一种针对数字信号处理微系统的1553B通信测试方法技术方案

本发明专利技术提供了一种针对数字信号处理微系统的1553B通信测试方法，发送测试过程中，利用微系统内嵌FPGA单元生成测试数据，配合1553B板卡及上位机实现微系统的1553B数据发送，上位机接到数据后，将数据通过串口发送至微系统DSP单元，DSP单元通过微系统内数据总线将测试数据发送至FPGA，FPGA对测试数据进行比对，并进行测试结果判定；在接收测试过程中，利用微系统内嵌FPGA单元生成通信测试数据，并通过数据总线发送给DSP单元，DSP单元通过串口将测试数据上传至上位机，由上位机控制1553B板卡，将测试数据发送至微系统1553B接口，并利用微系统内嵌FPGA单元搭建自测试电路，完成1553B测试数据的采集与校对，最终输出测试结果。

【技术实现步骤摘要】
一种针对数字信号处理微系统的1553B通信测试方法
本专利技术是一种针对数字信号处理微系统的1553B通信测试方法，是将板级数字信号处理系统及1553B通信测试技术借鉴应用到SiP模块测试中的测试方法。
技术介绍
微系统是基于系统级封装(SysteminPackage，SiP)技术，将不同类型的电路(多数为裸芯(Bare-die)，也可为其他分立元件)集成在同一个封装内，在高密度互联基板中实现部分无源器件功能、实现互连和机械安装，最终完成整个或部分系统功能的集成电路。随着电子技术发展，微系统以其高集成度，多功能化的优点，成为电子产品小型化的重要实现方法。微系统的测试环节是微系统设计生产过程中的重要环节。与传统集成电路的测试方法不同，微系统在封装过程中，考虑到封装体积与基板的制作工艺，不会将各个单元裸芯的所有PAD全部引出，而是仅引出微系统需要与外部互联的部分引脚。微系统内部互联却没有引出的各个单元的PAD在微系统测试过程中，类似于黑盒子，无法用测试仪器直接进行测试。上述这一特点导致微系统的测试方法无法套用微系统内部电路的传统测试方法，且测试过程难以定位故障节点。由上所述，不同功能的微系统其测试方法也不尽相同，针对微系统的测试技术还需要进行大量工程化研究来总结完善。
技术实现思路
本专利技术的技术解决问题是：针对现有测试技术不足之处，提供一种针对数字信号处理微系统1553B协议通信的测试方法，用于实现针对微系统内完全封闭或半完全封闭芯片的有效功能测试，同时测试所需硬件平台简单、测试方案规划效率高。本专利技术的技术解决方案是：一种针对数字信号处理微系统的1553B通信测试方法，所述被测数字信号处理微系统包括数字信号处理单元、现场可编程逻辑单元、1553B协议通信单元、数据缓存单元、数据存储单元、配置码流存储单元；现场可编程逻辑单元为数字信号处理单元的外设，扩展数字信号处理单元的I/O空间；同时，现场可编程逻辑单元通过通用IO口与1553B协议通信单元的数据总线和控制逻辑总线连接；数据缓存单元与数据存储单元也为数字信号处理单元的外设，负责数据的缓存与存储；配置码流存储单元为可编程逻辑单元的外设；数字信号处理单元、现场可编程逻辑单元、数据缓存单元、数据存储单元地址总线互联、数据总线互联；测试方法包括如下步骤：S1、将被测数字信号处理微系统接入1553B板卡，1553B板卡连接至上位机，同时将被测数字信号处理微系统通过串口连接至上位机，组成微系统1553B回环链路测试硬件模型；S2、将被测数字信号处理微系统中的数字信号处理单元、现场可编程逻辑单元分别接入至相应的开发软件中，建立微系统1553B回环链路测试软件环境；S3、根据被测数字信号处理微系统内1553B协议通信单元的功能测试流程，在数字信号处理单元开发软件编辑数据通信测试用例，在现场可编程逻辑单元开发软件中将被测数字信号处理微系统配置为总线控制器BC，编辑测试数据生成用例，比对测试数据并将测试数据结果发送给数字信号处理单元的测试用例，生成相应的配置码流文件；S4、将现场可编程逻辑单元配置码流文件烧写至配置码流存储单元，被测数字信号处理微系统上电后，现场可编程逻辑单元从配置码流存储单元读取配置码流并对自身进行配置；S5、在上位机设置1553B测试板卡为远程终端RT；S6、运行数字信号处理单元开发软件中的测试用例，通过数字信号处理单元开发软件查看测试结果。所述功能测试流程包括数据发送测试流程，步骤如下：S2.1、被测数字信号处理微系统内嵌现场可编程逻辑单元生成测试数据，并发送给1553B协议通信单元；S2.2、现场可编程逻辑单元向1553B协议通信单元输出发送指令，使得1553B协议通信单元收到发送指令之后生成接收命令，1553B协议通信单元将接收命令与测试数据打包，得到1553B数据包，将1553B数据包发送至1553B测试板卡；S2.3、1553B测试板卡收到1553B数据包后，将RT状态字反馈给1553B协议通信单元，然后将1553B数据包上传至上位机；S2.4、上位机接收并解析1553B数据包，将测试数据通过串口发送至被测数字信号处理微系统；S2.5、被测数字信号处理微系统内嵌数字信号处理单元通过串口接收测试数据，并将测试数据送入内嵌现场可编程逻辑单元；S2.6、被测数字信号处理微系统内嵌现场可编程逻辑单元对生成的测试数据与接收到的测试数据进行比对，如比对结果一致输出发送测试通过的测试结果，如比对结果不一致，则输出发送测试失败的测试结果。所述功能测试流程还包括数据接收测试流程，步骤如下：S3.1、被测数字信号处理微系统内嵌现场可编程逻辑单元生成测试数据，数字信号处理单元从现场可编程逻辑单元读取测试数据，并通过串口将测试数据上传至上位机，之后，通过内嵌现场可编程逻辑单元向1553B协议通信单元输出接收指令；S3.2、上位机将测试数据打包成1553B数据包，发送至1553B测试板卡；S3.3、被测数字信号处理微系统内嵌1553B协议通信单元收到接收指令之后向1553B测试板卡输出发送命令字以及发送方式命令字，等待接收1553B测试板卡反馈矢量字与RT状态字后，从1553B测试板卡中读取测试数据，并转发给现场可编程逻辑单元；S3.4、被测数字信号处理微系统内嵌现场可编程逻辑单元解析1553B数据包，得到测试数据，对生成的测试数据与接收到的测试数据进行比对，如比对结果一致输出发送测试通过的测试结果，如比对结果不一致，则输出发送测试失败的测试结果。所述被测数字信号处理微系统内嵌数字信号处理单元和现场可编程逻辑单元、1553B板卡以及上位机，都可在测试过程中实时监测测试数据，可以迅速定位故障节点。所述测试数据为递增的自然数。上述针对数字信号处理微系统的1553B通信测试方法，还包括如下步骤：通过开发软件中的虚拟逻辑分析仪器监测现场可编程逻辑单元内部测试向量，以检查生成的测试数据以及经过测试链路回环后的测试数据是否正确。所述步骤S2.1中，测试数据生成后，存储在内嵌FPGA单元的BRAM资源中，便于随时进行读取。本专利技术与现有技术相比的有益效果是：(1)、对于同一种类的数字信号处理微系统，其功能测试向量准备完成后，只需将接收测试与发送测试对应的配置码流烧写进相应待测试单元，即可利用同一测试环路实现1553B的接收与发送测试，不必修改测试环路的物理连接。(2)、测试数据的生成与测试数据的比对均由被测试微系统自主完成，减少测试所需外部资源，并且可以灵活设定微系统内嵌FPGA单元的自测试电路对外接口，实时性好，灵活度高。(3)、在测试过程中，测试数据的各个数据节点都可以进行实时观测，可以快速定位到故障节点。附图说明图1是本专利技术实施例基于数字信号处理微系统的1553B通信环路测试系统；图2是本专利技术实施例针对数字信号处理微系统的1553B通信功能测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种针对数字信号处理微系统的1553B通信测试方法，所述被测数字信号处理微系统包括数字信号处理单元、现场可编程逻辑单元、1553B协议通信单元、数据缓存单元、数据存储单元、配置码流存储单元；现场可编程逻辑单元为数字信号处理单元的外设，扩展数字信号处理单元的I/O空间；同时，现场可编程逻辑单元通过通用IO口与1553B协议通信单元的数据总线和控制逻辑总线连接；数据缓存单元与数据存储单元也为数字信号处理单元的外设，负责数据的缓存与存储；配置码流存储单元为可编程逻辑单元的外设；数字信号处理单元、现场可编程逻辑单元、数据缓存单元、数据存储单元地址总线互联、数据总线互联；其特征在于测试方法包括如下步骤：/nS1、将被测数字信号处理微系统接入1553B板卡，1553B板卡连接至上位机，同时将被测数字信号处理微系统通过串口连接至上位机，组成微系统1553B回环链路测试硬件模型；/nS2、将被测数字信号处理微系统中的数字信号处理单元、现场可编程逻辑单元分别接入至相应的开发软件中，建立微系统1553B回环链路测试软件环境；/nS3、根据被测数字信号处理微系统内1553B协议通信单元的功能测试流程，在数字信号处理单元开发软件编辑数据通信测试用例，在现场可编程逻辑单元开发软件中将被测数字信号处理微系统配置为总线控制器BC，编辑测试数据生成用例，比对测试数据并将测试数据结果发送给数字信号处理单元的测试用例，生成相应的配置码流文件；/nS4、将现场可编程逻辑单元配置码流文件烧写至配置码流存储单元，被测数字信号处理微系统上电后，现场可编程逻辑单元从配置码流存储单元读取配置码流并对自身进行配置；/nS5、在上位机设置1553B测试板卡为远程终端RT；/nS6、运行数字信号处理单元开发软件中的测试用例，通过数字信号处理单元开发软件查看测试结果。/n...

【技术特征摘要】
1.一种针对数字信号处理微系统的1553B通信测试方法，所述被测数字信号处理微系统包括数字信号处理单元、现场可编程逻辑单元、1553B协议通信单元、数据缓存单元、数据存储单元、配置码流存储单元；现场可编程逻辑单元为数字信号处理单元的外设，扩展数字信号处理单元的I/O空间；同时，现场可编程逻辑单元通过通用IO口与1553B协议通信单元的数据总线和控制逻辑总线连接；数据缓存单元与数据存储单元也为数字信号处理单元的外设，负责数据的缓存与存储；配置码流存储单元为可编程逻辑单元的外设；数字信号处理单元、现场可编程逻辑单元、数据缓存单元、数据存储单元地址总线互联、数据总线互联；其特征在于测试方法包括如下步骤：
S1、将被测数字信号处理微系统接入1553B板卡，1553B板卡连接至上位机，同时将被测数字信号处理微系统通过串口连接至上位机，组成微系统1553B回环链路测试硬件模型；
S2、将被测数字信号处理微系统中的数字信号处理单元、现场可编程逻辑单元分别接入至相应的开发软件中，建立微系统1553B回环链路测试软件环境；
S3、根据被测数字信号处理微系统内1553B协议通信单元的功能测试流程，在数字信号处理单元开发软件编辑数据通信测试用例，在现场可编程逻辑单元开发软件中将被测数字信号处理微系统配置为总线控制器BC，编辑测试数据生成用例，比对测试数据并将测试数据结果发送给数字信号处理单元的测试用例，生成相应的配置码流文件；
S4、将现场可编程逻辑单元配置码流文件烧写至配置码流存储单元，被测数字信号处理微系统上电后，现场可编程逻辑单元从配置码流存储单元读取配置码流并对自身进行配置；
S5、在上位机设置1553B测试板卡为远程终端RT；
S6、运行数字信号处理单元开发软件中的测试用例，通过数字信号处理单元开发软件查看测试结果。


2.根据权利要求1所述的一种针对数字信号处理微系统的1553B通信测试方法，基特征在于所述功能测试流程包括数据发送测试流程，步骤如下：
S2.1、被测数字信号处理微系统内嵌现场可编程逻辑单元生成测试数据，并发送给1553B协议通信单元；
S2.2、现场可编程逻辑单元向1553B协议通信单元输出发送指令，使得1553B协议通信单元收到发送指令之后生成接收命令，1553B协议通信单元将接收命令与测试数据打包，得到1553B数据包，将1553B数据包发送至1553B测试板卡；
S2.3、1553B测试板卡收到1553B数据包后，将RT状态字反馈给1553B协议通信单元，然后将1553B数据包上传至上位机；
S2....

【专利技术属性】
技术研发人员：冯长磊，武昊男，秦贺，王蕊，卢峰，魏晓飞，阎渊海，王炳雅，吕冰，张拓，
申请(专利权)人：北京时代民芯科技有限公司，北京微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11