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本发明涉及一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置包括光学基准板和光学参考板，其中所述光学基准板和所述光学参考板之间的夹角为0.1度至0.5度。本发明还涉及一种使用所述光学干涉断层成像系统轴向分...
该专利属于浙江省医疗器械检验研究院所有，仅供学习研究参考，未经过浙江省医疗器械检验研究院授权不得商用。

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