具有多个时钟域的电路的测试制造技术

一种具有多个子电路（１２ａ，１２ｂ）的电子电路。时钟选通电路（１４ａ，１４ｂ）向子电路的数据存储元件（１２０，１２２）提供选通的时钟信号（ＧＣＬＫ１，ＧＣＬＫ２）。时钟选通电路具有用于接收选通信号（ＳＴＯＰ）的选通输入端，该选通信号（ＳＴＯＰ）命令中断传输时钟信号。可以在两个子电路之间的数据存储元件之间传输数据。检测电路（１６）标记子电路中的第二子电路（１２ｂ）的数据存储元件（１２２）中的无效数据。检测器电路具有标记存储元件（３２），用于在子电路中的第一子电路的时钟选通已经中断子电路中的第一子电路（１２ａ）的时钟信号之后，子电路中的第二子电路（１２ｂ）的时钟选通电路（１４ｂ）传输子电路中的第二子电路的时钟信号时，所述标记存储元件（３２）被配置来设置标记。该标记表示了当时钟被停止时不同子电路的时钟信号的相对相位。该标记被用来使得子电路中的第二子电路（１２ｂ）的数据存储元件中的数据无效。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及包括多个时钟域的电子电路以及测试这种电子电路的方法。出于多种原因，集成电路正在不断地分裂成多个时钟域，该多个时钟域具有它们自己的时钟信号(这种分裂通常仅仅是功能意义上的，而不是物理意义上的)。使用不同的时钟域降低了用于不同的子域的时钟信号的倾斜失真的要求，并且该不同的时钟域的使用还可被用来例如降低电路的功率消耗。在具有多个时钟域的电路中，不同时钟域的时钟信号在例如相位、频率或者占空比等方面互不相同。在每个域中，可以独立于其他的时钟域而在该时钟域中可关断向子电路提供时钟信号。遗憾的是，使用不同的时钟域使得测试和调试电子电路更加困难。美国专利号为No6131173的专利中描述了缓解这些困难的解决方案。在两个时钟域之间的接口处，插入一个接口电路使得在测试模式中可以将不同的时钟域互相隔离。这个接口使得有可能向该隔离的时钟域提供测试数据或者是从该隔离的时钟域中提取测试数据。然而在不同的时钟域互相合作的时候，这项技术不可能测试或者调试来自不同时钟域的子电路。为了调试这种合作上的操作，使得子电路相合作同时每个子电路用它自己的时钟信号计时则是必须的。当测试器、调试器或者芯片上的调本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子电路，包括：时钟电路（１０）；多个子电路（（１２ａ，１４ａ），（１２ｂ，１４ｂ）），每个子电路包括钟控数据存储元件（１２０，１２２）和耦合在子电路（（１２ａ，１４ａ），（１２ｂ，１４ｂ））的时钟信号（ＣＬＫ１，ＣＬＫ ２）的时钟电路（１０）的输出端与子电路（（１２ａ，１４ａ），（１２ｂ，１４ｂ））的数据存储元件（１２０，１２２）的时钟输入端之间的时钟选通电路（１４ａ，１４ｂ），时钟选通电路（１４ａ，１４ｂ）具有选通输入端（１４８），用于接收命令中断将时钟信号从时钟电路（１０）传输到数据存储元件（１２０，１２２）的选通信号，子电路中的第一子电路（１２ａ，１４...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：HGH维穆伦，SK戈尔，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]