计算机层析X射线摄影装置制造方法及图纸

一种计算机层析Ｘ射线摄影装置，其包括一个Ｘ射线源（１０）、一个滤光装置（１６）、一个检测装置（１８）以及一个电子分析单元（２２），它存储有与变量ｚ有关的校正函数ｋ（ｚ）的信息，并对于每个总衰减值ｇ可按ｐ＝ｇ－ｆ－ｋ（αｇ＋βｆ）分别计算出相应的病人衰减值（ｐ），其中，ｇ表示总衰减值，ｆ是滤光衰减值，它表示射线束在各投影分区内通过滤光装置（１６）理论上产生的线性衰减，α与β是常数，ｋ（αｇ＋βｆ）是表示ｚ＝αｇ＋βｆ时的校正函数值，它可按照本发明专利技术的一系列方法计算出。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种计算机层析Ｘ射线摄影装置，其包括：一个Ｘ射线源（１０）；一个设置在由Ｘ射线源（１０）所放射出的Ｘ射线的光束路径上的滤光装置（１６）；一个检测装置（１８），它用以检测穿透受检病人（１４）射出的Ｘ射线光，并且对病人（１４）的每层 投影提供一组强度测定值，其中的每个测定值表示在每层投影的投影分区内所测得的Ｘ射线的强度；一个电子分析单元（２２），它可对于每个强度检测值计算出一个总的衰减值（ｇ），该总衰减值表示各投影分区内的Ｘ射线束在穿透射线束滤光装置（１６）和病人（ １４）后所产生的实际总衰减，该电子分析单元（２２）还对于每个总衰减值（ｇ）求出一个对射束硬化校正后的病人衰减值（ｐ），该衰减值表示Ｘ射线束在各投影分区内穿透病人（１４）时理论上产生的线性衰减，其特征在于，在分析单元（２２）中存储与变量ｚ 有关的校正函数ｋ（ｚ）的信息，并且该分析单元（２２）被设计成，对于每个总衰减值（ｇ）可按下式分别计算出相应的病人衰减值：ｐ＝ｇ－ｆ－ｋ（αｇ＋βｆ） （１）其中，ｐ表示计算出的病人衰减值，ｇ表示总衰减值，ｆ是滤光衰减值，它表示射线束 在各投影分区内通过滤光装置（１６）理论上产生的线性衰减，ｋ（αｇ＋βｆ）是表示ｚ＝αｇ＋βｆ时的校正函数值，α与β是常数，其中，校正函数ｋ（ｚ）可按照下列方法计算出：ａ）首先，对于射线束滤光装置（１６）的滤光材料与基准材料的材料组合计算 出一组基准总衰减值（ｇ′），其表示至少将射线硬化效应考虑在内的、Ｘ射线在滤光材料和基准材料的不同厚度情况下通过该材料组合所产生的总衰减；ｂ）然后，按照下式对每个基准－总衰减值（ｇ′）计算出一个相应的衰减误差值（ｅ）：ｅ（ｄ↓［ｗ］， ｄ↓［ｔ］）＝ｇ′（ｄ↓［ｗ］，ｄ↓［ｔ］）－ｗ（ｄ↓［ｗ］）－ｔ（ｄ↓［ｔ］） （２）其中，ｅ（ｄ↓［ｗ］，ｄ↓［ｔ］）是基准材料的厚度为ｄ↓［ｗ］和滤光材料的厚度为ｄ↓［ｔ］时的衰减误差值，ｇ′（ｄ↓［ｗ］，ｄ↓［ｔ］）是在基准材料 的厚度为ｄ↓［ｗ］和滤光材料的厚度为ｄ↓［ｔ］时的基准总衰减值，ｗ（ｄ↓［ｗ］）是第一单项衰减值，其表示Ｘ射线在穿透厚度为ｄ↓［ｗ］的基准材料时的理论线性衰减，ｔ（ｄ↓［ｔ］）是第二单项衰减值，其表示Ｘ射线在穿透厚度为ｄ↓［ｔ］的滤光材料的理论线性衰减；ｃ）接着，这样地确定常数α和β，即，使得变量ｘ的数值按下式ｘ＝αｇ′（ｄ↓［ｗ］，ｄ↓［ｔ］）＋βｔ（ｄ↓［ｔ］...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：卡尔斯蒂尔斯托弗，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]