一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置及测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置包括光学基准板和光学参考板，其中所述光学基准板和所述光学参考板之间的夹角为0.1度至0.5度。本发明专利技术还涉及一种使用所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置的光学干涉断层成像系统轴向分辨率的测量方法。本发明专利技术的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量方法通过一次扫描便可以得到系统的实际轴向分辨率，而无需反复调整空气隙实际宽度来无限逼近系统实际分辨率，因此具有操作简单、快速的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置及测量方法
本专利技术属于光学检测
，具体涉及一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置及测量方法。
技术介绍
光学相干断层扫描技术(OpticalCoherenceTomography，简称OCT)是近年来发展较快的一种最具发展前途的新型层析成像技术，特别是在生物组织活体检测和成像方面具有诱人的应用前景，已尝试在心内科、眼科、牙科和皮肤科的临床诊断中应用，是继X-CT和MRI技术之后的又一大技术突破，近年来已得到了迅速的发展，基于该技术的光学干涉断层成像系统可使人们获得微米量级空间分辨率的超高清影像。与此同时，光学干涉断层成像系统的轴向分辨率等关键指标的测量成为此研发领域的重要课题。光学干涉断层成像系统的轴向分辨率一般是在微米至十微米量级，如何方便而又精准地测量出轴向分辨率的具体数值，是该
的一大挑战。目前尚无特别高效准确的测量轴向分辨率的方法。
技术实现思路
为了解决光学干涉断层成像系统的轴向分辨率的快速准确测量本专利技术提供一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，其特征在于，所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置包括光学基准板和光学参考板，其中所述光学基准板和所述光学参考板之间的夹角为0.1度至0.5度。/n

【技术特征摘要】
1.一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，其特征在于，所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置包括光学基准板和光学参考板，其中所述光学基准板和所述光学参考板之间的夹角为0.1度至0.5度。


2.根据权利要求1所述的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，其特征在于，所述光学基准板为玻璃，其厚度为0.6mm至1.5mm，折射率为1.3至1.9。


3.根据权利要求2所述的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，其特征在于，所述光学参考板为玻璃，其厚度为0.6mm至1.5mm，折射率为1.3至1.9。


4.根据权利要求1至3任一项所述的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，其特征在于，所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置还包括光学基准座，所述光学基准座承载所述光学基准板和所述光学参考板。


5.根据权利要求4所述的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，其特征在于，所述光学基准座包括底板和侧壁，所述光学参考板位于所述光学基准板和所述底板之间。


6.根据权利要求5所述的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，其特征在于，所述侧壁支撑所述光学基准板。


7.根据权利要求5所述的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，其特征在于，所述底板和所述侧壁共同支撑所述光学参考板。


8.根据权利要求5所述的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，其特征在于，所述底板与所述光学基准板平行设置。

【专利技术属性】
技术研发人员：王敬涛，王正义，彭建华，张林涛，
申请(专利权)人：浙江省医疗器械检验研究院，
类型：发明
国别省市：浙江;33