一种电子器件散热性能测试方式及其热阻测试仪制造技术

本发明专利技术公开一种电子器件散热性能测试方式及其热阻测试仪，包括工作台和放置台，工作台的顶端两侧中部均焊接有底柱，放置台的底端两侧分别与两个底柱上端焊接，放置台的顶端中部放置有电子器件本体，电子器件本体的上端一侧放置有导热板，工作台的上端放置有框体，框体的顶端远离导热板的一侧通过螺栓固定连接有热阻测试仪本体，本发明专利技术的有益效果包括：热量从散热孔散出，可以通过热阻测试仪本体测量在第一扇叶运作时电子器件本体的散热效果，通过设置电动伸缩杆和调节机构，打开电动伸缩杆使得调节机构的两个齿轮啮合，可以使得第一扇叶与第二扇叶同时转动，改变散热效果，可以测试不同数量的外设散热风扇的散热效果。

【技术实现步骤摘要】
一种电子器件散热性能测试方式及其热阻测试仪
本专利技术涉及电子器件性能测试设备
，具体为一种电子器件散热性能测试方式及其热阻测试仪。
技术介绍
电子器件在进行安装前，需要进行散热性能测试，以确保电子器件安装在设备内部时具备良好的散热效果，保证电子器件的使用效果，在进行电子器件的散热性测试时，需要利用热阻测试仪测试器件表面温度得到热阻值进行检测。现有技术下，在进行电子器件的测试时一般是直接通过改变器件温度来测试电阻值，但是无法测量出电子器件配备外置散热元件时起到的散热效果。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种电子器件散热性能测试方式及其热阻测试仪，以解决上述
技术介绍
中提出的在进行电子器件的测试时一般是直接通过改变器件温度来测试电阻值，但是无法测量出电子器件配备外置散热元件时起到的散热效果问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种热阻测试仪，包括工作台和放置台，所述工作台的顶端两侧中部均焊接有底柱，所述放置台的底端两侧分别与两个底柱上端焊接，所述放置台的顶端中部放置有电子器件本体，所述电子器件本体的上端一侧放置有导热板，所述工作台的上端放置有框体，所述框体的顶端远离导热板的一侧通过螺栓固定连接有热阻测试仪本体，所述导热板的接线端连接有导线，所述导线的上端贯穿框体的顶端且与热阻测试仪本体的接线端连接，所述框体的内部顶端且位于电子器件本体的上方设置有散热机构，所述散热机构包括第一电机，所述第一电机通过固定座固定连接于框体的内部顶端，所述第一电机的输出端通过联轴器固定连接有连接轴，所述连接轴的表面焊接有第一扇叶。在进一步的实施例中，所述散热机构远离热阻测试仪本体的一侧设置有调节机构，所述调节机构包括侧块，所述侧块焊接于第一电机的固定座表面远离热阻测试仪本体的一端，所述侧块的底端转动连接有底轴，所述底轴的底端焊接有第一转轮，所述第一转轮靠近第一电机的一侧设置有第二转轮，所述第二转轮固定套接于连接轴的中部，所述第二转轮与第一转轮之间传动连接有传动带，所述侧块远离第一电机的一端插接有插杆，所述插杆位于侧块外部的底端转动连接有侧轴，所述侧轴与底轴的表面均固定套接有齿轮，两个所述齿轮啮合连接，所述侧轴的底端固定连接有第二扇叶。在进一步的实施例中，所述放置台的下方设置有限位机构，所述限位机构包括第二电机，两个所述底柱之间焊接有支撑杆，所述第二电机通过固定座固定连接于支撑杆的底端，所述第二电机的输出端上端转动连接于放置台的底端中部，所述第二电机的输出端上固定套接有第一伞齿，所述第一伞齿的两侧均啮合连接有第二伞齿，两个所述第二伞齿相互远离的一侧中部均焊接有丝杆，所述丝杆远离第二伞齿的一端与底柱转动连接，所述丝杆上均螺纹连接有移动块，所述移动块的上端焊接有连接杆，所述放置台的上端两侧均开设有通槽，所述通槽均贯穿放置台，两个所述连接杆分别贯穿两个通槽，所述连接杆的上端均固定连接有限位块，所述电子器件本体夹持于两个限位块之间，远离所述热阻测试仪本体的限位块上部开设有插孔，所述导热板远离导线一端插接于插孔内。在进一步的实施例中，所述框体的两侧均设置有移动机构，所述移动机构均包括升降块，两个所述升降块分别焊接于框体的两侧下部表面，所述升降块的中部均螺纹连接有螺杆，所述螺杆的上端均焊接有顶块，所述工作台的内部开设有空腔，两个所述螺杆分别贯穿工作台顶端两侧的通孔且转动连接于工作台的内部底端两侧，所述螺杆位于工作台内部的一端均固定套接有第三伞齿，两个所述第三伞齿相互远离的一侧均啮合连接有第四伞齿，两个所述第四伞齿相互远离的一侧中部均焊接有中轴，两个所述中轴分别贯穿工作台的两侧且固定连接有握把。在进一步的实施例中，所述插杆远离第一电机的一端焊接有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆远离插杆的一端通过固定座固定连接于框体的内部顶端。在进一步的实施例中，所述框体的顶端远离热阻测试仪本体的一侧开设有散热孔，所述散热孔与第二扇叶对应。在进一步的实施例中，所述放置台的顶端中部对应电子器件本体开设有顶槽，所述顶槽内嵌合有加热片，所述加热片上端与电子器件本体的底端相接触。优选的，采用上述电子器件散热性能测试方式，其具体使用步骤为：S1、将待检测的电子器件放置在放置台上，将电子器件本体封闭在框体内，避免测试时热量散失，接着对电子器件本体的表面热量进行调节，电子器件本体的热量传递至导热板上，通过导线传递至热阻测试仪本体，热阻测试仪本体会显示热阻值，操作人员可记录一定时间段后电子器件本体的热阻值变化，得到电子器件本体的散热效果；S2、需要测试外设散热风扇时的散热效果时，打开第一电机带动连接轴转动，使得第一扇叶转动，对电子器件本体进行散热，可以测量在第一扇叶运作时电子器件本体的散热效果。S3、需要测试不同数量的外设散热风扇的散热效果时，打开电动伸缩杆带动插杆插接在侧块中时，两个齿轮随之啮合，打开第一电机带动连接轴转动，连接轴通过第一转轮、第二转轮和传动带的传动带动底轴上的齿轮转动，从而带动侧轴转动，可以使得第一扇叶与第二扇叶转动，对电子器件本体进行散热，可以测量在第一扇叶和第二扇叶运作时电子器件本体的散热效果。与现有技术相比，本专利技术的有益效果包括：1.本专利技术中，通过设置散热机构，需要测试外设散热风扇时的散热效果时，打开散热机构的第一电机带动第一扇叶转动，使得热量从散热孔散出，可以通过热阻测试仪本体测量在第一扇叶运作时电子器件本体的散热效果。2.本专利技术中，通过设置电动伸缩杆和调节机构，打开电动伸缩杆使得调节机构的两个齿轮啮合，可以使得第一扇叶与第二扇叶同时转动，改变散热效果，可以测试不同数量的外设散热风扇的散热效果。3.本专利技术中，通过设置移动机构，利用移动机构的传动带动升降块下移，可以带动与升降块固定的框体随之下移至工作台的顶端，可以将电子器件本体封闭在框体内，避免测试时热量散失。附图说明图1为本专利技术的主视剖切结构示意图；图2为本专利技术的限位机构连接处的剖切结构示意图；图3为本专利技术的第一扇叶与第二扇叶连接处的结构示意图；图4为本专利技术的第三伞齿与第四伞齿连接处的结构示意图；图5为本专利技术的放置台的俯视结构示意图。图中：1、工作台；2、放置台；3、底柱；4、电子器件本体；5、顶槽；6、加热片；7、导热板；8、导线；9、框体；10、热阻测试仪本体；11、散热机构；111、第一电机；112、连接轴；113、第一扇叶；12、调节机构；121、插杆；122、底轴；123、侧块；124、侧轴；125、第二扇叶；126、齿轮；127、第一转轮；128、传动带；129、第二转轮；13、电动伸缩杆；14、限位机构；141、第二电机；142、第一伞齿；143、第二伞齿；144、丝杆；145、移动块；146、连接杆；147、限位块；15、支撑杆；16、插孔；17、移动机构；171、第三伞齿；172、第四伞齿；173、中轴；174、握把；175、螺杆；176、升降块；18、通槽；19、散热孔。具体实施方式为了本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种热阻测试仪，包括工作台(1)和放置台(2)，所述工作台(1)的顶端两侧中部均焊接有底柱(3)，所述放置台(2)的底端两侧分别与两个底柱(3)上端焊接，所述放置台(2)的顶端中部放置有电子器件本体(4)，所述电子器件本体(4)的上端一侧放置有导热板(7)，所述工作台(1)的上端放置有框体(9)，所述框体(9)的顶端远离导热板(7)的一侧通过螺栓固定连接有热阻测试仪本体(10)，所述导热板(7)的接线端连接有导线(8)，所述导线(8)的上端贯穿框体(9)的顶端且与热阻测试仪本体(10)的接线端连接，所述框体(9)的内部顶端且位于电子器件本体(4)的上方设置有散热机构(11)，所述散热机构(11)包括第一电机(111)，所述第一电机(111)通过固定座固定连接于框体(9)的内部顶端，所述第一电机(111)的输出端通过联轴器固定连接有连接轴(112)，所述连接轴(112)的表面焊接有第一扇叶(113)。/n

【技术特征摘要】
1.一种热阻测试仪，包括工作台(1)和放置台(2)，所述工作台(1)的顶端两侧中部均焊接有底柱(3)，所述放置台(2)的底端两侧分别与两个底柱(3)上端焊接，所述放置台(2)的顶端中部放置有电子器件本体(4)，所述电子器件本体(4)的上端一侧放置有导热板(7)，所述工作台(1)的上端放置有框体(9)，所述框体(9)的顶端远离导热板(7)的一侧通过螺栓固定连接有热阻测试仪本体(10)，所述导热板(7)的接线端连接有导线(8)，所述导线(8)的上端贯穿框体(9)的顶端且与热阻测试仪本体(10)的接线端连接，所述框体(9)的内部顶端且位于电子器件本体(4)的上方设置有散热机构(11)，所述散热机构(11)包括第一电机(111)，所述第一电机(111)通过固定座固定连接于框体(9)的内部顶端，所述第一电机(111)的输出端通过联轴器固定连接有连接轴(112)，所述连接轴(112)的表面焊接有第一扇叶(113)。


2.根据权利要求1所述的一种热阻测试仪，其特征在于：所述散热机构(11)远离热阻测试仪本体(10)的一侧设置有调节机构(12)，所述调节机构(12)包括侧块(123)，所述侧块(123)焊接于第一电机(111)的固定座表面远离热阻测试仪本体(10)的一端，所述侧块(123)的底端转动连接有底轴(122)，所述底轴(122)的底端焊接有第一转轮(127)，所述第一转轮(127)靠近第一电机(111)的一侧设置有第二转轮(129)，所述第二转轮(129)固定套接于连接轴(112)的中部，所述第二转轮(129)与第一转轮(127)之间传动连接有传动带(128)，所述侧块(123)远离第一电机(111)的一端插接有插杆(121)，所述插杆(121)位于侧块(123)外部的底端转动连接有侧轴(124)，所述侧轴(124)与底轴(122)的表面均固定套接有齿轮(126)，两个所述齿轮(126)啮合连接，所述侧轴(124)的底端固定连接有第二扇叶(125)。


3.根据权利要求1所述的一种热阻测试仪，其特征在于：所述放置台(2)的下方设置有限位机构(14)，所述限位机构(14)包括第二电机(141)，两个所述底柱(3)之间焊接有支撑杆(15)，所述第二电机(141)通过固定座固定连接于支撑杆(15)的底端，所述第二电机(141)的输出端上端转动连接于放置台(2)的底端中部，所述第二电机(141)的输出端上固定套接有第一伞齿(142)，所述第一伞齿(142)的两侧均啮合连接有第二伞齿(143)，两个所述第二伞齿(143)相互远离的一侧中部均焊接有丝杆(144)，所述丝杆(144)远离第二伞齿(143)的一端与底柱(3)转动连接，所述丝杆(144)上均螺纹连接有移动块(145)，所述移动块(145)的上端焊接有连接杆(146)，所述放置台(2)的上端两侧均开设有通槽(18)，所述通槽(18)均贯穿放置台(2)，两个所述连接杆(146)分别贯穿两个通槽(18)，所述连接杆(146)的上端均固定连接有限位块(147)，所述电子器件本体(4)夹持于两个限位块(147)之间，远离所述热阻测试仪本体(10)的限位块(14...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎文灏，张晶，王磊，刘丁航，姚俊宇，
申请(专利权)人：深圳市中科华工科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44