保护电路及MCU制造技术

本申请公开一种保护电路及MCU，其中保护电路设置在MCU内部，所述保护电路包括电源控制开关模块、温度采样控制模块和电流采样反馈模块；所述电源控制开关模块用于根据所述电流采样反馈模块反馈的通路电流值控制MCU的输入电源的通断；所述温度采样控制模块用于感测所述MCU的内部温度，根据所述内部温度控制电源通路的通断；所述电流采样反馈模块用于采样所述电源通路的通路电流值，在所述通路电流值大于或者等于设定电流阈值时，向所述电源控制开关模块反馈所述通路电流值。本申请在实现MCU过流和过温保护的基础上，不用额外增加其他电路和相对复杂的器件，能够降低板级电路开发成本，控制MCU所在PCB面积。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及电路，具体涉及一种保护电路及mcu。

技术介绍

1、mcu(micro controller unit，微控制器芯片)的电源输入可能会有过流和过温的情况出现，出现此情况往往会损坏芯片，造成不可逆的损坏，导致芯片甚至相关系统的失效。有些方案通过外围电路来保护mcu的电源输入，这些方案通常需要额外器件，容易增加开发成本和mcu所在的pcb面积。

技术实现思路

1、鉴于此，本申请提供一种保护电路及mcu，以解决传统的mcu保护方案容易增加开发成本和mcu所在pcb面积的问题。

2、本申请提供的一种保护电路，所述保护电路设置在mcu内部，所述保护电路包括电源控制开关模块、温度采样控制模块和电流采样反馈模块；

3、所述电源控制开关模块用于根据所述电流采样反馈模块反馈的通路电流值控制mcu的输入电源的通断；

4、所述温度采样控制模块用于感测所述mcu的内部温度，根据所述内部温度控制电源通路的通断；

5、所述电流采样反馈模块用于采样所述电源通路的通路电流值，在所述通本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种保护电路，其特征在于，所述保护电路设置在MCU内部，所述保护电路包括电源控制开关模块、温度采样控制模块和电流采样反馈模块；

2.根据权利要求1所述的保护电路，其特征在于，所述电源控制开关模块包括第一MOS管；所述第一MOS管的源极连接所述输入电源，漏极作为所述电源控制开关模块的输出端，连接所述温度采样控制模块的输入端，栅极作为电源控制开关模块的控制端，连接所述电流采样反馈模块的输出端。

3.根据权利要求1所述的保护电路，其特征在于，所述温度采样控制模块包括温度感测单元和第二MOS管；

4.根据权利要求3所述的保护电路，其特征在于，所述温度感测单...

【技术特征摘要】

1.一种保护电路，其特征在于，所述保护电路设置在mcu内部，所述保护电路包括电源控制开关模块、温度采样控制模块和电流采样反馈模块；

2.根据权利要求1所述的保护电路，其特征在于，所述电源控制开关模块包括第一mos管；所述第一mos管的源极连接所述输入电源，漏极作为所述电源控制开关模块的输出端，连接所述温度采样控制模块的输入端，栅极作为电源控制开关模块的控制端，连接所述电流采样反馈模块的输出端。

3.根据权利要求1所述的保护电路，其特征在于，所述温度采样控制模块包括温度感测单元和第二mos管；

4.根据权利要求3所述的保护电路，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘吉平，赵杰林，王翔，郑增忠，
申请(专利权)人：深圳市航顺芯片技术研发有限公司，
类型：发明
国别省市：