测试电路制造技术

一种测试电路，用以测试一微控制器的振荡能力，并独立于微控制器之外，并包括一输入端、一输出端、一第一电容、一振荡器以及一电阻。输入端用以接收微控制器产生的一驱动信号。输出端用以输出一回授信号予微控制器。第一电容耦接输入端。振荡器耦接第一电容，并接收驱动信号。电阻具有固定阻值，并耦接于振荡器与一第二电容之间。第二电容提供回授信号。第一及第二电容的容值可调。

【技术实现步骤摘要】
测试电路
本专利技术有关于一种测试电路，特别是有关于一种用以测试微控制电路的振荡能力的测试电路。
技术介绍
一般而言，微控制器在出厂前，需经过起荡测试，用以判断微控制器是否能输出正常的频率。现有的测试方法，是在微控制器的频率输入端串联一振荡器以及一可变电阻，再由测试人员以手动方式调整可变电阻的阻值。然而，人工手动调整花费许多测试时间，不适合应用在量产测试中。再者，可变电阻的初始动态阻值变化相当大。因此，现有的测试结果将受到可变电阻的品质的影响。
技术实现思路
本专利技术提供一种测试电路，用以测试一微控制器的振荡能力，并独立于微控制器之外。本专利技术的测试电路包括一输入端、一输出端、一第一电容、一振荡器以及一电阻。输入端用以接收微控制器产生的一驱动信号。输出端用以输出一回授信号予微控制器。第一电容耦接输入端。振荡器耦接第一电容，并接收驱动信号。电阻具有固定阻值，并耦接于振荡器与一第二电容之间。第二电容提供回授信号。第一及第二电容的容值可调。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：图1为本专利技术的测试系统的示意图；图2为本专利技术的微控制器与外部振荡器的连接示意图；图3为本专利技术的测试系统的另一示意图。100、300：测试系统；110、310：微控制器；111、311：逻辑电路；120、320：测试电路；FI：振荡频率；FO：输出频率；FT：测试频率；OSCin、OSCout、CKO、IO1、IO2：接脚；SD：驱动信号；SF：回授信号；IN1～IN3：输入端；OUT：输出端；200：外部振荡器；121、122、321～324：电容；XTAL：振荡器；RFIX：电阻；GND：接地端；Ctr1、Ctr2：调整信号。具体实施方式为让本专利技术的目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举出实施例，并配合所附图式，做详细的说明。本专利技术说明书提供不同的实施例来说明本专利技术不同实施方式的技术特征。其中，实施例中的各元件的配置为说明之用，并非用以限制本专利技术。另外，实施例中图式标号的部分重复，是为了简化说明，并非意指不同实施例之间的关联性。图1为本专利技术的测试系统的示意图。如图1所示，测试系统100包括一微控制器(microcontroller)110以及一测试电路120。微控制器110具有一逻辑电路111。在一正常模式下，逻辑电路111通过接脚OSCin接收并处理来自一外部振荡器(未显示)所产生的一振荡频率FI，用以产生一输出频率FO。微控制器110可能通过接脚OSCout或是CKO输出一输出频率FO。在一可能实施例中，逻辑电路111可能增加或减少振荡频率FI。因此，输出频率FO可能大于或小于振荡频率FI。在正常模式下，微控制器110不需耦接测试电路120。为了测试逻辑电路111的振荡回路的能力，在一测试模式下，微控制器110耦接测试电路120。此时，逻辑电路111通过接脚OSCin输出一驱动信号SD予测试电路120，并通过接脚OSCout接收测试电路120所产生的一回授信号SF。逻辑电路111可能根据回授信号SF，产生一测试频率FT，并通过接脚CKO输出测试频率FT。在一可能实施例中，一外部仪器耦接接脚CKO，用以接收并分析测试频率FT。在此例中，测试人员根据外部仪器的分析结果，判断微控制器110的振荡能力是否正常。在一可能实施例中，测试人员更可根据测试频率FT，得知逻辑电路111的振荡回路的安全因子(safetyfactor)。当微控制器110的振荡能力正常时，测试人员断开微控制器110与测试电路120之间的连接，并将测试电路120与另一微控制器连接，再继续测试另一微控制器里的逻辑电路的振荡回路的能力。因此，测试电路120独立于微控制器110之外。在本实施例中，测试电路120包括一输入端IN1、一输出端OUT、电容121、122、一振荡器XTAL以及一电阻RFIX。输入端IN1用以接收驱动信号SD。输出端OUT用以输出回授信号SF。本专利技术并不限定驱动信号SD与回授信号SF的种类。在一可能实施例中，驱动信号SD与回授信号SF均为电流信号，但并非用以限制本专利技术。在其它实施例中，驱动信号SD的种类(如电压信号)并不同于回授信号SF的种类(如电流信号)。电容121耦接于输入端IN1与一接地端GND之间。在本实施例中，电容121的容值可调。在一可能实施例中，电容121根据一调整信号Ctr1，调整本身的容值。调整信号Ctr1可能是由逻辑电路111所产生。在此例中，逻辑电路111可能通过输入输出接脚IO1，输出调整信号Ctr1。在其它实施例中，测试电路120更包括一输入端IN2，用以接收调整信号Ctr1。本专利技术并不限定电容121的种类。在一可能实施例中，电容121为一可变电容。在另一可能实施例中，电容121为一电容电位计。电容122耦接于输出端OUT与接地端GND之间，并提供回授信号SF。在本实施例中，电容122的容值也是可调。在一可能实施例中，电容122根据一调整信号Ctr2，调整本身的容值。调整信号Ctr2可能也是由逻辑电路111所产生。在此例中，逻辑电路111可能通过输入输出接脚IO2，输出调整信号Ctr2。在其它实施例中，测试电路120更包括一输入端IN3，用以接收调整信号Ctr2。调整信号Ctr2可能相同或不同于调整信号Ctr1。在一可能实施例中，逻辑电路111产生调整信号Ctr1至输入端IN2及IN3。在此例中，经调整后，电容121的容值相同于电容122的容值，但并非用以限制本专利技术。在其它实施例中，电容121的容值可能不同于电容122的容值。本专利技术并不限定电容122的种类。在一可能实施例中，电容122为一可变电容。在另一可能实施例中，电容122为一电容电位计。振荡器XTAL耦接电容121，并接收驱动信号SD。在一可能实施例中，振荡器XTAL为一无源晶体，如一石英晶体。电阻RFIX耦接于振荡器XTAL与电容122之间。在本实施例中，电阻RFIX的阻值固定不变，其具有稳定的初始动态阻抗，而不会影响测试结果。举例而言，在测量的初始期间，当电阻RFIX的初始动态阻抗不稳定时，测试电路120将提供错误的回授信号SF，使得逻辑电路111计算错误，而无法输出正确的测试频率FT。因此，测试人员误以为微控制器110异常。在本实施例中，振荡回路的安全因子SF的计算方式如下：其中，ESR为振荡器XTAL的特性参数(equivalentseriesresistance)，RFIX为电阻RFIX的阻值。振荡器XTAL的特性参数ESR的计算方式如下：其本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试电路，其特征在于，用以测试一微控制器的振荡能力，并独立于该微控制器之外，并包括：/n一输入端，用以接收该微控制器产生的一驱动信号；/n一输出端，用以输出一回授信号予该微控制器；/n一第一电容，耦接该输入端；/n一振荡器，耦接该第一电容，并接收该驱动信号；以及/n一电阻，具有固定阻值，并耦接于该振荡器与一第二电容之间，该第二电容提供该回授信号，其中该第一电容及该第二电容的容值可调。/n

【技术特征摘要】
20191029 TW 1081389611.一种测试电路，其特征在于，用以测试一微控制器的振荡能力，并独立于该微控制器之外，并包括：
一输入端，用以接收该微控制器产生的一驱动信号；
一输出端，用以输出一回授信号予该微控制器；
一第一电容，耦接该输入端；
一振荡器，耦接该第一电容，并接收该驱动信号；以及
一电阻，具有固定阻值，并耦接于该振荡器与一第二电容之间，该第二电容提供该回授信号，其中该第一电容及该第二电容的容值可调。


2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，其中该第一电容耦接于该振荡器与一接地端之间，该第二电容耦接于该电阻与该接地端之间。


3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，其中该第一电容为一第一可变电容，该第二电容为一第二可变电容。


4.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，其中该第一电容为一第一电容电位计，该第二电容为一第二电容电位计。


5.如权利要求4所述的测试电路，其特征在于，其中该第一电容电位计的容值...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪嘉宏，
申请(专利权)人：新唐科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71