【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及杂讯测量装置以及杂讯测量方法。
技术介绍
1、
技术介绍
涉及的环境试验用的恒温恒湿装置例如公开于日本专利公开公报特开2014-66593号中。该恒温恒湿装置具备制冷装置、加热装置、除湿装置以及加湿装置作为用于调整试验室内的环境的电气设备。
2、此外，
技术介绍
涉及的示波器例如公开于日本专利公报第2817179号中。
3、恒温恒湿装置等环境形成装置中，在出货前进行性能试验或出货后发生了故障等情况下，作业人员进行通过使用示波器或杂讯数据记录器等测量器来确定可能成为不良原因的杂讯的影响部位的作业。
4、但是，操作这些测量器需要专业知识，能够使用的作业人员有限。
5、此外，想要将这些测量器的探头设置在测量对象上，则需要改造基板或变更布线等，因此，在成品的故障分析等中有时可测量部位受到限定。
6、而且，用这些测量器只能进行局部测量，因此，无法有效率地测量广范围的杂讯影响。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种可以不使用示...
【技术保护点】
1.一种杂讯测量装置，其特征在于包括：
2.根据权利要求1所述的杂讯测量装置，其特征在于还包括：
3.根据权利要求2所述的杂讯测量装置，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的杂讯测量装置，其特征在于还包括：
5.根据权利要求1所述的杂讯测量装置，其特征在于还包括：
6.一种杂讯测量方法，其特征在于包括以下步骤：
【技术特征摘要】
1.一种杂讯测量装置，其特征在于包括：
2.根据权利要求1所述的杂讯测量装置，其特征在于还包括：
3.根据权利要求2所述的杂讯测量装置，其特征在于，
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