一种模拟电路自校准系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种模拟电路自校准系统及方法，所述模拟电路自校准系统包括数字校准模块、检测模块和模拟电路模块，检测模块用于获取所述模拟电路模块当前的待校准参数，并根据当前的待校准参数输出检测信号至数字校准模块；数字校准模块用于输出与当前的待校准参数对应的校准值至所述模拟电路模块，并根据检测信号确定当前的待校准参数是否达到目标值，若否则根据所述检测信号调节所述校准值，直到当前的待校准参数达到目标值，通过所述检测模块对待校准参数的检测，确保了能够实时了解到当前的待校准参数的变化，之后根据检测的结果来校准待校准参数，能够确保即使在模拟电路模块的工作环境发生变化时模拟电路模块的参数的准确性。准确性。准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种模拟电路自校准系统及方法


[0001]本专利技术涉及集成电路
，特别涉及一种模拟电路自校准系统及方法。

技术介绍

[0002]在模拟电路中，电路参数会随着工艺和工作环境(电源电压，温度，湿度等)而变化，因此在实际使用中为了确保模拟电路的电路参数的准确性需要对电路参数进行校准；现有的校准方法中采用在出厂终测时进行校准，但是在出厂终测时进行校准只是工作时一个特例，该参数可能会随着工作环境的变化而变化，不能够根据需要随时校准。
[0003]因而现有技术还有待改进和提高。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供的一种模拟电路子校准系统及方法，能够有效解决现有的校准方法中不能够随着工作环境的改变而随时校准的问题。
[0005]为了达到上述目的，本专利技术采取了以下技术方案：
[0006]一种模拟电路自校准系统，包括数字校准模块、检测模块和模拟电路模块；
[0007]所述检测模块用于获取所述模拟电路模块当前的待校准参数，并根据当前的待校准参数输出检测信号至所述数字校准模块；
[0008]所述数字校准模块用于输出与当前的待校准参数对应的校准值至所述模拟电路模块，并根据检测信号确定当前的待校准参数是否达到目标值，若否则根据所述检测信号调节所述校准值，直到当前的待校准参数达到目标值。
[0009]所述的模拟电路自校准系统中，所述模拟电路模块包括M个子电路，M为不小于1的正整数；所述检测模块具体用于依次获取M个子电路的待校准参数，并根据当前子电路的待校准参数输出检测信号至所述数字校准模块。
[0010]所述的模拟电路自校准系统中，所述数字校准模块具体用于输出与当前子电路的待校准参数对应的校准值至当前子电路，并根据检测信号确定当前子电路的待校准参数是否达到目标值，若否，则根据所述检测信号调节所述校准值，直到当前子电路的待校准参数达到目标值。
[0011]所述的模拟电路自校准系统中，所述数字校准模块具体还用于在当前子电路的待校准参数达到目标值后，再对下一个子电路的待校准参数进行校准，直到M个子电路均校准完成。
[0012]所述的模拟电路自校准系统中，每个所述子电路设置有N个待校准参数，N为不小于1的正整数；所述检测模块具体用于依次获取每个子电路中的N个待校准参数，并根据当前子电路的当前待校准参数输出检测信号至所述数字校准模块。
[0013]所述的模拟电路自校准系统中，所述数字校准模块具体还用于在当前子电路的当前待校准参数达到目标值后，对当前子电路的下一个待校准参数进行校准，直到当前子电路的N个待校准值均校准完成。
[0014]所述的模拟电路自校准系统中，所述待校准参数为K阶参数，K为不小于1的正整数，所述模拟电路自校准系统还包括M*N～M*N*K个参数校准接口，每个所述参数校准接口用于传输与所述参数校准接口相应的校准值。所述的模拟电路自校准系统中，所述模拟电路自校准系统还包括M个校准使能接口，所述校准使能接口用于传输所述数字校准模块与各个所述子电路之间的校准使能信号。
[0015]一种模拟电路自校准方法，包括如下步骤：
[0016]由检测模块获取模拟电路模块当前的待校准参数，并根据当前的待校准参数输出检测信号至数字校准模块；
[0017]由数字校准模块输出与当前的待校准参数对应的校准值至所述模拟电路模块，并根据检测信号确定当前的待校准参数是否达到目标值，若否则根据所述检测信号调节所述校准值，直到当前的待校准参数达到目标值。
[0018]所述的模拟电路自校准系统中，所述模拟电路模块包括M个子电路，M为不小于1的正整数；所述由检测模块获取模拟电路模块当前的待校准参数的步骤包括：由检测模块依次获取M个子电路的待校准参数，并根据当前子电路的待校准参数输出检测信号至数字校准模块。
[0019]相较于现有技术，本专利技术提供了一种模拟电路自校准系统及方法，所述模拟电路自校准系统包括数字校准模块、检测模块和模拟电路模块，所述检测模块用于获取所述模拟电路模块当前的待校准参数，并根据当前的待校准参数输出检测信号至数字校准模块；所述数字校准模块用于输出与当前的待校准参数对应的校准值至所述模拟电路模块，并根据检测信号确定当前的待校准参数是否达到目标值，若否则根据所述检测信号调节所述校准值，直到当前的待校准参数达到目标值，通过所述检测模块对待校准参数的检测，确保了能够实时了解到当前的待校准参数的变化，之后根据检测的结果来校准待校准参数，能够确保即使在模拟电路模块的工作环境发生变化时模拟电路模块的参数的准确性。
附图说明
[0020]图1为本专利技术提供的模拟电路自校准系统的结构框图；
[0021]图2为本专利技术提供的模拟电路自校准系统中第一实施例的结构框图；
[0022]图3为本专利技术提供的模拟电路自校准系统中第二实施例的结构框图；
[0023]图4为本专利技术提供的模拟电路自校准方法的流程图。
具体实施方式
[0024]本专利技术的目的在于提供一种模拟电路自校准系统及方法，能够有效解决现有的校准方法中不能够随着工作环境的改变而随时校准的问题。
[0025]为使本专利技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本专利技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0026]请参阅图1，本专利技术提供的一种模拟电路自校准系统，包括数字校准模块10、检测模块20和模拟电路模块30，所述检测模块20分别与所述数字校准模块和模拟电路模块30连接，所述模拟电路模块30还与所述数字校准模块连接；所述检测模块20用于获取所述模拟
电路模块30当前的待校准参数，并根据当前的待校准参数输出检测信号至数字校准模块10；所述数字校准模块用于输出与当前的待校准参数对应的校准值至所述模拟电路模块30，并根据检测信号确定当前的待校准参数是否达到目标值，若否则根据所述检测信号调节所述校准值，直到当前的待校准参数达到目标值，由于有所述检测模块20对待校准参数的检测过程，确保了能够实时了解到当前的待校准参数的变化，之后根据检测的结果来校准待校准参数，能够确保即使在模拟电路模块30的工作环境发生变化时模拟电路模块30的参数的准确性。
[0027]具体来说，当所述数字校准模块接收到校准使能信号之后启动，所述数字校准模块启动之后使能所述模拟电路模块30进入校准状态，之后随着校准时钟的输入，所述检测模块20启动开始检测所述模拟电路模块30当前的待校准参数，将待校准参数与参考基准信号进行比较后输出一个检测信号至数字校准模块，与此同时数字校准模块会输出校准值至模拟电路模块30，以便于校准模拟电路模块30的待校准参数；需要说明的是本实施例中的所述参考基准信号可以是外部提供的精准的参考电压，也可以是模块电路模块30内部提供的参考电压，在实际校准过程中也可以不选用所述参考基准信号；当数字校准模块根据检测信号判断出待校准参数未能达到目标值时，则会调节输出的校准值的大小继续校准本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种模拟电路自校准系统，其特征在于，包括数字校准模块、检测模块和模拟电路模块；所述检测模块用于获取所述模拟电路模块当前的待校准参数，并根据当前的待校准参数输出检测信号至所述数字校准模块；所述数字校准模块用于输出与当前的待校准参数对应的校准值至所述模拟电路模块，并根据检测信号确定当前的待校准参数是否达到目标值，若否则根据所述检测信号调节所述校准值，直到当前的待校准参数达到目标值。2.根据权利要求1所述的模拟电路自校准系统，其特征在于，所述模拟电路模块包括M个子电路，M为不小于1的正整数；所述检测模块具体用于依次获取M个子电路的待校准参数，并根据当前子电路的待校准参数输出检测信号至所述数字校准模块。3.根据权利要求2所述的模拟电路自校准系统，其特征在于，所述数字校准模块具体用于输出与当前子电路的待校准参数对应的校准值至当前子电路，并根据检测信号确定当前子电路的待校准参数是否达到目标值，若否，则根据所述检测信号调节所述校准值，直到当前子电路的待校准参数达到目标值。4.根据权利要求3所述的模拟电路自校准系统，其特征在于，所述数字校准模块具体还用于在当前子电路的待校准参数达到目标值后，再对下一个子电路的待校准参数进行校准，直到M个子电路均校准完成。5.根据权利要求4所述的模拟电路自校准系统，其特征在于，每个所述子电路设置有N个待校准参数，N为不小于1的正整数；所述检测模块具体用于依次获取每个子电路中的N个待校准参数，并根据当前子电路的当前待校准参数输出...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛亮宏，王翔，刘吉平，
申请(专利权)人：深圳市航顺芯片技术研发有限公司，
类型：发明
国别省市：