一种高性能二极管加工用测试装置制造方法及图纸

技术编号:28895101 阅读:27 留言:0更新日期:2021-06-15 23:53
本实用新型专利技术公开了一种高性能二极管加工用测试装置,包括二极管参数测试仪、显示屏和测试端口,所述二极管参数测试仪上设置有供所述测试端口防尘的防尘机构,所述防尘机构包括防尘壳和定位块,所述防尘壳的一端与所述二极管参数测试仪之间设置有合页,所述防尘壳的另一端设置有安装条,所述安装条的内部开设有插槽,所述定位块的内部开设有活动槽;本实用新型专利技术通过设计的防尘机构,便于在不使用时对测试端口进行防尘,避免了不使用时空气中的灰尘会容易进入测试端口的内部,造成在使用时会影响设备测试结果的情况,不使用时将防尘壳盖上,使用时再将防尘壳打开便可使用,操作简单,防尘效果好。

【技术实现步骤摘要】
一种高性能二极管加工用测试装置
本技术属于二极管测试设备
,具体涉及一种高性能二极管加工用测试装置。
技术介绍
在对二极管加工中需要对其进行测试,会使用到二极管参数测试仪进行测试,实现二极管的极性判断、正向压降和反向压降等参数的测量,具有精度高、性能高、操作方便等优点。现有的测试装置在使用时,会将连接二极管的测试插头插入测试端口内进行测试,但是在不使用的时候,空气中的灰尘容易进入测试端口内,造成测试端口内布满大量的灰尘,造成插头在插入测试端口后接触不良,导致在使用时会影响测试效果,影响设备测试结果的问题,为此我们提出一种高性能二极管加工用测试装置。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种高性能二极管加工用测试装置,以解决上述
技术介绍
中提出的现有的测试装置在使用时,会将连接二极管的测试插头插入测试端口内进行测试,但是在不使用的时候,空气中的灰尘容易进入测试端口内,造成测试端口内布满大量的灰尘,造成插头在插入测试端口后接触不良,导致在使用时会影响测试效果,影响设备测试结果的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高性能二极管加工用测试装置,包括二极管参数测试仪(1)、显示屏(3)和测试端口(10),其特征在于:所述二极管参数测试仪(1)上设置有供所述测试端口(10)防尘的防尘机构,所述防尘机构包括防尘壳(6)和定位块(11),所述防尘壳(6)的一端与所述二极管参数测试仪(1)之间设置有合页(9),所述防尘壳(6)的另一端设置有安装条(12),所述安装条(12)的内部开设有插槽(19),所述定位块(11)的内部开设有活动槽(18),所述活动槽(18)的内部设置有插杆(13),所述插杆(13)的底部可穿入所述插槽(19)的内部,所述插杆(13)的外部设置有两组挡块(16),所述插杆(13)的顶部与...

【技术特征摘要】
1.一种高性能二极管加工用测试装置,包括二极管参数测试仪(1)、显示屏(3)和测试端口(10),其特征在于:所述二极管参数测试仪(1)上设置有供所述测试端口(10)防尘的防尘机构,所述防尘机构包括防尘壳(6)和定位块(11),所述防尘壳(6)的一端与所述二极管参数测试仪(1)之间设置有合页(9),所述防尘壳(6)的另一端设置有安装条(12),所述安装条(12)的内部开设有插槽(19),所述定位块(11)的内部开设有活动槽(18),所述活动槽(18)的内部设置有插杆(13),所述插杆(13)的底部可穿入所述插槽(19)的内部,所述插杆(13)的外部设置有两组挡块(16),所述插杆(13)的顶部与所述活动槽(18)之间设置有弹簧(17),所述定位块(11)的正面开设有移动槽(14),所述插杆(13)的正面设置有移动块(15),所述移动块(15)的端部穿过所述移动槽(14)并延伸至所述定位块(11)的正面。


2.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭力
申请(专利权)人:无锡力神微电子有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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