错误核对与校正功能测试方法技术

一种错误核对与校正功能测试方法，由具有错误核对与校正功能的一北桥芯片组与一内存模块配合应用，其中内存模块具有多个存储单元及一同位数据缓存器，而同位数据缓存器具有一数据闩锁接脚，且由一信号产生单元提供一第一电平信号至数据闩锁接脚，测试方法包含以下步骤：首先，由北桥芯片组将一第一数据分别写入这些存储单元与同位数据缓存器；接着，提供一第二电平信号至同位数据缓存器的数据闩锁接脚，使同位数据缓存器无法写入数据；接着，由北桥芯片组将一第二数据分别写入这些存储单元与同位数据缓存器；最后，由北桥芯片组判断这些存储单元中的数据与同位数据缓存器中的数据是否相同。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种测试方法，特别关于一种。
技术介绍
在计算机应用技术的发展下，中央处理单元(central processing unit，CPU)由8086时代为16位(bit)的处理器发展至今的64位的处理器，其处理速度有着非常显著的进步，再加上市面上也有双CPU的系统存在，也将处理速度及效能提高许多。然而，当处理运算速度越快，对内存数据存取时则越容易发生数据存取错误。当计算机在执行程序时发生内存存取错误(RAM accesserror)时，会使得程序宕机，严重时则必须重新激活系统才得以回复；此时若有对使用者来说是重要的数据而未存盘时，则会造成使用者严重的损失，若是在数据量庞大的服务器发生当机而需重新开机，其损失将更为可观。因此，业者发展出一种错误核对与校正(error checkingand correcting，ECC)功能，以避免发生上述状况。目前市面上一般是利用具有错误核对与校正功能的北桥芯片组与内存模块搭配使用，才能有效的达到错误核对与校正功能。错误核对与校正功能的实现原理在每个字节中增加一个校验位，并以此为基础来判断数据正确与否。普通的DDR/DDR2内存模块为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种错误核对与校正功能测试方法，其由具有错误核对与校正功能的一北桥芯片组与一内存模块配合应用，其特征在于，该内存模块具有多个存储单元及一同位数据缓存器，该同位数据缓存器具有一数据闩锁接脚，且由一信号产生单元提供一第一电平信号至该数据闩锁接脚，该测试方法包含：由该北桥芯片组将一第一数据分别写入这些存储单元与该同位数据缓存器；提供一第二电平信号至该同位数据缓存器的该数据闩锁接脚，使该同位数据缓存器无法写入数据；由该北桥芯片组将一第二数据分别写入这些存储单元 与该同位数据缓存器；以及由该北桥芯片组判断这些存储单元中的数据与该同位数据缓存器中的数据是否相同...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱修明，何宽瑞，吴宗哲，
申请(专利权)人：威盛电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]