一种适用于双色织机的探纬装置及探纬方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种适用于双色织机的探纬装置及探纬方法，包括电源，电源并联有反相器、第一供电模块，反相器依次连接有第二供电模块、第二探纬器，第一供电模块连接有第一探纬器。通过反相器，将电源输入的高低电平信号进行转换，在织机运行过程中自动进行两个探纬器的切换，减轻人力更换单色探纬器成本。方法简单，易于操作。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于双色织机的探纬装置及探纬方法
本专利技术属于
，涉及一种适用于双色织机的探纬装置，还涉及上述探纬装置的探纬方法。
技术介绍
现有技术中，在纱线织造的过程中，探纬器采用反射式光电探测原理，由柱状透镜，发光器，受光器，壳体等组成。其中，发光器即由发光二极管与电源之间的驱动电路组成，受光器即由光敏二极管与信号处理电路组成。织机正常工作时，每引入一纬，接收管的光通量不发生变化，当缺纬或短纬时，红外光线的反射量发生变化，接收管收到的光通量也发生变化，经模块转化为电信号输出至控制电路。在织造过程中，如需更换纱线颜色时，现有技术通常需要人为更换另一敏感度适配的探纬器进行相应颜色纱线探纬工作。但这往往需要花费时间与人力进行更换。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种适用于双色织机的探纬装置，解决了现有技术中存在的需要人工更换探纬器的问题。本专利技术所采用的技术方案是，一种适用于双色织机的探纬装置，包括电源，电源并联有反相器、第一供电模块，反相器依次连接有第二供电模块、第二探纬器，第一供电模块连接有第一探纬器。本专利技术的特点还在于：第二探纬器、第一探纬器结构相同，均包括发光部VL和受光信号检测放大电路，发光部VL正极与电源连接，负极接地；受光信号检测放大电路包括晶体管V1，晶体管V1发射极分别连接有晶体管V2、电阻R1，晶体管V2发射极、电阻R1自由端接地，晶体管V1集电极依次连接有电阻R3、运算放大器N1、二极管D，电阻R3与运算放大器N1同相输入端连接，电阻R3还与电源连接，运算放大器N1反相输入端分别连接有电阻R6、电阻R4、电阻R5，电阻R6自由端与电源连接，电阻R4自由端接地，电阻R5自由端连接在运算放大器输出端。反相器输入端连接电源，输出端分别与第二探纬器的发光部VL正极、晶体管V1集电极、晶体管V2集电极、电阻R3、电阻R6连接。本专利技术的另一目的是提供一种适用于双色织机的探纬装置的探纬方法。本专利技术所采用的另一技术方案是，一种适用于双色织机的探纬装置的探纬方法，采用上述的一种适用于双色织机的探纬装置，包括以下步骤：步骤1、电源输入高电平信号，驱动第一探纬器工作，高电平信号经过反相器输出低电平，第二探纬器的发光部VL不工作；步骤2、电源输入低电平信号，第一探纬器停止工作，低电平信号经过反相器输出高电平，切换至第二探纬器工作。步骤1具体过程为：电源输入高电平信号，驱动第一探纬器的发光部VL发射红外光，当织机上的纬线经过时，纬线遮蔽红外光，晶体管V1未导通，运算放大器N1输出高电平信号，二极管D导通，计算机采样高电平信号，织机继续工作；当无纬线经过时，晶体管V1受光导通,运算放大器N1输出低电平，二极管D截止，计算机采样低电平信号，织机停止工作；高电平信号经过反相器输出低电平，第二探纬器的发光部VL不工作，晶体管V1未导通，运算放大器N1输出低电平，二极管D截止，输出低电平。本专利技术的有益效果是：本专利技术一种适用于双色织机的探纬装置，通过反相器，将电源输入的高低电平信号进行转换，在织机运行过程中自动进行两个探纬器的切换，减轻人力更换单色探纬器成本。一种适用于双色织机的探纬装置的探纬方法，方法简单，易于操作。附图说明图1是本专利技术一种适用于双色织机的探纬装置的结构示意图；图2是本专利技术一种适用于双色织机的探纬装置中反相器的结构示意图；图3是本专利技术一种适用于双色织机的探纬装置中探纬器的结构示意图。图中：1.电源，2.反相器，3.第一供电模块，4.第一探纬器，5.第二供电模块，6.第二探纬器。具体实施方式下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进行详细说明。一种适用于双色织机的探纬装置，如图1所示，包括电源1，电源1并联有反相器2、第一供电模块3，第一供电模块3连接有第一探纬器4。反相器2依次连接有第二供电模块5、第二探纬器6。如图2示，CMOS管反相器由PMOS管(负载管，开启电压小于0)和NMOS管(驱动管，开启电压大于0)组成，此时若CMOS管的输入端为逻辑0时，NMOS管截止，PMOS管导通，此时输出端为高电平。反之当CMOS管的输入端为高电平时，则输出端为低电平。如图3所示，第一探纬器4、第二探纬器6结构相同，均包括发光部VL和受光信号检测放大电路；发光部VL为发光二极管，发光部VL正极通过供电模块与电源1连接，负极接地；受光信号检测放大电路包括晶体管V1，晶体管V1发射极分别连接有晶体管V2、电阻R1，晶体管V1发射极与晶体管V2基极连接，晶体管V2发射极、电阻R1自由端接地，晶体管V1集电极依次连接有电阻R3、运算放大器N1、二极管D，二极管D与运算放大器N1输出端连接，电阻R3与运算放大器N1同相输入端连接，电阻R3还与电源1连接，运算放大器N1反相输入端分别连接有电阻R6、电阻R4、电阻R5，电阻R6自由端与电源1连接，电阻R4自由端接地，电阻R5自由端连接在运算放大器NI输出端。反相器2输入端连接电源1，反相器2输出端分别与第二探纬器6的发光部VL正极、晶体管V1集电极、晶体管V2集电极、电阻R3、电阻R6连接。一种适用于双色织机的探纬装置的探纬方法，包括以下步骤：步骤1、电源1输入高电平信号，驱动第一探纬器4工作，高电平信号经过反相器2输出低电平，第二探纬器6的发光部VL不工作；具体过程为：电源1输入高电平信号，通过第一供电模块3驱动第一探纬器4的发光部VL发射红外光，当织机上的纬线经过时，纬线遮蔽红外光，接收端晶体管V1未导通，运算放大器N1同相输入端电压高于运算放大器N1反相输入端电压，运算放大器N1输出高电平信号，二极管D1导通，计算机采样高电平信号，织机继续工作；当无纬线经过时，晶体管V1受光导通,运算放大器N1同相输入端电压低于运算放大器N1反相输入端电压，运算放大器N1输出低电平，二极管D1截止，计算机采样低电平信号，织机停止工作；高电平信号经过反相器2输出低电平，第二探纬器6的发光部VL不工作，晶体管V1未导通，低电平信号输入运算放大器N1同相输入端，运算放大器N1输出端输出低电平，二极管D2截止，输出低电平。步骤2、电源1输入低电平信号，第一探纬器4停止工作，低电平信号经过反相器2输出高电平，切换至第二探纬器6工作，实现双色织机的探纬器的自动更换。通过以上方式，本专利技术的一种适用于双色织机的探纬装置，通过反相器，将电源输入的高低电平信号进行转换，在织机运行过程中自动进行两个探纬器的切换，减轻人力更换单色探纬器成本。一种适用于双色织机的探纬装置的探纬方法，方法简单，易于操作。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于双色织机的探纬装置，其特征在于，包括电源(1)，所述电源(1)并联有反相器(2)、第一供电模块(3)，所述反相器(2)依次连接有第二供电模块(4)、第二探纬器(6)，所述第一供电模块(3)连接有第一探纬器(4)。/n

【技术特征摘要】
1.一种适用于双色织机的探纬装置，其特征在于，包括电源(1)，所述电源(1)并联有反相器(2)、第一供电模块(3)，所述反相器(2)依次连接有第二供电模块(4)、第二探纬器(6)，所述第一供电模块(3)连接有第一探纬器(4)。


2.根据权利要求1所述的一种适用于双色织机的探纬装置，其特征在于，所述第二探纬器(6)、第一探纬器(4)结构相同，均包括发光部VL和受光信号检测放大电路，所述发光部VL正极与电源(1)连接，负极接地；所述受光信号检测放大电路包括晶体管V1，所述晶体管V1发射极分别连接有晶体管V2、电阻R1，所述晶体管V2发射极、电阻R1自由端接地，所述晶体管V1集电极依次连接有电阻R3、运算放大器N1、二极管D，所述电阻R3与运算放大器N1同相输入端连接，所述电阻R3还与电源(1)连接，所述运算放大器N1反相输入端分别连接有电阻R6、电阻R4、电阻R5，所述电阻R6自由端与电源(1)连接，所述电阻R4自由端接地，所述电阻R5自由端连接在运算放大器NI输出端。


3.根据权利要求2所述的一种适用于双色织机的探纬装置，其特征在于，所述反相器(2)输入端连接电源(1)，输出端分别与第二探纬器(6)的发光部VL正极、晶...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡辉，赵钰帆，王玥，施卫，侯磊，
申请(专利权)人：西安理工大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61