自动分拣系统技术方案

本申请提供了一种自动分拣系统，用于对装设于第一治具内的多个待检测件进行分拣。其包括机架，机架上形成检测区和分拣区；传送装置，传送装置设于机架上，传送装置用于传送第一治具；视觉检测装置，视觉检测装置设于检测区，视觉检测装置用于在传送装置移动第一治具至检测区时检测多个待检测件中是否具有不良检测件；及分拣装置，分拣装置设于分拣区，分拣装置用于在传送装置将第一治具从检测区移动至分拣区时分拣出不良检测件。本申请提供的自动分拣系统可实现多个待检测件的自动检测、分拣，且效率较高。且效率较高。且效率较高。

【技术实现步骤摘要】
自动分拣系统


[0001]本申请涉及自动化
，具体涉及一种自动分拣系统。

技术介绍

[0002]半导体行业中，芯片等产品对粉尘、脏物较为敏感，轻则影响芯片的使用性能，重则导致芯片报废，故在其出厂前需要进行一定的检测，以确保良品率。然而，人工检测效率低，且容易造成芯片二次污染。

技术实现思路

[0003]本申请提供了一种自动实现多个待检测件检测、分拣的自动分拣系统。
[0004]本申请提供的自动分拣系统，包括：
[0005]机架，所述机架具有检测区和分拣区；
[0006]第一治具，所述第一治具设于所述机架上，并用于装设多个待检测件；
[0007]传送装置，所述传送装置设于所述机架上，所述传送装置用于将所述第一治具输送至所述检测区或将所述第一治具从所述检测区传送至所述分拣区；
[0008]视觉检测装置，所述视觉检测装置设于所述检测区，所述视觉检测装置用于检测位于所述检测区的多个所述待检测件中是否具有不良检测件；及
[0009]分拣装置，所述分拣装置设于所述分拣区，所述分拣装置用于在所述传送装置将所述第一治具从所述检测区传送至所述分拣区时分拣出所述不良检测件。
[0010]在一种可能的实施方式中，所述第一治具设有多个收容槽，多个所述收容槽间隔设置，每个所述收容槽用于对应收容一个所述待检测件。
[0011]在一种可能的实施方式中，所述分拣区包括第一区域，所述分拣装置包括设于所述第一区域的第一定位组件和取放组件，所述视觉检测装置还用于检测所述不良检测件在所述第一治具上的第一位置；所述第一定位组件用于检测所述第一治具移动至所述分拣区时的第二位置，并根据所述第一位置和所述第二位置获取所述不良检测件的目标位置，所述取放组件用于在所述目标位置取出所述不良检测件。
[0012]在一种可能的实施方式中，所述分拣区还包括第二区域，所述传送装置还用于在所述取放组件将携带有所述不良检测件的取放组件移动至所述第二区域，所述分拣装置还包括设于所述第二区域的第二定位组件和第二治具，所述第二定位组件用于获取所述不良检测件运动至所述第二区域时的第三位置和所述第二治具的第四位置，所述取放组件根据所述第三位置及所述第四位置将所述不良检测件放置于所述第二治具内。
[0013]在一种可能的实施方式中，所述视觉检测装置包括相机和多个光源，多个所述光源呈环形排列，所述相机用于在所述光源的照射下检测每个所述待检测件上的刮痕、污物和焊点缺陷中的至少一种。
[0014]在一种可能的实施方式中，所述传送装置包括第一传送组件和第二传送组件，所述第一传送组件用于将所述第一治具移动至所述视觉检测装置的检测区；所述第二传送组
件用于将所述第一治具从所述视觉检测装置的检测区移动至所述分拣装置的分拣区。
[0015]在一种可能的实施方式中，所述第一传送组件设有第一滑槽，所述第二传送组件设有第二滑槽，当所述第一治具位于所述第一传送组件上时，所述第一治具于所述第一滑槽内滑动；当所述第一治具位于所述第二传送组件时，所述第一治具于所述第二滑槽内滑动。
[0016]在一种可能的实施方式中，所述第二传送组件还包括设于所述第二滑槽内的卡勾，所述卡勾沿所述第一治具在所述第二滑槽内的滑动方向延伸，所述卡勾用于在多个所述待检测件被所述视觉检测装置检测完成之后勾取所述第一治具。
[0017]在一种可能的实施方式中，所述自动分拣系统还包括设于所述机架的上料装置，所述上料装置用于收容层叠设置的多个所述第一治具，所述传送装置用于依次将位于顶层的所述第一治具传送至所述检测区。
[0018]在一种可能的实施方式中，所述自动分拣系统还包括设于所述机架的下料装置，所述传送装置还用于将分拣完成的所述第一治具依次传送至所述下料装置，所述下料装置用于将分拣完成的所述第一治具依次层叠设置。
[0019]本申请提供的自动分拣系统通过设置机架、传送装置、视觉检测装置及分拣装置，使传送装置将装设于第一治具内的多个待检测件运动至检测区，通过视觉检测装置检测多个待检测件中的不良检测件，之后，传送装置再将第一治具从检测区移动至分拣区，通过分拣装置分拣出其中的不良检测件，从而实现检测、分拣的全自动化，可避免待检测件的二次污染，提高检测、分拣的效率和可靠性。此外，第一治具上设有多个待检测件，自动分拣系统可一次完成第一治具上多个待检测件的检测、分拣，较大的提高了效率。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。
[0021]图1是本申请实施例提供的一种自动分拣系统的结构示意图；
[0022]图2是图1所示自动分拣系统的机架的结构示意图；
[0023]图3是图2所示自动分拣系统具有上料区、检测区、分拣区及下料区的结构示意图；
[0024]图4是图2所示分拣区包括第一区域和第二区域的结构示意图；
[0025]图5是图1所示自动分拣系统中第一治具的局部放大示意图；
[0026]图6是图5所示第一治具的平面示意图；
[0027]图7是图1所示自动分拣系统的传动装置的结构示意图；
[0028]图8是图7所示传动装置中第一传动组件的局部放大示意图；
[0029]图9是图1所示自动分拣系统的分拣装置的结构示意图；
[0030]图10是图7所示传动装置中第二传动组件的局部放大示意图；
[0031]图11是图1所示自动分拣系统的上料装置的结构示意图；
[0032]图12是图11所示自动分拣系统的上料装置的局部放大示意图；
[0033]图13是图1所示自动分拣系统的下上料装置的结构示意图。
具体实施方式
[0034]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。本申请所列举的实施例之间可以适当的相互结合。
[0035]如图1所示，图1为本申请实施例提供的一种自动分拣系统100的结构示意图。自动分拣系统100用于对装设于第一治具1的多个待检测件进行分拣。其中，待检测件可以为芯片，例如：摄像头传感器芯片。自动分拣系统100对多个待检测件进行分拣可以理解为自动分拣系统100将多个待检测件中的合格检测件和不良检测件进行区分、归类。
[0036]为便于描述，以自动分拣系统100的长度方向、宽度方向及高度方向建立坐标系。其中，自动分拣系统100的长度方向记为X轴方向，自动分拣系统100的宽度方向记为Y轴方向，自动分拣系统100的高度方向记为Z轴方向，箭头所指方向记为正向。
[0037]如图1所示，自动分拣系统100包括机架10、传送装置20、视觉检测装置30及分拣装置40。
[0038]请参照图1和图2，机架10用于承载传送装置20、视觉检测装置30和分拣装置40。一实施例中，机架10包括外壳101和工作台102。外壳101围本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动分拣系统，其特征在于，包括：机架，所述机架具有检测区和分拣区；第一治具，所述第一治具设于所述机架上，并用于装设多个待检测件；传送装置，所述传送装置设于所述机架上，所述传送装置用于将所述第一治具输送至所述检测区或将所述第一治具从所述检测区传送至所述分拣区；视觉检测装置，所述视觉检测装置设于所述检测区，所述视觉检测装置用于检测位于所述检测区的多个所述待检测件中是否具有不良检测件；及分拣装置，所述分拣装置设于所述分拣区，所述分拣装置用于在所述传送装置将所述第一治具从所述检测区传送至所述分拣区时分拣出所述不良检测件。2.根据权利要求1所述的自动分拣系统，其特征在于，所述第一治具设有多个收容槽，多个所述收容槽间隔设置，每个所述收容槽用于对应收容一个所述待检测件。3.根据权利要求1所述的自动分拣系统，其特征在于，所述分拣区包括第一区域，所述分拣装置包括设于所述第一区域的第一定位组件和取放组件，所述视觉检测装置还用于检测所述不良检测件在所述第一治具上的第一位置；所述第一定位组件用于检测所述第一治具移动至所述分拣区时的第二位置，并根据所述第一位置和所述第二位置获取所述不良检测件的目标位置，所述取放组件用于在所述目标位置取出所述不良检测件。4.根据权利要求3所述的自动分拣系统，其特征在于，所述分拣区还包括第二区域，所述传送装置还用于在所述取放组件将携带有所述不良检测件的取放组件移动至所述第二区域，所述分拣装置还包括设于所述第二区域的第二定位组件和第二治具，所述第二定位组件用于获取所述不良检测件运动至所述第二区域时的第三位置和所述第二治具的第四位置，所述取放组件根据所述第三位置及所述第四位置将所述不良检测件放...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈鸣，赵康权，陈洁，丁晓华，周翔，
申请(专利权)人：东莞市鹰眼在线电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：