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一种高性能MOSFET测试装置制造方法及图纸
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文档序号:28931213
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本实用新型公开了一种高性能MOSFET测试装置,包括测试装置主体,所述测试装置主体的端部安装有插孔,所述插孔的内部卡合安装有导线,所述导线的端部通过胶液粘合固定有紧固套,所述插孔的两侧位于所述测试装置主体的端部通过螺钉固定安装有柔性杆,所述...
该专利属于无锡力神微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡力神微电子有限公司授权不得商用。
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