一种高性能MOSFET测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种高性能MOSFET测试装置，包括测试装置主体，所述测试装置主体的端部安装有插孔，所述插孔的内部卡合安装有导线，所述导线的端部通过胶液粘合固定有紧固套，所述插孔的两侧位于所述测试装置主体的端部通过螺钉固定安装有柔性杆，所述柔性杆的端部通过螺钉固定安装有紧压板；通过在柔性杆的端部设计紧压板，和在连接块的端部设计卡销，避免测试装置在使用时导线端部与装置插合时不易紧固，拉紧时易松动，造成接触不良，可以在导线插合后通过柔性杆发生形变将紧压板紧压在紧固套的表面，紧压后将卡销卡合在卡槽的内部使得紧压板与连接块紧固安装，安装后使得紧固套与导线紧固，操作拉紧导线使用时不易松动，稳定使用。

【技术实现步骤摘要】
一种高性能MOSFET测试装置
本技术属于测试装置
，具体涉及一种高性能MOSFET测试装置。
技术介绍
现有的测试装置应用于对模拟电路与数字电路的场效晶体管测试的装置，装置具有高性能，测试精准，结构简单，便于操作人员操作，利于测试的设备，设备在电学中广泛应用；现有的测试装置在使用时导线端部与装置插合时不易紧固，拉紧时易松动，造成接触不良，同时在长时间检测使用时内部产生大量的热量，不便于散热的问题，为此我们提出一种高性能MOSFET测试装置。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种高性能MOSFET测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出现有的测试装置在使用时导线端部与装置插合时不易紧固，拉紧时易松动，造成接触不良，同时在长时间检测使用时内部产生大量的热量，不便于散热的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种高性能MOSFET测试装置，包括测试装置主体，所述测试装置主体的端部安装有插孔，所述插孔的内部卡合安装有导线，所述导线的端部通过胶液粘合固定有紧固套，所述插孔的两侧位于所述测试装置主体的端部通过螺钉固定安装本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高性能MOSFET测试装置，包括测试装置主体(1)，所述测试装置主体(1)的端部安装有插孔(2)，所述插孔(2)的内部卡合安装有导线(3)，其特征在于：所述导线(3)的端部通过胶液粘合固定有紧固套(11)，所述插孔(2)的两侧位于所述测试装置主体(1)的端部通过螺钉固定安装有柔性杆(13)，所述柔性杆(13)的端部通过螺钉固定安装有紧压板(12)，所述紧压板(12)的底端开设有卡槽(9)，所述紧固套(11)的两侧均一体式成型有连接块(7)，所述连接块(7)的上表面一体式成型有卡销(8)，且所述连接块(7)与所述紧压板(12)通过所述卡销(8)与所述卡槽(9)卡合连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种高性能MOSFET测试装置，包括测试装置主体(1)，所述测试装置主体(1)的端部安装有插孔(2)，所述插孔(2)的内部卡合安装有导线(3)，其特征在于：所述导线(3)的端部通过胶液粘合固定有紧固套(11)，所述插孔(2)的两侧位于所述测试装置主体(1)的端部通过螺钉固定安装有柔性杆(13)，所述柔性杆(13)的端部通过螺钉固定安装有紧压板(12)，所述紧压板(12)的底端开设有卡槽(9)，所述紧固套(11)的两侧均一体式成型有连接块(7)，所述连接块(7)的上表面一体式成型有卡销(8)，且所述连接块(7)与所述紧压板(12)通过所述卡销(8)与所述卡槽(9)卡合连接。


2.根据权利要求1所述的一种高性能MOSFET测试装置，其特征在于：所述测试装置主体(1)的上表面中间位置处固定安装有框架(4)，所述框架(4)的内部通过连接架固定安装有马达(10)，所述马达(10)的端部通过转轴转动连接有扇叶(5)，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭力，
申请(专利权)人：无锡力神微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32