象限光电探测器频率响应特性参数测量装置制造方法及图纸

技术编号:28619802 阅读:52 留言:0更新日期:2021-05-28 16:15
本发明专利技术涉及一种象限光电探测器频率响应特性参数测量装置,属于光电检测领域。本发明专利技术的装置包括扫频激光激励光源1、光纤分束模块2、高速光电探测模块3、激光聚焦扫描模块4、象限光电探测器适配模块5、信号调理模块6、高速数据采集存储模块7、数据处理模块8以及输入输出接口模块9,本发明专利技术利用高速扫频激光信号作为激励,结合基于激光探测器等效电路模型的激光探测器频率响应参数拟合算法,实现象限光电探测器频率响应特性参数测量,实现象限光电探测器频率响应特性参数测量,有效解决了现有光电探测器频率响应特性参数测量装置测量过程繁琐,测试耗时长且易受外界噪声干扰的问题,满足象限光电探测器的科研生产的测量需求。

【技术实现步骤摘要】
象限光电探测器频率响应特性参数测量装置
本专利技术属于光电检测
,具体涉及一种象限光电探测器频率响应特性参数测量装置。
技术介绍
象限光电探测器作为激光制导类装备捕获目标、判断目标位置的重要部件,主要用于接收导引脉冲激光信号进行光电转换。频率响应特性参数作为表征光电探测器对不同频率光信号激励响应能力的核心参数是评价象限光电探测器性能的重要技术指标,因此,象限光电探测器的研制、生产及装配过程中,需要对其频率响应特性参数进行严格测试。目前,光电探测器频率响应特性参数测量装置通常采用单频正弦激励信号作为激励源,在光电探测器的工作频段内从低频到高频选取若干测试点,逐个频点进行稳态测试,测量过程繁琐,而且由于象限光电探测器由多个象元组成,需对每个象元进行逐一扫描测试,因此完成一个象限光电探测器全频段的频率响应特性测试耗费时间很长,效率极低,难以满足象限光电探测器生产、检验的使用要求。同时,由于测量装置的工作频带宽、测量时间长,外界噪声干扰将降低频率响应特性参数的测量准确性。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种象限光电探测器频率响应特性参数测量装置,其特征在于,所述装置包括扫频激光激励光源(1)、光纤分束模块(2)、高速光电探测模块(3)、激光聚焦扫描模块(4)、象限光电探测器适配模块(5)、信号调理模块(6)、高速数据采集存储模块(7)、数据处理模块(8)以及输入输出接口模块(9);/n所述扫频激光激励光源(1)用于提供扫频激光激励信号,其通过单模光纤与所述光纤分束模块(2)连接;/n所述光纤分束模块(2)用于激励激光信号进行功率分配,通过单模光纤分别与所述高速光电探测模块(3)和所述激光聚焦扫描模块(4)连接;/n所述高速光电探测模块(3)与所述高速数据采集存储模块(7)连接,实现激励激...

【技术特征摘要】
1.一种象限光电探测器频率响应特性参数测量装置,其特征在于,所述装置包括扫频激光激励光源(1)、光纤分束模块(2)、高速光电探测模块(3)、激光聚焦扫描模块(4)、象限光电探测器适配模块(5)、信号调理模块(6)、高速数据采集存储模块(7)、数据处理模块(8)以及输入输出接口模块(9);
所述扫频激光激励光源(1)用于提供扫频激光激励信号,其通过单模光纤与所述光纤分束模块(2)连接;
所述光纤分束模块(2)用于激励激光信号进行功率分配,通过单模光纤分别与所述高速光电探测模块(3)和所述激光聚焦扫描模块(4)连接;
所述高速光电探测模块(3)与所述高速数据采集存储模块(7)连接,实现激励激光信号功率计波形监测;
所述激光聚焦扫描模块(4)与所述象限光电探测器适配模块(5)进行刚性连接,被测象限光电探测器固定安装在所述象限光电探测器适配模块(5)上,所述激光聚焦扫描模块(4)将扫频激光激励信号聚焦后输入所述被测象限光电探测器待测象元;
所述象限光电探测器适配模块(5)用于待测象元响应电信号选通输出,并顺次连接所述信号调理模块(6)以及所述高速数据采集存储模块(7),实现待测象元响应电信号波形测量;
所述数据处理模块(8)分别与所述激光聚焦扫描模块(4)、所述象限光电探测器适配模块(5)以及所述高速数据采集存储模块(7)连接,用于控制所述激光聚焦扫描模块(4)和所述象限光电探测器适配模块(5)实现象限光电探测器逐象元扫描测试,并解算待测象元频率响应特性参数;
所述输入输出接口模块(9)与所述数据处理模块(8)连接,用于测量结果传输、显示并提供人机交互界面。


2.如权利要求1所述的象限光电探测器频率响应特性参数测量装置,其特征在于,所述扫频激光激励光源(1)采用光外差技术产生高频信号,通过温度调谐方法,实现信号频率调整,温度调节速率为0.3℃/s,温度调节精度为0.15℃,无需外部控制,实现频率范围为DC~1GHz,扫频周期为1s的扫频激光信号输出。


3.如权利要求1所述的象限光电探测器频率响应特性参数测量装置,其特征在于,所述光纤分束模块(2)包括光纤分束器,用于扫频激励激光功率分配,其中光纤分束器分束比为1:1。


4.如权利要求1所述的象限光电探测器频率响应特性参数测量装置,其特征在于,所述高速光电探测模块(3)采用带宽为3GHz的直流耦合InGaAs光电探测器,在DC~1GHz的频段内,频率响应特性曲线的平坦度优于1%。<...

【专利技术属性】
技术研发人员:孟庆安樊红英蒋泽伟张浩陈好王询高伟翔
申请(专利权)人:西南技术物理研究所
类型:发明
国别省市:四川;51

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