复合引脚驱动器制造技术

本公开涉及复合引脚驱动器。测试系统可以使用第一和第二不同的驱动器级来向被测设备(DUT)提供测试信号。复合级可以接收来自驱动器级的信号，并通过增益电路将电压输出信号提供给DUT。复合级可以包括配置为基于来自第一驱动器级的第一输出信号提供电压输出信号的第一部分的缓冲电路，并且复合级可以包括配置为提供电压第二部分的跨阻电路基于来自第二驱动器级的第二输出信号的输出信号。在一个示例中，增益电路可以接收包括电压输出信号的第一部分和第二部分的叠加信号，并且作为响应，向DUT提供测试信号。

【技术实现步骤摘要】
复合引脚驱动器
技术介绍
用于电子设备测试的测试系统可以包括引脚驱动器电路，该引脚驱动器电路向被测设备(DUT)提供电压测试脉冲。作为响应，测试系统可以配置为测量来自DUT的响应，例如确定DUT是否满足一个或多个指定的操作参数。测试系统可以可选地包括多个驱动器电路，例如AB类驱动器电路和A类驱动器电路，以提供具有不同幅度或定时特性的电路测试信号。在一个示例中，测试系统被配置为使用有源负载和比较器电路来感测DUT引脚上的跳变，以测量来自DUT的响应。用于测试数字集成电路(IC)的系统可以包括配置为向DUT提供多个电压电平(例如Vhigh、Vlow和Vterm)的驱动器电路。DUT可以显示双向(I/O)功能，因为它既可以发出信号，也可以接收信号。驱动器电路的Vhigh和Vlow电平用于在处于“输入”状态时激励DUT，而Vterm则充当处于“输出”状态的DUT的终端。可以将Vhigh、Vlow和Vterm之间的切换过程概念化为三个开关的集合，每个开关的一个端子连接到Vhigh、Vlow或Vterm，另一个端子连接到一个公共的50欧姆电阻，该电阻又被连接到DUT节点。这样，可以通过打开和关闭适当的开关来实现三个级别之间的转换，例如在任何给定时间仅关闭一个开关。ATE测试系统的一个功能是能够将精确定时的Vhigh、Vlow和Vterm信号或转换信号传送到DUT。对于测试系统而言，提供基本恒定的传播延迟和可预测的信号边缘位置(与温度、频率、占空比、脉冲宽度或测试矢量历史记录等变量无关)可能至关重要，这些变量可能会损害测试系统的功效。<br>
技术实现思路
本专利技术人已经认识到，要解决的问题包括，提供一种测试信号发生器系统，该系统相对较小、生产成本低、比传统系统消耗的功率少、或者相对于传统系统提供更高的保真度。例如，问题可以包括提供具有改善的脉冲沿放置精度或改善的带宽特性的测试信号发生器。在示例中，针对这些和其他问题的解决方案可以包括具有复合级的驱动器系统。复合级可以容纳大范围的电压和电流输入和输出信号，并可以以更高的精度支持高带宽信号。在示例中，复合级可以包括可以接收电压信号的第一输入并且可以包括可以接收电流信号的第二输入，并且可以基于接收到的电压和电流信号的组合来提供复合输出信号。在一个示例中，包括复合级的测试系统可以具有与AB类驱动器相似的功率处理特性，并且可以具有与A类驱动器相似的带宽特性。在一个示例中，复合级提供了高阻抗环境，因此前端开关或驱动器电路中使用的设备可以比传统A类开关电路中使用的设备小许多倍。此外，由于可以在复合级的高阻抗环境中执行开关操作，因此前端开关电流信号可以比传统A类开关电路中使用的电流信号小很多倍。在一个示例中，复合级还可以帮助将前端驱动器或开关级与DUT隔离。与传统的驱动器布置相比，通过改善隔离度，可以减少寄生负载影响，并可以改善带宽。因此，可以使用较小或较少的电容消除装置，或者可以完全省略。该概述旨在提供本专利申请的主题的概述。并不旨在提供本专利技术的排他性或详尽的解释。包括详细描述以提供关于本专利申请的更多信息。附图说明为了容易地识别对任何特定元素或动作的讨论，参考数字中的最高有效数字指的是首次引入该元素的附图编号。图1总体上示出了包括多个驱动器电路的测试系统拓扑的示例。图2总体上示出了包括复合级和多个驱动器电路的测试系统拓扑的示例。图3总体上示出了用于测试系统的复合级的框图的示例。图4总体上示出了用于测试系统的复合台的一部分的示意图的示例。图5总体上示出了一种方法的示例，该方法可以包括在测试系统中使用复合级来向DUT提供测试信号。具体实施方式测试系统的引脚驱动器电路可以在指定的时间向被测设备(DUT)提供电压脉冲激励，并且可以选择测量来自DUT的响应。测试系统可以配置为在相对较大的输出信号幅度范围内提供高保真度的输出信号脉冲，以适应不同类型的被测设备。在一些示例中，测试系统包括物理上大电流切换级以促进大电压摆幅。但是，由于寄生信号(例如由于与物理上较大的开关级相关联的寄生效应而导致的杂散信号)会降低测试信号波形的保真度和测试信号带宽，因此，如此大的电流开关级可能会产生产生较小的电压摆幅的责任。本文所述的测试系统和方法尤其提供了一种引脚驱动器体系结构，该体系结构可以在高功率或低功率操作水平下提高脉冲沿的放置精度和信号带宽。在一个示例中，本文描述的系统可以包括复合级，以在将信号提供给DUT之前接收并组合来自多个不同驱动器电路的信号。在一个示例中，复合级可以包括：电压信号放大器电路，例如被配置为接收和处理来自AB类驱动器级的信号；以及跨阻电路，例如被配置为接收并处理来自A类驱动器级的信号。另外的驱动器级，或一种或多种类型的驱动器级的多个实例，可以可选地与本文讨论的复合级一起使用。在一个示例中，可以使用多个驱动器或驱动器级来提供测试系统，该测试系统可配置为测试具有变化的电压和速度要求的各种半导体器件。此外，可以使用多个驱动器来增强或启用用于物理层测试的多个信号级别测试或“多路复用”。在物理层测试期间，可以同时切换多个驱动器，以向DUT提供各种不同的刺激或驱动信号。在示例中，AB类驱动器可以被配置为传递大范围的不同电压幅度信号，并且可以被配置为消耗最小量的功率。AB类驱动器可以具有中等带宽和定时精度。AB类驱动器可以包括或使用二极管电桥，晶体管差分对或其他开关元件。在示例中，AB类驱动器可以配置为对片上系统电路或其他电路或设备进行中等速度的测试。在一个示例中，A类驱动器可以配置为传递相对较低幅度的电流信号，并且可以配置为具有高带宽和定时精度。在示例中，可以将A类驱动器配置为直接在驱动器的输出节点或DUT的输入处切换较大的电流信号。在一个示例中，可以将A类驱动器配置为对存储电路或其他设备进行高速测试。在一个示例中，例如，由于用于在DUT上切换大电流信号的大型组成设备，A类驱动器可能会寄生在DUT上，从而降低了测试系统的整体带宽。在一个示例中，某些测试系统可以包括电容抵消元件，以抵消A类驱动器的负载影响，但是，此类元件的物理尺寸可能很大，并且可能导致零件尺寸增加和芯片成本增加。在一个示例中，如本文所讨论的，复合级可以与较小的A类驱动器一起使用，以减少或消除对这种抵消元件的需要。图1总体上示出了包括多个驱动器电路的测试系统拓扑的第一示例100。第一示例100包括可以包括AB类驱动器电路的第一DriverAB108和可以包括A类驱动器电路的第一DriverA116。第一示例100可以进一步包括输出元件，例如第一电阻器104，其可以被配置为提供指定的输出或负载阻抗。在示例中，第一示例100可以包括第一负载电路122，例如可以包括比较器电路、有源负载或其他负载设备。在一个示例中，测试系统被配置为在DUT引脚102处提供第一输出电流106i_OUT。在示例中，第一DriverAB108可以被配置为通过在并联连接的二极管电桥之间进行选择来产生电压激励信号，其中每个电桥由唯一的专用DC电压电平本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.用于引脚驱动器系统的复合级电路，所述复合级电路响应于来自至少第一驱动器和第二驱动器的相应输入信号，并且所述复合级电路被配置为在复合级输出节点处向输出增益级提供输出电压信号，所述复合级电路包括：/n电压输入节点，被配置为从所述第一驱动器接收输入电压信号；/n电流输入节点，被配置为从所述第二驱动器接收输入电流信号；/n第一增益电路，被配置为在所述电压输入节点处接收所述输入电压信号，并基于所述输入电压信号在所述复合级输出节点处提供所述输出电压信号的第一部分；和/n跨阻电路，被配置为在所述电流输入节点处接收所述输入电流信号，并基于所述输入电流信号在所述复合级输出节点处提供所述输出电压信号的第二部分；/n其中所述输出电压信号的第一和第二部分在所述复合级输出节点处组合以提供所述输出电压信号。/n

【技术特征摘要】
20191014 US 16/600,9171.用于引脚驱动器系统的复合级电路，所述复合级电路响应于来自至少第一驱动器和第二驱动器的相应输入信号，并且所述复合级电路被配置为在复合级输出节点处向输出增益级提供输出电压信号，所述复合级电路包括：
电压输入节点，被配置为从所述第一驱动器接收输入电压信号；
电流输入节点，被配置为从所述第二驱动器接收输入电流信号；
第一增益电路，被配置为在所述电压输入节点处接收所述输入电压信号，并基于所述输入电压信号在所述复合级输出节点处提供所述输出电压信号的第一部分；和
跨阻电路，被配置为在所述电流输入节点处接收所述输入电流信号，并基于所述输入电流信号在所述复合级输出节点处提供所述输出电压信号的第二部分；
其中所述输出电压信号的第一和第二部分在所述复合级输出节点处组合以提供所述输出电压信号。


2.权利要求1所述的复合级电路，其中所述跨阻电路包括串联在所述电流输入节点和所述复合级输出节点之间的电阻器或电阻。


3.权利要求2所述的复合级电路，其中所述第一增益电路包括反馈网络，该反馈网络被配置为提供所述电流输入节点的视在输入阻抗，该视在输入阻抗小于所述电阻器或电阻的阻抗特性。


4.权利要求1所述的复合级电路，还包括输出增益级，该输出增益级被配置为经由输出电阻器向被测设备(DUT)提供测试信号，其中该测试信号基于所述复合级输出节点处的输出电压信号。


5.权利要求1所述的复合级电路，其中所述第一增益电路包括配置为建立所述复合级电路的带宽特性的反馈网络。


6.权利要求5所述的复合级电路，其中所述第一增益电路被配置为向所述输出电压信号的第一部分提供幅度和相位特性，该幅度和相位特性与来自所述第一驱动器的输入电压信号的幅度和相位特性相对应。


7.权利要求1所述的复合级电路，其中所述第一驱动器包括被配置为以第一速度提供电压测试信号的AB类驱动器，并且其中所述第二驱动器包括被配置为以小于所述第一速度的第二速度提供电流的测试信号的A类驱动器。


8.权利要求1所述的复合级电路，其中所述电压输入节点被配置为响应于来自控制电路的第一控制信号而从所述第一驱动器接收所述输入电压信号，并且其中所述电流输入节点被配置为响应于来自所述控制电路的第二控制信号而从所述第二驱动器接收所述输入电流信号，其中所述控制电路至少部分同时地断言所述第一和第二控制信号。


9.权利要求1所述的复合级电路，其中所述输出电压信号的第一部分和第二部分在所述复合级输出节点处使用求和电路叠加。


10.权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：C·C·麦可金，
申请(专利权)人：美国亚德诺半导体公司，
类型：发明
国别省市：美国;US