【技术实现步骤摘要】
一种Fuse阻抗检测电路和芯片
本技术属于芯片设计电路领域,更具体地说,涉及一种Fuse阻抗检测电路和芯片。
技术介绍
在芯片的设计过程中需要通过修正(trim)对电路的精度进行校正,trim方法分为eprom(可擦编程只读存储器、ErasableProgrammableReadOnlyMemory)、Fuse(熔线)两类,本技术针对的是Fuse类应用。由于Fuse在未烧断时电阻近似为短路,阻抗非常小,但其烧断后阻抗最大可到100G欧,但由于ATE(AutomaticTestEquipment,自动测试机)机台的寄生等原因,在芯片的批量生产中存在个别Fuse烧断后的阻抗在几十k欧到几M欧之间,传统的Fuse烧断结果检测电路如图1所示,当固定的电流流过Fuse产生特定的电压值,当Fuse未烧断时,该电压值低于特定的电压值;当Fuse烧断后阻抗足够大时,该电压值应高于特定的电压值。便于后续电路通过电压值判断Fuse是否有烧断。当固定的电流和Fuse烧断后的阻抗有较大偏差时,会导致后续电路不能正确判断Fuse是否有烧断。由 ...
【技术保护点】
1.一种Fuse阻抗检测电路,其特征在于:包括第一MOS管、第二MOS管、第三MOS管、第四MOS管、第五MOS管,第一电阻和第二电阻,其中,第一MOS管的源极与第二MOS管的源极相连,并与电源连接,第一MOS管的栅极与第二MOS管的栅极相连,第一MOS管的漏极与其栅极连接,第一MOS管的漏极连接第四MOS管的漏极,第三MOS管的漏极连接电源,第三MOS管的漏极与其栅极相连,第三MOS管的源极连接第一电阻的一端,第一电阻的另一端接地,第三MOS管的栅极与第四MOS管的栅极连接,第四MOS管的源极连接第二电阻的一端,第二电阻的另一端接地;第四MOS管的栅极还连接第五MOS管的 ...
【技术特征摘要】
1.一种Fuse阻抗检测电路,其特征在于:包括第一MOS管、第二MOS管、第三MOS管、第四MOS管、第五MOS管,第一电阻和第二电阻,其中,第一MOS管的源极与第二MOS管的源极相连,并与电源连接,第一MOS管的栅极与第二MOS管的栅极相连,第一MOS管的漏极与其栅极连接,第一MOS管的漏极连接第四MOS管的漏极,第三MOS管的漏极连接电源,第三MOS管的漏极与其栅极相连,第三MOS管的源极连接第一电阻的一端,第一电阻的另一端接地,第三MOS管的栅极与第四MOS管的栅极连接,第四MOS管的源极连接第二电阻的一端,第二电阻的另一端接地;第四MOS管的栅极还连接第五MOS管的栅极,第五MOS管的漏极连接第二MOS管的漏极,在第五MOS管的漏极和第二MOS管的漏极之间输出电压,第五...
【专利技术属性】
技术研发人员:鲍博,
申请(专利权)人:南京天之立科技有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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