一种各向异性非线性光学特性测量装置及其测量方法制造方法及图纸

技术编号:29043619 阅读:32 留言:0更新日期:2021-06-26 05:54
一种各向异性非线性光学特性测量装置,依次位于第一光路上、可发出线偏振光的脉冲激光发生器、调节激光偏振方向的偏振补偿器、进行分束的分束镜、进行聚焦和放大的物镜、夹住样品沿Z轴移动的电动位移平台、与物镜共焦的第一透镜、可调孔径的光阑、进行二次聚焦的第二透镜、探测样品信号T

【技术实现步骤摘要】
一种各向异性非线性光学特性测量装置及其测量方法


[0001]本专利技术涉及非线性光学测量领域,特别是涉及一种各向异性非线性光学特性测量装置及其测量方法。

技术介绍

[0002]在非线性光学中,一定频率的入射光可以通过与介质相互作用而转换成其他频率的光,还可以产生一系列在光谱上周期分布不同频率和光强的光。人们利用光束通过光学系统时入射光强与透射光强之间的非线性关系,实现光开关、激光调制等。所以说,研究非线性光学对于激光技术、光谱学的发展以及物质结构分析等都有着重要的意义。研究及寻找新的非线性光学材料,例如有机高分子、有机晶体等更是现今非线性光学的热点之一。非线性光学晶体材料影响着光通信业发展。
[0003]在非线性光学晶体材料的研究中,由于单束Z扫描技术操作简单,灵敏度高而被广泛使用。传统的Z扫描测量装置请参阅图1,由激光器(图未示)输出的高斯光束经过分束器BS后分为第一光束与第二光束,第一光束被第一探测器D1所接收形成参考信号T
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,以标定光源的功率。第二光束经过聚透镜L后聚焦于O点作为Z轴的原点,且第二光束进入样品1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种各向异性非线性光学特性测量装置,其特征在于:依次位于第一光路上、可发出线偏振光的脉冲激光发生器、调节所述线偏振光偏振方向的偏振补偿器、对所述线偏振光进行分束的分束镜、对所述线偏振光进行聚焦和放大的物镜、夹住样品沿Z轴方向移动的位移平台、与所述物镜共焦的第一透镜、可调孔径的光阑、对所述线偏振光进行二次聚焦的第二透镜、探测所述线偏振光的样品信号T
S
的第一光电探测器以及位于第二光路并探测所述线偏振光的参考信号T
R
的第二光电探测器;所述第一光路为Z轴方向,且与所述第二光路成夹角。2.根据权利要求1所述的各向异性非线性光学特性测量装置,其特征在于:还包括分别与所述第一光电探测器以及所述第二光电探测器电连接的分析器,所述分析器获取所述样品信号T
S
和所述参考信号T
R
并进行分析计算。3.根据权利要求2所述的各向异性非线性光学特性测量装置,其特征在于:还包括分别与所述第一光电探测器、所述第二光电探测器以及所述分析器电连接的信号放大器;所述信号放大器对所述样品信号T
S
和所述参考信号T
R
进行放大、去噪后,所述分析器进行分析计算。4.根据权利要求1到3中任一项所述的各向异性非线性光学特性测量装置,其特征在于:还包括位于第一光路上、在所述脉冲激光发生器与所述偏振补偿器之间的衰减片,所述衰减片调整所述线偏振光的功率。5.根据权利要求2所述的各向异性非线性光学特性测量装置,其特征在于:所述分析器为装有专门用Labview编写控制与分析软件的计算机。6.根据权利要求3所述的各向异性非线性光学特性测量装置,其特征在于:所述信号放大器为双通道的锁相放大器。7.根据权利要求4所述的各向异性非线性光学特性测量装置,其特征在于:还包括样品位置选定组件;所述样品位置选定组件包括照明光源、可翻折反射镜以及摄像头;所述可翻折反射镜打开时,所述照明光源发出的光线入射到所述可翻折反射镜,且其反射光沿所述第一光路依次经过所述第一透镜、所述物镜并入射到所述分束镜后,反射到所述摄像头进行成像。8.根据权利要求7所述的各向异性非线性光学特性测量装置,其特征在于:所述样品位置选定组件还包括位于所述照明光源与所述可翻折反射镜之间的...

【专利技术属性】
技术研发人员:姜小芳巫婕妤刘钦郭天雨吴泳波唐志列
申请(专利权)人:华南师范大学
类型:发明
国别省市:

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