一种测试点定位方法、装置、设备和可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试点定位方法、装置、设备和可读存储介质，包括：获取电路板上的输入信号和元器件编号信息，其中输入信号与元器件编号信息相对应；基于输入信号，定位到所有与输入信号相连的接线点；基于元器件编号信息和接线点，确定表征元器件位置的第一位置信息和表征接线点位置的第二位置信息；基于第一位置信息和第二位置信息，从第二位置信息中选取满足预设条件的接线点信息；基于所选取的接线点信息，确定满足预设需求的测试点。本方案通过电路板上的元器件参数自动获取到合适的测试点，此过程不需要经验丰富的测试人员，同时最终所选择的测试点不受不同测试人员的主观影响，进而使得最终的测试质量稳定，不影响以后的测试结果比对。

【技术实现步骤摘要】
一种测试点定位方法、装置、设备和可读存储介质
本专利技术涉及电子电路
，尤其涉及一种测试点定位方法、装置、设备和可读存储介质。
技术介绍
现有生产的电路板需要对其进行测试，测试包括电器元件的电压测试，现有技术中，找寻最佳测试点是通过测试人员复杂的操作还有丰富的经验实现的，这样对测试人员技术水平要求高，测试效率低，不同测试人员选取的测试点随机性较大，测试质量不稳定，对于以后的测试结果比对有很大影响。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种测试点定位方法、装置、设备和可读存储介质，具有不受不同测试人员的主观影响，进而使得最终的测试质量稳定，不影响以后的测试结果比对的技术效果。本专利技术一方面提供一种测试点定位方法，所述方法包括：获取电路板上的输入信号和元器件编号信息，其中所述输入信号与元器件编号信息相对应；基于所述输入信号，定位到所有与所述输入信号相连的接线点；基于所述元器件编号信息和所述接线点，确定表征元器件位置的第一位置信息和表征接线点位置的第二位置信息；基于所述第一位置信息和第二位置信息，从所述第二位置信息本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试点定位方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取电路板上的输入信号和元器件编号信息，其中所述输入信号与元器件编号信息相对应；/n基于所述输入信号，定位到所有与所述输入信号相连的接线点；/n基于所述元器件编号信息和所述接线点，确定表征元器件位置的第一位置信息和表征接线点位置的第二位置信息；/n基于所述第一位置信息和第二位置信息，从所述第二位置信息中选取满足预设条件的接线点信息；/n基于所选取的接线点信息，确定满足预设需求的测试点。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试点定位方法，其特征在于，所述方法包括：
获取电路板上的输入信号和元器件编号信息，其中所述输入信号与元器件编号信息相对应；
基于所述输入信号，定位到所有与所述输入信号相连的接线点；
基于所述元器件编号信息和所述接线点，确定表征元器件位置的第一位置信息和表征接线点位置的第二位置信息；
基于所述第一位置信息和第二位置信息，从所述第二位置信息中选取满足预设条件的接线点信息；
基于所选取的接线点信息，确定满足预设需求的测试点。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取电路板上的输入信号和元器件编号信息，包括：
获取对应于所述电路板的参数信息；
基于所述参数信息，获取电路板上的输入信号和元器件编号信息。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设条件为：
(X-x)2+(Y-y)2≤N2，其中X为元器件横坐标位置，Y为元器件纵坐标位置，x为接线点横坐标位置，y为接线点纵坐标位置，N为预设固定值。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所选取的接线点信息，确定满足预设需求的测试点，包括：
计算各个所述接线点信息与第一位置信息之间的距离差，选取最短距离差的接线点信息确定为测试点；
或，确定所述接线点信息所对应的元器件型号，选取满足预设元器件型号的接线点信息确定为测试点；
或，确定所述接线点信息所对应的元器件类型，选取满足预设元器件类型的接线点信息确定为测试点。


5.一种测试点定位装置，其特征在于，所述装置包括：
信息获取模块，用于获取电路板上的输入信号和元器件编号信息，其中所述输入信号与元器件编号信息相对应；
接线点确定模块，用于基于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐小军，周旭，马晓东，
申请(专利权)人：合肥联宝信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34