MCU测试电路制造技术

本申请实施例公开了一种MCU测试电路，该MCU测试电路包括主控MCU、待测MCU、LDO电路、电压调整电路和电压采集电路，主控MCU具有ADC输入引脚、DAC输入/输出引脚、通用输入引脚和通用输出引脚，LDO电路的输入端与输入电压源电连接，LDO电路的输出端与待测MCU的输入端电连接，ADC输入引脚通过电压采集电路连接于LDO电路的输入端和待测MCU之间，DAC输入/输出引脚通过电压调整电路与LDO电路电连接，通用输出引脚与LDO电路电连接，通用输入引脚与待测MCU的输出端电连接。本方案可以提高对待测MCU的PMU监控处理功能的测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请实施例涉及电路，具体涉及一种mcu测试电路和mcu测试方法。

技术介绍

1、单片机(single-chip microcomputer)是一种数模混合集成电路芯片，是采用超大规模集成电路技术把中央处理器、随机存储器、只读存储器、多种i/o口、中断系统、定时器/计数器以及各种模拟功能模块等集成到一块硅片上构成的一个小而完善的微型计算机系统，在各种控制领域广泛应用。

2、电源管理单元(power management unit，pmu)是单片机里面的一个重要模块，是一种高度集成的、针对便携式应用的电源管理方案，即将传统分立的若干类电源管理器件整合在单个封装之内，这样可实现更高的电源转换效率和更低功耗，及更少的板级空间。当供电电压不足时，无需任何外部电路辅助，pmu会保证mcu始终保持在复位状态，以防止因电压不足强行工作而带来严重的后果。pmu监控处理功能包括上电复位(power on reset，por)、掉电复位(power down reset，pdr)、欠压复位(brown-out reset，bor)和可编程电压检测(programm本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种MCU测试电路，其特征在于，包括主控MCU、待测MCU、LDO电路、电压调整电路和电压采集电路，所述主控MCU具有ADC输入引脚、DAC输入/输出引脚、通用输入引脚和通用输出引脚，所述LDO电路的输入端与输入电压源电连接，所述LDO电路的输出端与所述待测MCU的输入端电连接，所述ADC输入引脚通过所述电压采集电路连接于所述LDO电路的输入端和所述待测MCU之间，所述DAC输入/输出引脚通过所述电压调整电路与所述LDO电路电连接，所述通用输出引脚与所述LDO电路电连接，所述通用输入引脚与所述待测MCU的输出端电连接。

2.如权利要求1所述的MCU测试电路，其特征在于，所...

【技术特征摘要】

1.一种mcu测试电路，其特征在于，包括主控mcu、待测mcu、ldo电路、电压调整电路和电压采集电路，所述主控mcu具有adc输入引脚、dac输入/输出引脚、通用输入引脚和通用输出引脚，所述ldo电路的输入端与输入电压源电连接，所述ldo电路的输出端与所述待测mcu的输入端电连接，所述adc输入引脚通过所述电压采集电路连接于所述ldo电路的输入端和所述待测mcu之间，所述dac输入/输出引脚通过所述电压调整电路与所述ldo电路电连接，所述通用输出引脚与所述ldo电路电连接，所述通用输入引脚与所述待测mcu的输出端电连接。

2.如权利要求1所述的mcu测试电路，其特征在于，所述ldo电路包括晶体管，所述晶体管包括源极、漏极和栅极，所述源极为所述ldo电路的输入端，所述漏极为所述ldo电路的输出端。

3.如权利要求2所述的mcu测试电路，其特征在于，所述ldo电路还包括基准电压源、运算放大器以及串联的第一电阻和第二电阻，所述源极与所述输入电压源电连接，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘吉平，刘洋，王翔，郑增忠，
申请(专利权)人：深圳市航顺芯片技术研发有限公司，
类型：新型
国别省市：