一种三维测量系统的标定方法及测量方法技术方案

本发明专利技术公开了一种三维测量系统的标定方法及测量方法，所述标定方法包括步骤：获取一组覆盖待重建空间的标准标定数据，其中，所述标准标定数据包括三维测量系统探测器采集到的结构光特征在图像平面的二维坐标和对应的三维空间坐标；根据所述标准标定数据建立结构光‑三维映射模型。本发明专利技术的标定方法可以减少摄像机和投影仪带来的非线性效应，直接建立点对点映射，直接建立二维图像坐标与三维空间坐标的映射模型，实现高精度、高鲁棒性的三维重建，与传统方法的全局标定相比，大大减小了摄像机和投影机镜头局部畸变噪声的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种三维测量系统的标定方法及测量方法
本专利技术涉及三维测量
，更具体的是涉及一种三维测量系统的标定方法及测量方法。
技术介绍
随着微光、机、电技术的飞速发展，高精度、高效率探测物体精细结构已成为全球科研领域里的一大研究热点，如何更精确地获取物体三维点云数据是三维测量领域的热点。三维测量系统在医学，工业等领域得到广泛的应用，影响其重建精度的关键因素是建立的物体特征在(一个或者多个相机或者投影机或者两者都有)二维坐标与物体的实际三维坐标映射的标定模型的精确性。建立精确的映射模型需要借助高精度的标定装置来获取一组非常精确的二维到三维的标准标定数据。标定模型是否能够准确地描述二维数据到三维数据的真实映射关系，关键在于三个因素：第一，标定装置上的靶面板的特征在探测器CCD平面的二维坐标提取的准确性；第二，标定装置上的靶面板的特征的空间三维坐标的准确性；第三，建立的数学标定模型是否能准确地描述和建立二维数据到三维数据的映射关系。在三维测量系统中，被动式测量通常通过投影机发射结构光来调制空间中的三维信息。其中描述结构光-三维映射关系的数学模型是三维传感领域研究的热点问题，因为它直接影响三维重建精度。现有模型所需的校准方法都无法准确地描述摄像机和投影机复杂的基本模型，需要对投影机进行准确标定，特别是对投影机的镜头畸变的矫正步骤繁琐并且无法实现投影机亚像素级别的图像矫正，除此之外，由于标定是全局标定建模，若摄像机镜头或者投影机镜头出现局部畸变噪声会大大干扰标定的稳定性，不能满足日益增长的实际应用需求。专利
技术实现思路
本专利技术的目的是在于解决上述的技术问题。针对上述技术问题,本专利技术提出了一种三维测量系统的标定方法，包括步骤：获取一组覆盖待重建空间的标准标定数据，其中，所述标准标定数据包括三维测量系统探测器采集到的结构光特征在图像平面的二维坐标和对应的三维空间坐标；根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型。优选的，根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型过程包括：在标准标定数据上直接建立二维-三维空间查找表。优选的，根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型过程还包括：利用插值方法计算所述查找表的中间数据。优选的，根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型过程包括：若所述结构光为正弦结构光条纹，对相机图像的每一像素对应的反向光线进行追踪查找出标准标定数据，对相机图像平面每个像素分别建立相位-三维映射模型。优选的，根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型过程包括：若所述结构光为多线结构光条纹，对相机图像的每一行对每个光平面进行追踪查找出标准标定数据，对每一行中不同的光平面分别建立二维-三维映射模型。本专利技术同时提供一种三维测量方法，包括步骤：获取结构光打在物体表面的图像信息，其中，所述图像信息结构光的特征信息；将所述特征信息输入到预设的结构光-三维映射模型中，获取所述物体表面的空间三维坐标；其中，所述结构光-三维映射模型是根据已知的一组覆盖所述物体空间的标准标定数据建立，所述标准标定数据包括三维测量系统探测器采集到的结构光特征在图像平面的二维坐标和对应的三维空间坐标。优选的，根据已知的一组覆盖所述物体空间的标准标定数据建立结构光-三维映射模塑的过程包括：在标准标定数据上直接建立二维-三维空间查找表。优选的，根据已知的一组覆盖所述物体空间的标准标定数据建立结构光-三维映射模塑的过程还包括：利用插值方法计算所述查找表的中间数据。优选的，根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型过程包括：若所述结构光为正弦结构光条纹，对相机图像的每一像素对应的反向光线进行追踪查找出标准标定数据，对相机图像平面每个像素分别建立相位-三维映射模型。优选的，根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型过程包括：若所述结构光为多线结构光条纹，对相机图像的每一行对每个光平面进行追踪查找出标准标定数据，对每一行中不同的光平面分别建立二维-三维映射模型。与现有技术相比，本专利技术至少具有以下有益效果：本专利技术的标定方法可以减少摄像机和投影仪带来的非线性效应，直接建立点对点映射，直接建立二维图像坐标与三维空间坐标的映射模型，实现高精度、高鲁棒性的三维重建，与传统方法的全局标定相比，大大减小了摄像机和投影机镜头局部畸变噪声的影响。附图说明图1为本专利技术实施例中三维测量系统的标定方法流程图。图2为本专利技术实施例中另一种标定装置结构示意图。图3为本专利技术实施例中又一种标定装置结构示意图。图4为本专利技术实施例的三维测量方法流程图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术做进一步说明。实施例一如图1所示为本专利技术提供的一种三维测量系统的标定方法流程图，其中，所述该标定方法包括步骤：S1、获取一组覆盖待重建空间的标准标定数据，其中，所述标准标定数据包括三维测量系统探测器采集到的结构光特征在图像平面的二维坐标和对应的三维空间坐标。S2、根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型。作为一种可实施方式，根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型的过程可包括：在标准标定数据上直接建立二维-三维空间查找表。具体的，如图2所示，假设结构光为垂直条纹，当垂直条纹通过投影机(Projector)被投影成光平面，我们沿着摄像机(Camera)像素平面的水平方向追踪光线。结果表明，对于每个光平面，相机光线与光平面相交点的Z坐标可以转化为相机图像坐标系中亚像素列坐标u的线性变化。考虑到投影仪镜头的畸变，空间中的一系列点构成了一条曲线(位于畸变光平面(distortedlightplane))。因此，如根据理想光平面(ideallightplane)与摄像机光线之间的几何约束计算场景点的三维信息，会存在重构误差。因此,把在几个位置标定平面如图3所示,分析Z坐标和u之间的关系。例如,沿着水平方向对光线进行追踪，像点(u1,v1)，(u2,v1)，(u3v1)记录的射线可以构成一个平面,称为射线平面(rayplane)。射线平面、畸变光平面相交于场景点z1、z2、z3。建立场景点z1、z2、z3的Z坐标与对应的每个扭曲光平面的图像坐标(u1,v1)、(u2,v1)、(u3,v1)之间的映射关系即可计算物体表面的三维坐标。本实施例中，通过建立查找表来记录这些关系。这样，当条纹号I已知时，我们就可以从条纹在相机图像平面上的像素坐标(u,v)计算出物体表面对应的Z坐标。作为本实施例的进一步改进，还可以利用插值方法计算所述查找表中Z坐标信息的中间数据。由于需要记录所有的已知的校准数据(u,v,X,Y,Z)和样条线拟合方程，因此该方式需要占用大量的计算机内存，但是，该方式也是最精确的映射方法。作为另一种可实施方式，根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型过程包括：若所述结构光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种三维测量系统的标定方法，其特征在于，包括步骤：/n获取一组覆盖待重建空间的标准标定数据，其中，所述标准标定数据包括三维测量系统探测器采集到的结构光特征在图像平面的二维坐标和对应的三维空间坐标；/n根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型。/n

【技术特征摘要】
1.一种三维测量系统的标定方法，其特征在于，包括步骤：
获取一组覆盖待重建空间的标准标定数据，其中，所述标准标定数据包括三维测量系统探测器采集到的结构光特征在图像平面的二维坐标和对应的三维空间坐标；
根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型。


2.按照权利要求1所述的三维测量系统的标定方法，其特征在于，根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型过程包括：
在标准标定数据上直接建立二维-三维空间查找表。


3.按照权利要求2所述的三维测量系统的标定方法，其特征在于，根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型过程还包括：
利用插值方法计算所述查找表的中间数据。


4.按照权利要求1所述的三维测量系统的标定方法，其特征在于，根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型过程包括：
若所述结构光为正弦结构光条纹，对相机图像的每一像素对应的反向光线进行追踪查找出标准标定数据，对相机图像平面每个像素分别建立相位-三维映射模型。


5.按照权利要求1所述的三维测量系统的标定方法，其特征在于，根据所述标准标定数据建立结构光-三维映射模型过程包括：
若所述结构光为多线结构光条纹，对相机图像的每一行对每个光平面进行追踪查找出标准标定数据，对每一行中不同的光平面分别建立二维-三维映射模型。


6.一种三维测量方法，其特征在于，包括步骤：
获取结构光打在...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢晓婷，曾祥军，
申请(专利权)人：深圳市菲森科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44