一种图形分析方法、系统及存储介质技术方案

本申请公开了一种图形分析方法、系统及存储介质，该方法在获取了待分析图形的轮廓图形的多个第一采样点后，将每个第一采样点的二维坐标信息转换为复数形式的坐标信息，而复数形式的坐标信息不仅包括第一采样点距离原点的距离信息，还包括第一采样点相较于相邻第一采样点的角度信息，多个第一采样点对应的复数形式的坐标信息构成了二维信息矩阵，最后利用复数傅里叶变换对二维信息矩阵进行处理，以获得轮廓图形的形状信息。由于二维信息矩阵中保存着第一采样点距离原点的距离信息，以及第一采样点相较于相邻第一采样点的角度信息，避免了在图形分析过程中多个第一采样点相较于相邻第一采样点的角度信息的丢失，提高了最终获取的形状信息的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种图形分析方法、系统及存储介质本申请为申请日为2019年12月10日，申请号为201911256936.X，专利技术名称为：一种图形分析方法、系统及存储介质的分案申请。
本申请涉及图形处理
，更具体地说，涉及一种图形分析方法、系统及存储介质。
技术介绍
二维图形的分析方法在各个领域都有着重要的应用，例如在工业控制领域，通常需要获取产品过程图像并对其进行监视，以获取过程图像的变化情况；又例如在生物学领域中经常需要获取病变组织的轮廓图形并监视病变组织的轮廓图形的变化情况。现有技术中，通常在获取了一个二维图形的轮廓图形后，使用四方框架(Tetragonum)来构型，然后利用构型的长/短边作为这个椭圆形状的轮廓图形的长轴/短轴，以此来表征这个轮廓图形的椭圆度。但是在实际应用中发现，该方法对二维图形进行分析的过程会丢失轮廓图形的信息，获得的表征轮廓图形的形状信息是不准确的。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本申请提供了一种图形分析方法、系统及存储介质，以实现提高获取的二维图形的形状信息的准确性的目的。为实现上述技术目的，本申请实施例提供了如下技术方案：一种图形分析方法，包括：获取第一坐标系；获取待分析图形的轮廓图形的多个第一采样点，并记录所述第一采样点在所述第一坐标系中的二维坐标信息；将每个所述第一采样点的二维坐标信息转换为复数形式的坐标信息，以获得二维信息矩阵；利用复数傅里叶变换对所述二维信息矩阵进行处理，以获取所述轮廓图形的形状信息；其中，利用复数傅里叶变换对所述二维信息矩阵进行处理，以获取所述轮廓图形的形状信息，包括：利用复数傅里叶变换从所述二维信息矩阵中提取不同类型的变形信息，每个类型的变形信息对应于一个傅里叶级数；基于所述变形信息，建立基准轮廓；根据所述基准轮廓以及所述待分析图案的轮廓，分析所述轮廓图形的形状信息。可选的，所述获取第一坐标系包括：获取待分析图形的轮廓图形，并以所述轮廓图形的内部一点作为原点建立第一坐标系。可选的，所述基于所述变形信息，建立基准轮廓包括：将所述变形信息中基准轮廓所对应的傅里叶级数作为待处理基准轮廓信息；利用逆傅里叶变换对所述待处理基准轮廓信息进行处理，建立基准轮廓。可选的，所述获取待分析图形的轮廓图形的多个第一采样点包括：在所述轮廓图形上确定多个所述第一采样点，相邻所述第一采样点与所述第一坐标系的原点的连线之间的角度相等。可选的，所述获取待分析图形的轮廓图形的多个第一采样点包括：在所述轮廓图形上确定多个所述第一采样点，相邻所述第一采样点与所述第一坐标系的横坐标的垂线之间的距离相同。可选的，所述第一采样点的数量为2的正整数次幂。可选的，所述将每个所述第一采样点的二维坐标信息转换为复数形式的坐标信息包括：以所述第一采样点的二维坐标信息中的横轴坐标值作为实数部分，以所述第一采样点的二维坐标信息中的纵轴坐标值作为虚数部分，以将每个所述第一采样点的二维坐标信息转换为复数形式的坐标信息。可选的，所述利用复数傅里叶变换对所述二维信息矩阵进行处理，以获取所述轮廓图形的形状信息还包括：去除提取的变形信息中无用的变形信息，获得待处理信息；利用逆傅里叶变换对所述待处理信息进行处理，以获得待处理轮廓；其中，所述将所述形变信息中基准轮廓所对应的傅里叶级数作为待处理基准轮廓信息，包括：将所述待处理信息中的基准轮廓所对应的傅里叶级数作为待处理基准轮廓信息；所述根据所述基准轮廓以及所述待分析图案的轮廓，分析所述轮廓图形的形状信息，包括：根据所述基准轮廓以及所述待处理轮廓，分析所述轮廓图形的形状信息。可选的，所述根据所述基准轮廓以及所述待处理轮廓，分析所述轮廓图形的形状信息包括：以所述基准轮廓的圆心为原点，建立第二坐标系；以预设间隔对所述待处理轮廓进行采样，以获得多个第二采样点；计算所述第二采样点距离所述第二坐标系的原点的距离；将所述第二采样点距离所述第二坐标系的原点的距离与所述基准轮廓的半径的差值，作为所述第二采样点的外圆值；将所述第二采样点的外圆值的绝对值与所述预设采样间隔的乘积，作为所述第二采样点的形变面积；将所有所述第二采样点的形变面积的和，作为所述轮廓图形的形变。一种图形分析系统，包括：图形获取模块，用于获取第一坐标系；第一采样模块，用于获取待分析图形的轮廓图形的多个第一采样点，并记录所述第一采样点在所述第一坐标系中的二维坐标信息；信息转换模块，用于将每个所述第一采样点的二维坐标信息转换为复数形式的坐标信息，以获得二维信息矩阵；信息处理模块，用于利用复数傅里叶变换对所述二维信息矩阵进行处理，以获取所述轮廓图形的形状信息；其中，所述信息处理模块包括：第一变换单元，用于利用复数傅里叶变换从所述二维信息矩阵中提取不同类型的变形信息，每个类型的变形信息对应于一个傅里叶级数；轮廓建立单元，用于基于所述变形信息，建立基准轮廓；信息获取单元，用于根据所述基准轮廓以及所述待分析图形的轮廓，分析所述轮廓图形的形状信息。可选的，所述图形获取模块具体用于，获取待分析图形的轮廓图形，并以所述轮廓图形的内部一点作为原点建立第一坐标系。可选的，所述轮廓建立单元包括：基准信息单元，用于将变形信息中基准轮廓所对应傅里叶级数作为待处理基准轮廓；基准轮廓单元，用于利用逆傅里叶变换对所述待处理基准轮廓信息进行处理，建立基准轮廓。可选的，所述信息处理模块还包括：信息去除单元，用于去除提取的变形信息中无用的变形信息，获得待处理信息；第二变换单元，用于利用逆傅里叶变换对所述待处理信息进行处理，以获得待处理轮廓；其中，所述基准信息单元用于将所述待处理信息中基准轮廓所对应傅里叶级数作为待处理基准轮廓；所述信息获取单元具体用于根据所述基准轮廓以及所述待处理轮廓，分析所述轮廓图形的形状信息。可选的，所述信息获取单元根据所述基准轮廓以及所述待处理轮廓，分析所述轮廓图形的形状信息的过程具体包括：以所述基准轮廓的圆心为原点，建立第二坐标系；以预设间隔对所述待处理轮廓进行采样，以获得多个第二采样点；计算所述第二采样点距离所述第二坐标系的原点的距离；将所述第二采样点距离所述第二坐标系的原点的距离与所述基准轮廓的半径的差值，作为所述第二采样点的外圆值；将所述第二采样点的外圆值的绝对值与所述预设采样间隔的乘积，作为所述第二采样点的形变面积；将所有所述第二采样点的形变面积的和，作为所述轮廓图形的形变。一种存储介质，所述存储介质中存储有程序，所述程序被触发时执行上述任一项所述的图形分析方法。一种图形分析系统，包括存储器和处理器，所述存储器用于存储程序代码，所述处理器用于调用所述程序代码，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图形分析方法，其特征在于，包括：/n获取第一坐标系；/n获取待分析图形的轮廓图形的多个第一采样点，并记录所述第一采样点在所述第一坐标系中的二维坐标信息；/n将每个所述第一采样点的二维坐标信息转换为复数形式的坐标信息，以获得二维信息矩阵；/n利用复数傅里叶变换对所述二维信息矩阵进行处理，以获取所述轮廓图形的形状信息；/n其中，利用复数傅里叶变换对所述二维信息矩阵进行处理，以获取所述轮廓图形的形状信息，包括：/n利用复数傅里叶变换从所述二维信息矩阵中提取不同类型的变形信息，每个类型的变形信息对应于一个傅里叶级数；/n基于所述变形信息，建立基准轮廓；/n根据所述基准轮廓以及所述待分析图案的轮廓，分析所述轮廓图形的形状信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种图形分析方法，其特征在于，包括：
获取第一坐标系；
获取待分析图形的轮廓图形的多个第一采样点，并记录所述第一采样点在所述第一坐标系中的二维坐标信息；
将每个所述第一采样点的二维坐标信息转换为复数形式的坐标信息，以获得二维信息矩阵；
利用复数傅里叶变换对所述二维信息矩阵进行处理，以获取所述轮廓图形的形状信息；
其中，利用复数傅里叶变换对所述二维信息矩阵进行处理，以获取所述轮廓图形的形状信息，包括：
利用复数傅里叶变换从所述二维信息矩阵中提取不同类型的变形信息，每个类型的变形信息对应于一个傅里叶级数；
基于所述变形信息，建立基准轮廓；
根据所述基准轮廓以及所述待分析图案的轮廓，分析所述轮廓图形的形状信息。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取第一坐标系包括：
获取待分析图形的轮廓图形，并以所述轮廓图形的内部一点作为原点建立第一坐标系。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述变形信息，建立基准轮廓包括：
将所述变形信息中基准轮廓所对应的傅里叶级数作为待处理基准轮廓信息；
利用逆傅里叶变换对所述待处理基准轮廓信息进行处理，建立基准轮廓。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待分析图形的轮廓图形的多个第一采样点包括：
在所述轮廓图形上确定多个所述第一采样点，相邻所述第一采样点与所述第一坐标系的原点的连线之间的角度相等。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待分析图形的轮廓图形的多个第一采样点包括：
在所述轮廓图形上确定多个所述第一采样点，相邻所述第一采样点与所述第一坐标系的横坐标的垂线之间的距离相同。


6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述第一采样点的数量为2的正整数次幂。


7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将每个所述第一采样点的二维坐标信息转换为复数形式的坐标信息包括：
以所述第一采样点的二维坐标信息中的横轴坐标值作为实数部分，以所述第一采样点的二维坐标信息中的纵轴坐标值作为虚数部分，以将每个所述第一采样点的二维坐标信息转换为复数形式的坐标信息。


8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用复数傅里叶变换对所述二维信息矩阵进行处理，以获取所述轮廓图形的形状信息还包括：
去除提取的变形信息中无用的变形信息，获得待处理信息；
利用逆傅里叶变换对所述待处理信息进行处理，以获得待处理轮廓；
其中，所述将所述形变信息中基准轮廓所对应的傅里叶级数作为待处理基准轮廓信息，包括：将所述待处理信息中的基准轮廓所对应的傅里叶级数作为待处理基准轮廓信息；
所述根据所述基准轮廓以及所述待分析图案的轮廓，分析所述轮廓图形的形状信息，包括：根据所述基准轮廓以及所述待处理轮廓，分析所述轮廓图形的形状信息。


9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据所述基准轮廓以及所述待处理轮廓，分析所述轮廓图形的形状信息包括：
以所述基准轮廓的圆心为原点，建立第二坐标系；
以预设间隔对所述待处理轮廓进行采样，以获得多个第二采样点；
计算所述第二采样点距离所述第二坐标系的原点的...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡蝶，周毅，
申请(专利权)人：长江存储科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42