本发明专利技术提供一种使用在薄膜基材上设置有导电性薄膜的面板的触摸面板，所述导电性薄膜的耐久性优良，所述触摸面板具有第一面板和第二面板，所述第一面板具有透明的第一薄膜基材和设在该第一薄膜基材的单面的透明的第一导电性薄膜；所述第二面板具有透明的第二薄膜基材和设在该第二薄膜基材的单面的透明的第二导电性薄膜，第一面板和第二面板通过隔离件对置配置以使第一导电性薄膜和第二导电性薄膜对置，其特征在于，第一导电性薄膜的表面硬度为１ＧＰａ以上，弹性模量为５ＧＰａ以上，第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度（Ｒａ）为０．３～１．０ｎｍ，并且，第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度（Ｒａ）的值比第一导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度（Ｒａ）的值小。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用薄膜基材上设置有导电性薄膜的面板作为上下基板的触摸面板。
技术介绍
作为触摸面板，使用使设置有透明的导电性薄膜的基材经由隔离件对置配置，且将所述导电性薄膜作为透明电极而用的面板。目前，作为这种导电性薄膜，公知的有在玻璃上形成氧化铟薄膜的所谓导电玻璃，但由于基材是玻璃，可挠性、加工性差，在用途上存在有时不能使用的情况。因此，近年来，不仅从可挠性、加工性而且从耐冲击性优良、轻量等优点出发，用以聚对苯二甲酸乙二醇酯薄膜为首的各种合成树脂薄膜为基材的导电性薄膜被使用。使用这种薄膜基材的导电性薄膜在触摸面板中，用笔反复输入且在笔端按压过剩的负荷时，由导电性薄膜构成的透明电极劣化且破损。另外，在已劣化的破损部位电阻值变大，存在触摸面板的寿命缩短的问题。即，在触摸面板上，导电性薄膜彼此依靠来自一面板侧的按压打点强有力地接触，因此，希望具有能够抵抗这些的良好的耐久性即打点特性、尤其是笔输入耐久性的触摸面板。于是，有关在触摸面板中，设置有作为面板用的导电性薄膜的薄膜基材已被进行改良上述问题的尝试。本文申请人也提案如下在透明的薄膜基材的一面上，将透明的第一电介质薄膜、透明的第二电介质薄膜及透明的导电性薄膜按照该顺序叠层，在上述薄膜基材的另一面上，将经由透明的胶粘剂贴合有透明基体的透明导电叠层体用于触摸面板(参照特许文献1，2)。使用了上述透明导电叠层体的触摸面板，虽然可以提高耐久性，可是由于触摸面板市场的扩大，对触摸面板来说，更高的耐久性被要求。特许文献1特开2002-316378号公报(第2～4页)特许文献2特开2002-326301号公报(第2～5页)
技术实现思路
本专利技术是对照上述的情况开发的，使用在薄膜基材上设置有导电性薄膜的面板的触摸面板，目的在于提供一种导电性薄膜的耐久性优良的触摸面板。本专利技术者们重复进行用于解决上述课题的锐意研讨，直到完成本专利技术，结果发现，利用下述触摸面板能够达到上述目的。即，本专利技术涉及一种触摸面板，其具有第一面板和第二面板，所述第一面板具有透明的第一薄膜基材和设在该第一薄膜基材的单面的透明的第一导电性薄膜；所述第二面板具有透明的第二薄膜基材和设在该第二薄膜基材的单面的透明的第二导电性薄膜，第一面板和第二面板按照第一导电性薄膜和第二导电性薄膜对置的方式经由隔离件而对置配置，其特征在于第一导电性薄膜的表面硬度为1GPa以上，弹性模量为5GPa以上，第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)为0.3～1.0nm，并且，第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)的值比第一导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)的值小。由上述本专利技术发现，在触摸面板中，对于用于上板(按压侧)的第一面板的第一导电性薄膜、和用于下板的第二面板的第二导电性薄膜，通过将它们的硬度、弹性模量及中心线平均粗糙度(Ra)控制并组合为规定的关系，能够提高耐久性。即发现，通过对上板提高硬度和弹性模量，另一方面，对下板控制小的中心线平均粗糙度，能够抑制对置配置的第一导电性薄膜和第二导电性薄膜的劣化和损伤，从而能够延长触摸面板的寿命。第一导电性薄膜的表面硬度优选1GPa以上，更优选1.5GPa以上，进一步优选2GPa以上，另外，弹性模量优选5GPa以上，更优选8GPa以上，进一步优选10GPa以上。通过具备这样的物性，即使第一面板弯曲，也不会招致裂纹进入第一导电性薄膜、电阻值劣化等障碍，耐久性良好，能够合适地用作触摸面板的上板。在第一导电性薄膜的表面硬度不足1GPa或弹性模量不足5GPa的情况下，触摸面板的耐久性不充分。另外，从耐久性方面考虑，所述导电性薄膜的表面硬度的上限优选5GPa以下，更优选4GPa以下，同样从耐久性方面考虑，所述弹性模量优选20GPa以下，更优选16GPa以下。上述第一导电性薄膜的硬度及弹性模量通过压痕试验(压头压入试验)，例如用扫描型探针显微镜(JEOL.LTD/日本电子JSPM-4200)等能够测定。在测定薄膜硬度的情况下，通常压头的压入深度必须纳入膜厚深度的十分之一程度。对于第二导电性薄膜的表面硬度及弹性模量也是同样的程度条件。在压痕试验的情况下，在被试验体(即，透明导电叠层体的导电性薄膜侧)加上负荷且将压头压入，则得到压痕曲线(负荷-压入深度曲线)。根据此时的最大负荷Pmax、压头和被试验体之间的接触投影面积A的比，由下述的式(1)求出被试验体的硬度H。另外，由压痕曲线的去荷曲线的初期坡度S，由下述的式(2)求出被试验体的复合弹性模量Er。进而，由压头的纵弹性模量Ei、压头的泊松比vi、被试验体的泊松比vs，用下述的式(3)求出被试验体的弹性模量Es。在此，下述的式(2)中，β是常数。另外，压头是金Ei刚石，其纵弹性模量Ei是1140GPa，泊松比是0.07。H＝Pmax/A...(1)S＝(2/√-π·Er·β·√-A...(2)Er＝1/{(1-vs2)/Es+(1-vi2)/Ei}...(3)在这种情况下，被试验体即导电薄膜的泊松比vs不明，因此，以上述的复合弹性模量Er为本专利技术所说的弹性模量。关于详细的测定，被记载为例如W.C.Olive and G.M.Phar，J.Meter.Res.，Vol.7，No.6，June1992、和Handbook of Micro/Nanotribolgy等，用公知的方法可以测定。另一方面，第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)为0.3～1.0nm，并且，第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)的值比第一导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)的值小。这样，通过将控制了第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)的第二面板(下板)和控制了第一导电性薄膜的表面硬度和弹性模量的第以面板(上板)进行组合，能够提高耐久性。在所述中心线平均粗糙度(Ra)不足0.3nm的情况下，有招致第一面板和第二面板发生阻滞现象的情况，另一方面，超过1.0nm时，有时会损伤第一导电性薄膜，就耐久性来说都不理想。第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)优选0.4～0.9nm。中心线平均粗糙度(Ra)按照实施例记载的方法进行测定。关于第一导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)，测定条件相同。在上述触摸面板中，第一导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)的值是比第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)的值大的值，而第一导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)的值为0.7～2.0nm的情况，从耐久性方面考虑是理想的。第一导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)优选0.8～1.8nm。在上述触摸面板中，第二导电性薄膜表面的硬度和弹性模量的值都比第一导电性薄膜表面的硬度和弹性模量的值小的情况，从耐久性方面考虑是理想的。第二导电性薄膜的表面硬度优选0.4～2.0GPa，更优选0.5～1.8GPa。弹性模量优选2.0～8.0GPa，更优选2.0～6.0GPa。在上述触摸面板中，第一薄膜基材可以使用将两张以上透明的薄膜基材经由透明的粘接剂层贴合后的叠层体。在上述触摸面板中，理想的是第一导电性薄膜经由至少一层透明的电介质薄膜设置于第一薄膜基材上。通过设置电介质薄膜，在提高第一导电性薄膜的耐擦伤性和耐弯曲性的同时提高触摸面板的耐久性本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种触摸面板，该触摸面板具有第一面板和第二面板，所述第一面板具有透明的第一薄膜基材和设在该第一薄膜基材的单面的透明的第一导电性薄膜；所述第二面板具有透明的第二薄膜基材和设在该第二薄膜基材的单面的透明的第二导电性薄膜，第一面板和第二面板按照第一导电性薄膜和第二导电性薄膜对置的方式经由隔离件而对置配置，其特征在于，第一导电性薄膜的表面的硬度为１ＧＰａ以上，弹性模量为５ＧＰａ以上，第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度（Ｒａ）为０．３～１．０ｎｍ，并且，第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度（Ｒａ）的值比第一导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度（Ｒａ）的值小。
【技术特征摘要】
JP 2006-4-27 2006-1236891.一种触摸面板，该触摸面板具有第一面板和第二面板，所述第一面板具有透明的第一薄膜基材和设在该第一薄膜基材的单面的透明的第一导电性薄膜；所述第二面板具有透明的第二薄膜基材和设在该第二薄膜基材的单面的透明的第二导电性薄膜，第一面板和第二面板按照第一导电性薄膜和第二导电性薄膜对置的方式经由隔离件而对置配置，其特征在于，第一导电性薄膜的表面的硬度为1GPa以上，弹性模量为5GPa以上，第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)为0.3～1.0nm，并且，第二导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)的值比第一导电性薄膜的表面的中心线平均粗糙度(Ra)的值小。2.如权利要求1所述的触摸面板，其特征在于，第一导电性薄膜的表面的中心线粗糙度(Ra)为0.7～2.0nm。3.如权利要求1所述的触摸面板，其特征在于，第二导电性薄膜的表面的硬度及弹性模量的值分别都...
【专利技术属性】
技术研发人员：梨木智刚，菅原英男，
申请(专利权)人：日东电工株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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