【技术实现步骤摘要】
一种喷射模组和清洗剂回收系统
本专利技术涉及晶圆制造
,尤其涉及一种喷射模组和清洗剂回收系统。
技术介绍
晶圆是指制作硅半导体电路所用的晶片,晶圆清洗,将晶圆在不断被加工成形及抛光处理的过程中,由于与各种有机物、粒子及金属接触而产生的污染物清除的工艺。是晶圆制造过程中的一个重要工艺步骤。在半导体清洗工艺,尤其是高阶晶圆产品如逻辑集成电路,存储,功率器件等相关的晶圆产品,在制造过程中,通过繁复的各种光刻,湿法,沉积,氧化等相关的工艺进行处理,在每一个过程之前或之后执行清洗衬底的过程来去除每个过程中产生的异物和颗粒,确保后续的工艺良率的正确性与再现性。在晶圆单片进行清洗时常使用各种清洗剂进行搭配使用,然而现有技术中,对清洗剂例如硫酸的回收率不高,造成资源浪费,增加生产成本。
技术实现思路
本专利技术提供一种喷射模组和清洗剂回收系统,旨在解决现有技术中对清洗剂的回收率低下生产成本较高等技术问题。一种喷射模组,用于清洗一晶圆的表面,包括:支撑杆;喷头,所述喷头连接所述支撑杆的上端,所述喷头上固定连接一喷嘴;所述喷嘴包括第一注入通道,所述第一注入通道连通一用于输入第一清洗剂的第一输入管道;所述第一输入管道上设置一第一三通阀门,通过所述第一三通阀门连通一回程管道;所述第一三通阀门包括第一通道和第二通道,用于根据一输入控制指令开启第一通道将所述第一清洗剂输入所述喷嘴,根据一回程控制指令关闭所述第一通道,开启所述第二通道,将所述第一清洗剂输入所 ...
【技术保护点】
1.一种喷射模组,用于清洗一晶圆(10)的表面,其特征在于,包括:/n支撑杆(11);/n喷头(12),所述喷头(12)连接所述支撑杆(11)的上端,所述喷头(12)上固定连接一喷嘴(13);/n所述喷嘴(13)包括第一注入通道(131),所述第一注入通道(131)连通一用于输入第一清洗剂的第一输入管道(15);/n所述第一输入管道(15)上设置一第一三通阀门(18),通过所述第一三通阀门连通一回程管道(16);/n所述第一三通阀门(18)包括第一通道和第二通道,用于根据一输入控制指令开启第一通道将所述第一清洗剂输入所述喷嘴(13),根据一回程控制指令关闭所述第一通道,开启所述第二通道,将所述第一清洗剂输入所述回程管道(16)进行回收。/n
【技术特征摘要】
1.一种喷射模组,用于清洗一晶圆(10)的表面,其特征在于,包括:
支撑杆(11);
喷头(12),所述喷头(12)连接所述支撑杆(11)的上端,所述喷头(12)上固定连接一喷嘴(13);
所述喷嘴(13)包括第一注入通道(131),所述第一注入通道(131)连通一用于输入第一清洗剂的第一输入管道(15);
所述第一输入管道(15)上设置一第一三通阀门(18),通过所述第一三通阀门连通一回程管道(16);
所述第一三通阀门(18)包括第一通道和第二通道,用于根据一输入控制指令开启第一通道将所述第一清洗剂输入所述喷嘴(13),根据一回程控制指令关闭所述第一通道,开启所述第二通道,将所述第一清洗剂输入所述回程管道(16)进行回收。
2.如权利要求1所述的一种喷射模组,其特征在于,所述喷嘴(13)包括第二注入通道(132),所述第二注入通道(132)连通一用于输入第二清洗剂的第二输入管道(17);
所述喷嘴(13)用于将所述第一清洗剂和所述第二清洗剂进行混合后向下方的晶圆表面喷射混合液。
3.如权利要求2所述的一种喷射模组,其特征在于,所述第一输入管道(15)、所述第二输入管道(17)和所述回程管道(16)均埋入所述支撑杆(11)和所述喷头(12)的内部。
4.如权利要求3所述的一种喷射模组,其特征在于,所述第一三通阀门(18)设置于所述喷头(12)的内部。
5.如权利要求2所述的一种喷射模组,其特征在于,所述支撑杆(11)的下端连接一驱动构件(14),所述驱动构件(14)用于驱动所述支撑杆(11)进行升降运动以控制所述喷嘴(13)和所述晶圆(10)的表面的相对高度,还用于驱动所述支撑杆(11)进行旋转运动,以控制所述喷嘴(13)往复旋转对所述晶圆(10)喷射所述混合液。
6.一种清洗剂回收系统,其特征在于,包含如权利要求1-4任意一项所述的一种喷射模组,用于对晶圆使用的第一清洗剂进行回收,包括:
第一供酸模组(2),用于通过所述第一输入管道(15)向所述喷嘴(13)输入所述第一清洗剂;<...
【专利技术属性】
技术研发人员:邓信甫,国天增,刘大威,陈丁堃,
申请(专利权)人:上海至纯洁净系统科技股份有限公司,至微半导体上海有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。