一种平面显示面板的缺陷检测方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种平面显示面板的缺陷检测方法、装置、设备及介质，用以解决现有缺陷检测中存在漏检的情况，提高缺陷检出率和缺陷检测精度，为后期维修人员提供更加准确全面的缺陷位置。所述平面显示面板的缺陷检测方法，包括：采集所述平面显示面板的侧视角图像；在所述侧视角图像中分割出所述平面显示面板侧视角下的屏幕区域；在所述侧视角下的屏幕区域中，利用预设缺陷检测算法进行缺陷检测，得到侧视角下屏幕区域中的缺陷位置。

【技术实现步骤摘要】
一种平面显示面板的缺陷检测方法、装置、设备及介质
本专利技术涉及平面显示
，尤其涉及一种平面显示面板的缺陷检测方法、装置、设备及介质。
技术介绍
现有的平面显示面板需要在制造完成后进行缺陷检测以判断平面显示面板是否达到制造标准，或者是在平面显示面板的使用过程中出现损坏情况时由后期维修人员进行缺陷检测，更容易准确地确定缺陷位置。然而，在现有缺陷检测的技术方案中，只能对平面显示面板的主视角图像进行缺陷检测，在这种缺陷检测方案下检测的缺陷可能存在漏检的情况，使得缺陷检出率和缺陷检测精度较低，后期维修人员无法准确确定缺陷位置。因此，提出一种新的平面显示面板的缺陷检测方案，以此来解决现有技术存在的问题是非常有必要的。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种平面显示面板的缺陷检测方法、装置、设备及介质，用以解决现有缺陷检测中存在漏检的情况，提高缺陷检出率和缺陷检测精度，为后期维修人员提供更加准确全面的缺陷位置。第一方面，本专利技术实施例提供一种平面显示面板的缺陷检测方法，该方法包括：采集平面显示面板的侧视角图像；在侧视角图像中分割出平面显示面板侧视角下的屏幕区域；在侧视角下的屏幕区域中，利用预设缺陷检测算法进行缺陷检测，得到侧视角下屏幕区域中的缺陷位置。本专利技术实施例提供的平面显示面板的缺陷检测方法，通过采集平面显示面板的侧视角图像，在侧视角图像中分割出平板显示面板侧视角下的屏幕区域，在侧视角下的屏幕区域中，利用预设缺陷检测算法进行缺陷检测，得到侧视角下屏幕区域中的缺陷位置，与现有技术中只能对平面显示面板的主视角图像进行缺陷检测的方法相比，由于有些缺陷仅在侧视角下可见，进行侧视角的缺陷检测能够避免缺陷漏检情况，提高缺陷检出率和缺陷检测精度。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述方法中，该方法还包括：对侧视角下屏幕区域中的缺陷位置进行位置变换，得到侧视角下屏幕区域中的缺陷位置在主视角下的位置；将侧视角下屏幕区域中的缺陷位置在主视角下的位置，标注到预先确定的包含平面显示面板主视角下屏幕区域中缺陷位置的缺陷图像上，得到平面显示面板的缺陷图像。本专利技术实施例提供的平面显示面板的缺陷检测方法，将侧视角下屏幕区域中的缺陷位置转换到主视角下的位置，并将其标注到预先确定的包含平面显示面板主视角下屏幕区域中缺陷位置的缺陷图像上，形成平面显示面板完整的缺陷图像，为后期维修人员提供了准确全面的缺陷位置信息。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述方法中，对侧视角下屏幕区域中的缺陷位置进行位置变换，包括：计算平面显示面板侧视角下屏幕区域的顶点坐标；根据顶点坐标和主视角下屏幕区域的面积，确定用于表征侧视角下屏幕区域中像素点与主视角下屏幕区域中像素点之间坐标转换关系的仿射变换矩阵；利用仿射变换矩阵，对侧视角下屏幕区域中的缺陷位置进行位置变换。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述方法中，预先确定的包含平面显示面板主视角下屏幕区域中缺陷位置的缺陷图像，采用如下方式确定：采集平面显示面板的主视角图像；在主视角图像中分割出平面显示面板主视角下的屏幕区域；在主视角下的屏幕区域中，利用预设缺陷检测算法进行缺陷检测，得到主视角下屏幕区域中的缺陷位置；将主视角下屏幕区域中的缺陷位置标注在主视角图像中，得到包含平面显示面板主视角下屏幕区域中缺陷位置的缺陷图像。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述方法中，预设缺陷检测算法，包括：对屏幕区域进行高斯模糊处理；对高斯模糊处理后的屏幕区域进行灰度拉伸处理；利用局部阈值法在拉伸处理后的屏幕区域中分割出缺陷区域；根据缺陷区域的几何特征进行连通域Blob分析，得到屏幕区域中的有效缺陷区域，并将有效缺陷区域确定为缺陷位置；其中，缺陷区域的几何特征包括：面积和长宽比。第二方面，本专利技术实施例提供一种平面显示面板的缺陷检测装置，该装置包括：采集单元，用于采集平面显示面板的侧视角图像；分割单元，用于在侧视角图像中分割出平面显示面板侧视角下的屏幕区域；检测单元，用于在侧视角下的屏幕区域中，利用预设缺陷检测算法进行缺陷检测，得到侧视角下屏幕区域中的缺陷位置。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述装置中，该装置还包括：位置变换单元，用于对侧视角下屏幕区域中的缺陷位置进行位置变换，得到侧视角下屏幕区域中的缺陷位置在主视角下的位置；标注单元，用于将侧视角下屏幕区域中的缺陷位置在主视角下的位置，标注到预先确定的包含平面显示面板主视角下屏幕区域中缺陷位置的缺陷图像上，得到平面显示面板的缺陷图像。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述装置中，位置变换单元具体用于：计算平面显示面板侧视角下屏幕区域的顶点坐标；根据顶点坐标和主视角下屏幕区域的面积，确定用于表征侧视角下屏幕区域中像素点与主视角下屏幕区域中像素点之间坐标转换关系的仿射变换矩阵；利用仿射变换矩阵，对侧视角下屏幕区域中的缺陷位置进行位置变换。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述装置中，标注单元采用如下方式确定预先确定的包含平面显示面板主视角下屏幕区域中缺陷位置的缺陷图像：采集平面显示面板的主视角图像；在所述主视角图像中分割出所述平面显示面板主视角下的屏幕区域；用于在所述主视角下的屏幕区域中，利用预设缺陷检测算法进行缺陷检测，得到主视角下屏幕区域中的缺陷位置；用于将所述主视角下屏幕区域中的缺陷位置标注在所述主视角图像中，得到包含所述平面显示面板主视角下屏幕区域中缺陷位置的缺陷图像。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述装置中，预设缺陷检测算法，包括：对屏幕区域进行高斯模糊处理；对高斯模糊处理后的屏幕区域进行灰度拉伸处理；利用局部阈值法在拉伸处理后的屏幕区域中分割出缺陷区域；根据缺陷区域的几何特征进行连通域Blob分析，得到屏幕区域中的有效缺陷区域，并将有效缺陷区域确定为缺陷位置；其中，缺陷区域的几何特征包括：面积和长宽比。第三方面，本专利技术实施例提供一种平面显示面板的缺陷检测设备，包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，处理器被配置为执行指令，以实现本专利技术实施例第一方面提供的平面显示面板的缺陷检测方法。第六方面，本专利技术实施例还提供一种存储介质，当存储介质中的指令由平面显示面板的缺陷检测装置的处理器执行时，使得平面显示面板的缺陷检测装置能够执行本专利技术实施例第一方面提供的平面显示面板的缺陷检测方法。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面所介绍的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种平面显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，包括：/n采集所述平面显示面板的侧视角图像；/n在所述侧视角图像中分割出所述平面显示面板侧视角下的屏幕区域；/n在所述侧视角下的屏幕区域中，利用预设缺陷检测算法进行缺陷检测，得到侧视角下屏幕区域中的缺陷位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种平面显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，包括：
采集所述平面显示面板的侧视角图像；
在所述侧视角图像中分割出所述平面显示面板侧视角下的屏幕区域；
在所述侧视角下的屏幕区域中，利用预设缺陷检测算法进行缺陷检测，得到侧视角下屏幕区域中的缺陷位置。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
对所述侧视角下屏幕区域中的缺陷位置进行位置变换，得到所述侧视角下屏幕区域中的缺陷位置在主视角下的位置；
将所述侧视角下屏幕区域中的缺陷位置在主视角下的位置，标注到预先确定的包含所述平面显示面板主视角下屏幕区域中缺陷位置的缺陷图像上，得到所述平面显示面板的缺陷图像。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述侧视角下屏幕区域中的缺陷位置进行位置变换，包括：
计算所述平面显示面板侧视角下屏幕区域的顶点坐标；
根据所述顶点坐标和所述主视角下屏幕区域的面积，确定用于表征所述侧视角下屏幕区域中像素点与主视角下屏幕区域中像素点之间坐标转换关系的仿射变换矩阵；
利用所述仿射变换矩阵，对所述侧视角下屏幕区域中的缺陷位置进行位置变换。


4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预先确定的包含所述平面显示面板主视角下屏幕区域中缺陷位置的缺陷图像，采用如下方式确定：
采集所述平面显示面板的主视角图像；
在所述主视角图像中分割出所述平面显示面板主视角下的屏幕区域；
在所述主视角下的屏幕区域中，利用预设缺陷检测算法进行缺陷检测，得到主视角下屏幕区域中的缺陷位置；
将所述主视角下屏幕区域中的缺陷位置标注在所述主视角图像中，得到包含所述平面显示面板主视角下屏幕区域中缺陷位置的缺陷图像。


5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述预设缺陷检测算法，包括：
对屏幕区域进行高斯模糊处理；
对高斯模糊处理后的屏幕区域进行灰度拉伸处理；
利用局部阈值法在所述拉伸处理后的屏幕区域中分割出缺陷区域；
根据所述缺陷区域的几何特征进行连通域Blob分析，得到屏幕区域中的有效缺陷区域，并将所述有效缺陷区域确定为缺陷位置；
其中，所述缺陷区域的几何特征包括：面积和长宽比。


6.一种平面显示面板的缺陷检测装置，其特征在于，包括：
采集单元，用于采集所述平面显示面板的侧视角图像；
分割单元，用于在所述侧视角图像中分割出所述平面显示面板侧视角下的屏幕区域；
检测单元，用于在所述侧视角下的屏幕区域中，利用预设缺...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁叶，李小明，黄春来，孙旺，张海涛，
申请(专利权)人：合肥欣奕华智能机器有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34