【技术实现步骤摘要】
用于TO-CAN同轴性封装的MINI电极
本技术涉及光通信器件生产
,尤其涉及用于TO-CAN同轴性封装的MINI电极。
技术介绍
同轴性封装是光通信器件产品封装的重要环节,而同轴性封装的同轴度将直接影响产品的功率、响应度。因此,在同轴封装工序后通常需要进行产品性能测试,具体为:将待测试产品流到测试工序,进行光电性能测试,并利用外部设备准确记录PD器件光电转换效率以及暗电流参数。然而,现有的封帽机封焊同轴性较差、而且工作效率低,导致生产成本居高不下。
技术实现思路
本技术提供一种减少单独封焊管脚工序,优化工艺,提高封帽机封焊同轴性和工作效率,降低生产成本的用于TO-CAN同轴性封装的MINI电极。本技术采用的技术方案为:一种用于TO-CAN同轴性封装的MINI电极,包括:接触部以及固定部,所述固定部自所述接触部的下端一体延伸成型;所述固定部的底面与所述接触部的顶面为两个相互平行的平面;所述接触部设有贯穿孔,且所述接触部的顶面设有凹槽,所述固定部设有镂空腔,所述镂空腔的一端贯穿所述固定部,另一端向所述接触部延伸,并与所述贯穿孔连通。进一步地,所述凹槽包括管座槽以及引脚槽;所述管座槽设于所述接触部的中心位置,且所述贯穿孔与所述管座槽连通;所述引脚槽的一端与所述管座槽连接,另一端向所述接触部的边缘延伸,并贯穿所述接触部的边缘。进一步地,所述固定部与所述接触部的连接处设有平台。进一步地,所述固定部的底面周缘设有倒角。进一步地,所述接触部的直径小 ...
【技术保护点】
1.一种用于TO-CAN同轴性封装的MINI电极,其特征在于,包括:接触部以及固定部,所述固定部自所述接触部的下端一体延伸成型;所述固定部的底面与所述接触部的顶面为两个相互平行的平面;/n所述接触部设有贯穿孔,且所述接触部的顶面设有凹槽,所述固定部设有镂空腔,所述镂空腔的一端贯穿所述固定部,另一端向所述接触部延伸,并与所述贯穿孔连通。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于TO-CAN同轴性封装的MINI电极,其特征在于,包括:接触部以及固定部,所述固定部自所述接触部的下端一体延伸成型;所述固定部的底面与所述接触部的顶面为两个相互平行的平面;
所述接触部设有贯穿孔,且所述接触部的顶面设有凹槽,所述固定部设有镂空腔,所述镂空腔的一端贯穿所述固定部,另一端向所述接触部延伸,并与所述贯穿孔连通。
2.如权利要求1所述的用于TO-CAN同轴性封装的MINI电极,其特征在于:所述凹槽包括管座槽以及引脚槽;所述管座槽设于所述接触部的中心位置,且所述贯穿...
【专利技术属性】
技术研发人员:梁贵新,
申请(专利权)人:广州名扬光电科技有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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