【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及，其检查是否可能从外壳(housing)泄漏电磁辐射。
技术介绍
从电子设备散发出的电磁辐射的量是受限制的。为了防止从电子设备散发出的电磁辐射的量超过规章规定的范围，在产品设计阶段开始进行电磁场分析以判定在产品中何处可能泄漏电磁辐射以及因此产生问题(日本专利申请公开No.2002-149720)。然而，电磁场分析需要很长的时间。这延迟了对可能由之泄漏电磁辐射的零件采取的适当行动，增加了设计产品需要的时间。但是，为了减少设计产品需要的时间，人们希望容易地判定电磁辐射可能在哪里泄漏。
技术实现思路
本专利技术的一个目标在于提供一种容易地检查外壳中电磁辐射可能在哪里泄漏的。本专利技术的一个实施形态提供了一种设计支持系统，其支持产品设计的检验，该系统特征在于包含检查目标设置装置，其在用于包括外壳的该产品的多个零件形状模型中设置有待作为检查目标的零件形状模型；材料信息获取装置，其用于为多个零件形状模型中的每一个获取关于材料的信息；基准地设置装置，其用于将多个零件形状模型中的一个设置为基准地；提取/测量装置，该装置用于在对于各个零件模型的材料信息的基础上，从零件...
【技术保护点】
一种设计支持系统，其支持产品设计的验证，该系统特征在于包含：检查目标设置单元，其从用于包含外壳的所述产品的多个零件形状模型中设置作为检查目标的零件形状模型；材料信息获取单元，其为所述多个零件形状模型中的每一个获取关于材料的信 息；基准地设置单元，其将所述多个零件形状模型中的一个设置为基准地；提取／测量单元，在对于所述零件模型中每一个的所述材料信息的基础上，该单元从所述零件形状模型提取导电性路径，其范围从被设置为所述检查目标的所述零件形状模型到作为 所述基准地的所述零件形状模型，并测量所述提取的路径的长度；以及检查单...
【技术特征摘要】
JP 2005-11-30 347111/20051.一种设计支持系统，其支持产品设计的验证，该系统特征在于包含检查目标设置单元，其从用于包含外壳的所述产品的多个零件形状模型中设置作为检查目标的零件形状模型；材料信息获取单元，其为所述多个零件形状模型中的每一个获取关于材料的信息；基准地设置单元，其将所述多个零件形状模型中的一个设置为基准地；提取/测量单元，在对于所述零件模型中每一个的所述材料信息的基础上，该单元从所述零件形状模型提取导电性路径，其范围从被设置为所述检查目标的所述零件形状模型到作为所述基准地的所述零件形状模型，并测量所述提取的路径的长度；以及检查单元，其检查具有等于或大于标准值的等级的电磁辐射可能在哪里泄漏到所述外壳之外。2.根据权利要求1的设计支持系统，其特征在于还包含获取单元，其获取导电性电镀涂布范围信息，该信息显示导电性电镀被涂布到有待导电性电镀的所述多个零件形状模型中的范围；以及合并单元，其将所述导电性电镀涂布范围信息合并到对应于所述导电性电镀涂布范围信息的所述零件形状模型之中；其中，在对于所述零件模型中的每一个的所述材料信息以及被合并到所述零件形状模型的所述导电性电镀涂布范围信息的基础上，所述提取/测量单元从所述零件形状模型提取导电性路径，其范围从被设置为所述检查目标的所述零件形状模型到作为所述基准地的所述零件形状模型。3.根据权利要求1的设计支持系统，其特征在于所述检查单元检查出所述提取的路径中路径长度等于或大于判定距离的任何一个是具有等于或大于所述标准值的等级的电磁辐射可能由之泄漏到所述外壳之外的区域。4.根据权利要求1的设计支持系统，其特征在于所述提取/测量单元提取在预先设置的提取距离范围内的路径。5.一种设计支持方法，其采用计算机支持产品设计的验证，该方法特征在于包含从用于包含外壳的所述产品的多个零件形状模型中设置作为检查目标的零件形状模型；为所述多个零件形状模型中的每一个获取关于材料的信息；将所述多个零件形状模型中的一个设置为基准地；在对于所述零件模型中每一个的所述材料信息的基础上，从所述零件形状模型提取导电性路径，其范围从被设置为所述检查目标的所述零件形状模型到作为所述基准地的所述零件形状模型，并测量所述提取的路径的长度；以及检查具有等于或大于标准值的等级的电磁辐射可能在哪里泄漏到所述外壳之外。6.根据权利要求5的设计支持方法，其特征在于还包含获取导电性电镀涂布范围信息，该信息显示导电性电镀被涂布到有待导电性电镀的所述多个零件形状模型中的范围；以及将...
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