【技术实现步骤摘要】
基于温湿度因子的叠层片式电感可靠性预计修正方法及介质
本专利技术主要涉及电感可靠性分析
，特指一种基于温湿度因子的叠层片式电感可靠性预计修正方法、装置及介质。
技术介绍
现有的基于基础失效率的可靠性预计方法中应力分析法主要考虑温度应力和电应力，但是在针对叠层片式铁氧体电感产品，在进行可靠性试验的过程中可靠性试验精度并不高，在试验的过程中发现，由于叠层片式电感产品结构特殊，磁体有微小间隙，在湿热环境中，湿气易侵入磁体内部。在水和电的作用下，产生离子迁移现象，会导致叠层电感内部匝线圈之间出现离子通道，造成匝间短路，从而使得感量出现漂移或者电感短路。而目前的可靠性预计方法并没有考虑产品实际受到的湿度应力。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题就在于：针对现有技术存在的技术问题，本专利技术提供一种预计精度高的基于温湿度因子的叠层片式电感可靠性预计修正方法、装置及介质。为解决上述技术问题，本专利技术提出的技术方案为：一种基于温湿度因子的叠层片式电感可靠性预计修正方法，包括步骤：S0...
【技术保护点】
1.一种基于温湿度因子的叠层片式电感可靠性预计修正方法，其特征在于，包括步骤：/nS01、获取电感在基准温度应力和基准温湿度应力下的失效率，并依据加速模型，得到湿度应力带来的湿度影响因子π
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种基于温湿度因子的叠层片式电感可靠性预计修正方法，其特征在于，包括步骤：
S01、获取电感在基准温度应力和基准温湿度应力下的失效率，并依据加速模型，得到湿度应力带来的湿度影响因子πRH，将湿度影响因子πRH与温度影响因子πT综合得到温湿度影响因子πTRH；
S02、对原有基于温度因子的叠层片式电感可靠性预计模型进行修正：用温湿度影响因子πTRH代替温度影响因子πT，得到基于温湿度因子的叠层片式电感可靠性预计模型，计算失效率。
2.根据权利要求1所述的基于温湿度因子的叠层片式电感可靠性预计修正方法，其特征在于，所述步骤S01的具体步骤为：
S11、获取电感在基准温度应力下的预计失效率和基准温湿度应力下的失效率将失效率与预计失效率的比值作为基准温湿度应力下的基准湿度影响因子
S12、依据PECK加速模型的构成，综合基准湿度影响因子和温度影响因子πT，得到温湿度影响因子πTRH。
3.根据权利要求2所述的基于温湿度因子的叠层片式电感可靠性预计修正方法，其特征在于，在步骤S11中，按照TelcordiaSR-332手册计算公式，计算电感在基准温度应力下的预计失效率其中基准温度应力为40℃。
4.根据权利要求3所述的基于温湿度因子的叠层片式电感可靠性预计修正方法，其特征在于，在步骤S11中，以高量级的温湿度应力进行加速试验，并采用PECK加速模型进行加速，推导出基准温湿度应力下的失效率
5.根据权利要求4所述的基于温湿度因子的叠层片式电感可靠性预计修正方法，其特征在于，在步骤S11中，所述PECK加速模型表达式如下：
其中：AF为加速系数；Ea为激活能；K为玻尔兹曼常数；T为绝对温度；Tt为试验温度，数值为绝对值；T0为基准温度40℃；RH为相对湿度，RHt为试验湿度；RH0为基准湿度。
技术研发人员：张昶，周懿熠，陈磊，刘鹏飞，陈建明，曾勤斌，郭志大，曾润东，王笃振，刘佳祥，史峥宇，徐广涛，
申请(专利权)人：株洲中车时代电气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南;43
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