一种激发荧光测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种激发荧光测量装置，包括激发光源装置、样品测试台、吸光阱和光测量装置，其中激发光源装置包括激发光源及第一滤光装置，所述的第一滤光装置安装在激发光源的出光口上，所述的激发光源的光轴与光测量装置的光轴垂直正交，所述样品测试台位于激发光源的光轴与光测量装置的光轴垂直正交处。本发明专利技术的一种激发荧光测量装置使用方便，测量精度高。测量精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种激发荧光测量装置


[0001]本专利技术属于光电检测
，具体是一种激发荧光测量装置。

技术介绍

[0002]激发荧光测量装置是通过激发光源激发被测物质发射荧光，采用光测量装置测量荧光光学特性的测量装置。现有的激发荧光测量装置激发光与荧光容易混淆无法分辨，存在多次激发无法定量激发光与荧光等问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种使用方便，测量精度高的激发荧光测量装置。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0005]一种激发荧光测量装置，包括激发光源装置、样品测试台、吸光阱和光测量装置，其中激发光源装置包括激发光源及第一滤光装置，所述的第一滤光装置安装在激发光源的出光口上，所述的激发光源的光轴与光测量装置的光轴垂直正交，所述样品测试台位于激发光源的光轴与光测量装置的光轴垂直正交处，所述样品测试台具有3个开口，样品测试台的第一开口与第二开口位于激发光源的光轴上，样品测试台的第三开口位于光测量装置的光轴上，样品测试台的第一开口与激发光源的出射口相对应，样品测试台的第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激发荧光测量装置，其特征在于包括激发光源装置(1)、样品测试台(6)、吸光阱(5)和光测量装置(3)，其中激发光源装置(1)包括激发光源及第一滤光装置(2)，所述的第一滤光装置(2)安装在激发光源的出光口上，所述的激发光源的光轴与光测量装置(3)的光轴垂直正交，所述样品测试台(6)位于激发光源的光轴与光测量装置(3)的光轴垂直正交处，所述样品测试台(6)具有3个开口，样品测试台(6)的第一开口(7)与第二开口(9)位于激发光源的光轴上，样品测试台(6)的第三开口(8)位于光测量装置(3)的光轴上，样品测试台(6)的第一开口(7)与激发光源的出射口相对应，样品测试台(6)的第二开口(9)与吸光阱(5)相对应，样品测试台(6)的第三开口(8)与光测量装置(3)的进光口相对应，所述样品测试台(6)的第一开口(7)和第二开口(9)的连线偏离样品安装位置的中心线，所述的第三开口(8)位于靠近第一开口(7)和第二开口(9)的位置。2.如权利要求1所述的一种激发荧光测量装置，其特征在于所述光测量装置(3)包括光电传感器和第二滤光装置(4)，所述第二滤光装置(4)安装在光电传感器的进光口上。3.如权利要求2所...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑建，
申请(专利权)人：浙江省医疗器械检验研究院，
类型：发明
国别省市：