一静电检测走线、所述第二静电检测走线和所述第三静电检测走线中任意两条在所述显示面板所在平面上的正投影具有至少一个交点。在第一方面的一个可替换的实施例中，所述显示区中设置有阵列驱动层，所述阵列驱动层包括薄膜晶体管和电容层，所述第一静电检测走线与所述薄膜晶体管的栅极走线同层设置。在第一方面的一个可替换的实施例中，所述第一静电检测走线为直线。在第一方面的一个可替换的实施例中，所述电容层包括第一极板层和第二极板层，所述第二静电检测走线与所述第一极板层同层设置，所述第三静电检测走线与所述第二极板层同层设置。在第一方面的一个可替换的实施例中，所述第二静电检测走线和所述第三静电检测走线在所述显示面板所在平面上的正投影呈折线状。在第一方面的一个可替换的实施例中，其特征在于，所述至少一个交点中相邻所述交点之间距离在1～5μm。在第一方面的一个可替换的实施例中，还包括检测引脚，所述检测引脚与位于所述至少一个交点位置处的任意一条所述静电检测走线连接。本技术实施例的第二方面提供了一种显示装置，包括第一方面任一实施例所述的显示面板。本技术的有益效果包括：本技术提供了一种显示面板，包括显示区和围绕所述显示区设置的边框区，将所述静电检测结构位于所述边框区，静电检测结构包括至少两条静电检测走线，所述至少两条静电检测走线在所述显示面板所在平面上的投影具有至少一个交点。通过如此设置静电检测结构，可以通过监测交点位置处是否存在静电击穿的现象，从而有效快速地锁定显示面板中静电电荷量积累的位置，即易发生ESD的位置，从而可以提升改善ESD问题的时效，进一步地，将静电检测结构设置在边框区，可以阻挡外部静电电荷入侵显示面板，起到静电防护作用。附图说明一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。图1是根据本技术一实施方式提供的显示面板的结构示意图；图2是根据本技术一实施方式提供的静电检测结构在显示面板所在平面上的正投影的示意图；图3是根据本技术一实施方式提供的显示面板中薄膜晶体管的示意图。附图标记说明：10-显示区；20-边框区；3-静电检测结构；4-静电检测走线；30-交点；41-第一静电检测走线；42-第二静电检测走线；43-第三静电检测走线，50-衬底层，51-缓冲层，52-栅极绝缘层，53-第一绝缘层，54-栅极，55-源极，56-漏极，57-低温多晶硅层。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位，因此不能理解为对本技术的限制。此外，下面所描述的本技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。如
技术介绍
中所述，现有显示面板的制程工艺中ESD是影响产品良率的主要因素之一。专利技术人经过大量研究发现，在TFT制程工艺中玻璃基板与设备滚轮、平台等接触后易产生静电荷，静电荷在玻璃表面移动，遇到产品图形线路时积累聚集。当电荷量积累至静电击穿临界点时易发生ESD，从而损坏TFT图形结构，最终导致显示面板产品的显示异常，降低产品品质，甚至造成产品的报废。专利技术人进一步研究发现，为了改善ESD问题，需要锁定ESD出现位置，目前常用方式是通过显微镜进行多次查找，存在不易查找，影响ESD改善的时效等问题。针对上述问题，专利技术人创新性地提出了一种显示面板，通过设置具有至少两条静电检测走线的静电检测结构，静电检测走线在所述显示面板所在平面上的正投影具有至少一个交点，可以通过监测交点位置处是否存在静电击穿的现象，从而有效快速地锁定显示面板中静电释放的位置。下面结合附图对本技术的技术方案进行详细解释。图1是根据本技术第一方面一实施方式提供的显示面板的结构示意图。图2是根据本技术一实施方式提供的静电检测结构显示面板所在平面上的正投影的示意图。参考图1和图2，本技术实施例第一方面提供的一种显示面板，包括显示区10和围绕所述显示区10设置的边框区20。还包括静电检测结构3，所述静电检测结构3位于所述边框区20，包括至少两条静电检测走线4，所述至少两条静电检测走线4在所述显示面板所在平面上的正投影具有至少一个交点30。通过如此设置静电检测结构，即保证构成静电检测结构的静电检测走线之间在所述显示面板所在平面上的正投影具有至少一个交点，且只有交点存在，当显示面板中出现静电电荷量积累至静电击穿临界点时，易于在该交点位置处发生静电击穿现象。通过监测交点位置处是否存在静电击穿的现象，从而有效快速地锁定显示面板中静电电荷量积累的位置，即易发生ESD的位置，从而可以提升改善ESD问题的时效。进一步地，本实施方式中将静电检测结构设置在边框区，不仅可以快速锁定产生ESD问题的位置，该静电检测结构还可以阻挡外部静电电荷入侵显示面板，起到静电防护作用。在一种可替换的实施方式中，静电检测结构3可以包括两条静电检测走线4，两条静电检测线4在所述显示面板所在平面上的正投影可以具有一个交点30，两个交点30或者更多交点30。静电检测结构3也可以包括三条静电检测走线4本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板，包括显示区和围绕所述显示区设置的边框区，其特征在于，包括静电检测结构，所述静电检测结构位于所述边框区，包括至少两条静电检测走线，所述至少两条静电检测走线在所述显示面板所在平面上的正投影具有至少一个交点。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，包括显示区和围绕所述显示区设置的边框区，其特征在于，包括静电检测结构，所述静电检测结构位于所述边框区，包括至少两条静电检测走线，所述至少两条静电检测走线在所述显示面板所在平面上的正投影具有至少一个交点。


2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述至少一个交点之间不重叠。


3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述静电检测结构包括第一静电检测走线、第二静电检测走线和第三静电检测走线，所述第一静电检测走线、所述第二静电检测走线和所述第三静电检测走线中任意两条在所述显示面板所在平面上的正投影具有至少一个交点。


4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述显示区中设置有阵列驱动层，所述阵列驱动层包括薄膜晶体管和电容层，所述第一静电检测走线与所述薄膜晶体管的栅极走线同层设置。


5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘会双，宁鹏飞，
申请(专利权)人：云谷固安科技有限公司，
类型：新型
国别省市：河北;13