检查装置、检查系统以及检查方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种能够提高实际产品的可靠性的检查装置、检查系统以及检查方法。系统控制器(11)通过在环境形成装置(3)对电路基板(X)施加规定的环境压力的状态下，让测试控制器(13)执行对电路基板(X)的边界扫描测试，从而对电路基板(X)多次执行边界扫描测试。根据本发明专利技术，能够提高实际产品的可靠性而且还能够削减测试成本。削减测试成本。削减测试成本。

【技术实现步骤摘要】
检查装置、检查系统以及检查方法


[0001]本专利技术涉及检查装置、检查系统以及检查方法，特别是涉及用于对检查对象执行边界扫描测试的检查装置、检查系统以及检查方法。

技术介绍

[0002]作为以电路基板作为对象的检查的一种已知有边界扫描测试，在该电路基板安装有依据JTAG(Joint Test Action Group)的半导体器件。在边界扫描测试中，主要检查安装在电路基板上的半导体器件的焊接不良以及多个半导体器件之间的布线的开路不良或短路不良等。
[0003]在下述专利文献1中公开了执行边界扫描测试的测试系统。该测试系统具备主机、主控制器以及可编程开关。在可编程开关连接有多个从属对象装置。从属对象装置是安装了依据JTAG的多个集成电路的电路基板。可编程开关选择包含在任一个从属对象装置中的任意的集成电路，并将该集成电路连接于主控制器。主机和主控制器以该集成电路作为对象执行边界扫描测试。
[0004]根据所述专利文献1公开的测试系统，能够以连接于可编程开关的多个从属对象装置中被可编程开关选择的任一个从属对象装置所包含的任意的集成电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检查装置，可通信地连接于环境形成装置，该环境形成装置能够收容作为检查对象的电路基板，所述检查装置的特征在于包括：测试控制部，控制以所述电路基板作为对象的边界扫描测试；以及，主控制部，其中，所述主控制部，通过让所述测试控制部在所述环境形成装置对所述电路基板施加了规定的环境压力的状态下执行对所述电路基板的所述边界扫描测试，从而对所述电路基板执行多次所述边界扫描测试。2.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于，所述测试控制部在判断为满足规定的条件的情况下，使对所述电路基板执行所述边界扫描测试的执行间隔不同。3.根据权利要求2所述的检查装置，其特征在于，所述环境形成装置施加温度压力作为所述环境压力，所述测试控制部在所述温度压力恒定的第一期间内以第一执行间隔执行所述边界扫描测试，在所述温度压力变化的第二期间内以比所述第一执行间隔短的第二执行间隔执行所述边界扫描测试。4.根据权利要求2所述的检查装置，其特征在于，所述环境形成装置施加振动压力作为所述环境压力，所述测试控制部在施加频率不同于所述电路基板的谐振频率的所述振动压力的第一期间内以第一执行间隔执行所述边界扫描测试，在施加频率相当于所述谐振频率的所述振动压力的第二期间内以比所述第一执行间隔短的第二执行间隔执行所述边界扫描测试。5.根据权利要求1至4中任一项所述的检查装置，其特征在于，在所述环境形成装置中收容多个电路基板来作为所述电路基板，所述测试控制部以所述多个电路基板的每一个电路基板作为对象控制所述边界扫描测试，所述检查装置还包括连接切换部，该连接切换部以使所述多个电路基板中的一个电路基板连接于所述测试控制部的方式，能够切换所述测试控制部与收容在所述环境形成装置中的所述多个电路基板的连接，所述主控制部在所述环境形成装置对所述多个电路基板施加所述环境压力的状态...

【专利技术属性】
技术研发人员：冈本学，今堀翔也，
申请(专利权)人：爱斯佩克株式会社，
类型：发明
国别省市：