【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种片载系统(SOC)，更加特别地，涉及一种具有内建自检电路的片载系统及该SOC的自检方法。
技术介绍
通常，使用自动测试设备(ATE)采用的扫描测试方法来测试片载系统(SOC)的工作特性。美国专利No.4,763,066中公开了一种传统ATE的示例。该ATE通过向SOC施加激励信号并检查SOC对该激励信号的响应信号来测试SOC的缺陷。若SOC的响应信号在可接受的误差范围内则该测试的最终结果为“通过”，而若响应信号在可接受的误差范围之外则为“不合格”。图1为传统SOC 10和ATE 20的方框图。参照图1，SOC 10包括连接至系统总线40的知识产权(IP，intellectual property)模块50至80。ATE 20连接至SOC 10的焊盘30，并通过经系统总线40向每个IP模块50至80顺序施加激励信号来测试SOC 10。这里，每个IP模块50至80包括由ATE 20使用的用于扫描测试的测试信号通路。图2为包括在图1的SOC 10中的IP模块50的内部结构的视图。参照图2，IP模块50包括组合电路51至53、多路复用器54至56、以...
【技术保护点】
一种具有内建自检电路的片载系统（ＳＯＣ），该ＳＯＣ包括：知识产权（ＩＰ）模块，每个ＩＰ模块都具有响应经系统总线接收的控制数据而在正常模式和测试模式之一下工作的内建自检（ＢＩＳＴ）逻辑电路，其中当ＢＩＳＴ逻辑电路在测试模式下工作时，Ｂ ＩＳＴ逻辑电路输出测试结果数据；以及ＢＩＳＴ控制单元，其在测试模式下通过将控制数据、指令信号、测试模式数据和测试地址信号经系统总线传输至ＢＩＳＴ逻辑电路来测试ＩＰ模块，并压缩和存储经系统总线接收的测试结果数据。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：辛宗哲，金钟镐，罗海英，曹奇源，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]
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