一种双面对位贴合精度检测系统技术方案

本发明专利技术提供了一种双面对位贴合精度检测系统，包括：光线准直装置、光路转换装置、成像装置，所述光线准直装置包括相向设置的光线准直装置一、光线准直装置二，所述光线准直装置一、光线准直装置二用于将发散光准直为平行光；所述光路转换装置设置在所述光线准直装置一与光线准直装置二之间，所述光路转换装置用于将所述光线准直装置一、光线准直装置二准直后的光线进行角度调节以使射出的光线与准直后的光线相平行；所述成像装置设置在所述光路转换装置的一侧，所述成像装置用于接收所述光路转换装置射出的光线进行成像。本发明专利技术提供的双面对位贴合精度检测系统，结构简单，操作方便，且可同时检测待贴合件的上下两面的对位情况。

【技术实现步骤摘要】
一种双面对位贴合精度检测系统
本专利技术涉及精密贴合设备
，具体地涉及一种双面对位贴合精度检测系统。
技术介绍
随着精密仪器的快速发展，人们对加工工艺的精确度及效率有愈发强烈的要求。其中PI膜覆铜板的应用也愈发广泛，在柔性PI膜的基底上制作相应的图案，并对位贴合在覆铜板上，其制作工艺简单，便捷。为了高效率对产品进行加工贴合，进行装配时，需要将外部工件或者电子元件等进行精准定位并完美贴合，从而提高产品的生产效率和保证产品的良率。现有的贴合机采用相机进行对位过程中，由于环境影响通常会出现光线不足的问题，当光线过低时，拍摄的照片清晰度会大幅降低，无法通过软件进行识别，最终导致定位失败。所以急需一种高精度对位贴合装置来解决上述存在的问题。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种双面对位贴合精度检测系统，包括：光线准直装置，所述光线准直装置包括相向设置的光线准直装置一、光线准直装置二，所述光线准直装置一、光线准直装置二用于将发散光准直为平行光；光路转换装本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双面对位贴合精度检测系统，其特征在于，包括：/n光线准直装置，所述光线准直装置包括相向设置的光线准直装置一、光线准直装置二，所述光线准直装置一、光线准直装置二用于将发散光准直为平行光；/n光路转换装置，所述光路转换装置设置在所述光线准直装置一与光线准直装置二之间，所述光路转换装置用于将所述光线准直装置一、光线准直装置二准直后的光线进行角度调节以使射出的光线与准直后的光线相平行；/n成像装置，所述成像装置设置在所述光路转换装置的一侧，所述成像装置用于接收所述光路转换装置射出的光线进行成像。/n

【技术特征摘要】
1.一种双面对位贴合精度检测系统，其特征在于，包括：
光线准直装置，所述光线准直装置包括相向设置的光线准直装置一、光线准直装置二，所述光线准直装置一、光线准直装置二用于将发散光准直为平行光；
光路转换装置，所述光路转换装置设置在所述光线准直装置一与光线准直装置二之间，所述光路转换装置用于将所述光线准直装置一、光线准直装置二准直后的光线进行角度调节以使射出的光线与准直后的光线相平行；
成像装置，所述成像装置设置在所述光路转换装置的一侧，所述成像装置用于接收所述光路转换装置射出的光线进行成像。


2.根据权利要求1所述的双面对位贴合精度检测系统，其特征在于，所述光线准直装置一包括准直透镜一（3），所述光线准直装置二包括准直透镜二（4）。


3.根据权利要求2所述的双面对位贴合精度检测系统，其特征在于，还包括光源，所述光源分别设置在所述准直透镜一（3）的入射侧以及准直透镜二（4）的入射侧。


4.根据权利要求1所述的双面对位贴合精度检测系统，其特征在于，所述光路转换装置包括光线偏转元件一、光线偏转元件二，所述光线偏转元件一用于将所述光线准直装置一、光线准直装置二准直后的光线偏转一定角度射出至所述光线偏转元件二上，所述光线偏转元件二用于将接收的光线偏转至所述成像装置。


5.根据权利要求4所述的双面对位...

【专利技术属性】
技术研发人员：段光前，陈秀峰，陈中华，黄树平，童杰，
申请(专利权)人：武汉先河激光技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42