测宽设备、测宽方法、存储有测宽程序的计算机可读介质技术

一种测宽设备、测宽方法、存储有测宽程序的计算机可读介质，用于测量物体的相互平行的第一表面和第二表面之间的宽度，它包括测厚装置和矫偏装置，测厚装置对应有第一测量面，第一测量面与第一表面的相交线为第一交线，第一测量面与第二表面的相交线为第二交线，测厚装置用于测量第一交线与第二交线的距离；矫偏装置对应有第一测量面、第二测量面，第二测量面平行于第一测量面，第二测量面与第一表面的相交线为第三交线，矫偏装置用于测量第一交线在第二测量面的投影线与第三交线的距离。它可以用于测得物体的两平行表面之间的宽度的测量数据。

【技术实现步骤摘要】
测宽设备、测宽方法、存储有测宽程序的计算机可读介质
本专利技术涉及测量物体的两平行面宽度测量
，具体涉及一种测宽设备、一种测宽方法、一种存储有测宽程序的计算机可读介质。
技术介绍
在某些场合，需要精确测量物体的两平行表面之间的宽度。专利文献CN109759458A公开了一种用于轧机推床的轧件测宽系统，包括设置在推床两侧的激光测距仪、设置在操作侧推头上的激光对准板、设置在传动侧推头上的激光对准板和PLC数据采集系统；激光测距仪通过测量激光对准板的位移数据得到操作侧推头和传动侧推头位移数据，并将测得的位移数据传输至PLC数据采集系统，PLC数据采集系统根据接收到的操作侧推头和传动侧推头位移数据，计算轧件宽度；操作侧推头和传动侧推头的位移数据包括初始传动侧推头位置、初始操作侧推头位置、抱住轧件时传动侧推头位置和抱住轧件时操作侧推头位置。在测量轧机推床的轧件宽度时，可以预估轧件的两平行表面分别贴合于推床两侧的导向轮，因此，设置在推床两侧的激光测距仪可以测得轧件的两平行表面的宽度。但在某些场合，物体是随意放置的，使用前述的技术方案并不能测得物体的两平行表面之间的宽度。申请人检索后，未获得精确测量随意放置的物体的两平行表面之间宽度的现有技术。
技术实现思路
本专利技术的第一目的是提供一种测宽设备，以降低对被测宽物体的设置条件。本专利技术的第二目的是提供一种测宽方法，以精确测量随意放置的物体的两平行表面之间的宽度。本专利技术的第三目的是提供一种存储有测宽程序的计算机可读介质，以根据获取的随意放置的物体的两平行表面之间的宽度的测量数据获得该物体的两被测表面之间的宽度。本专利技术是这样实现的：一种测宽设备，用于测量物体的相互平行的第一表面和第二表面之间的宽度，它包括测厚装置和矫偏装置，所述测厚装置对应有第一测量面，所述第一测量面与所述第一表面的相交线为第一交线，所述第一测量面与所述第二表面的相交线为第二交线，所述测厚装置用于测量所述第一交线与所述第二交线的距离；所述矫偏装置对应有所述第一测量面、第二测量面，所述第二测量面平行于所述第一测量面，所述第二测量面与所述第一表面的相交线为第三交线，所述矫偏装置用于测量所述第一交线在所述第二测量面的投影线与所述第三交线的距离。优选的，所述测厚装置包括第一相位波测距单元和第二相位波测距单元，所述第一相位波测距单元的测量波通路所在的平面、所述第二相位波测距单元的测量波通路所在的平面和所述第一测量面共面设置。优选的，所述矫偏装置包括第一相位波测距单元和第三相位波测距单元，所述第一相位波测距单元的测量波通路所在的平面和所述第一测量面共面设置，所述第三相位波测距单元的测量波通路所在的平面和所述第二测量面共面设置。优选的，所述测厚装置包括第一相位波测距单元和所述第二相位波测距单元，所述矫偏装置包括所述第一相位波测距单元和第三相位波测距单元，所述第一相位波测距单元、第二相位波测距单元和所述第三相位波测距单元中，任一相位波测距单元为电磁波测距仪、超声波测距仪或激光测距仪。优选的，所述测厚装置包括第一三角波测距单元和所述第二三角波测距单元，所述第一三角波测距单元的测量波通路所在的平面、所述第二三角波测距单元的测量波通路所在的平面和所述第一测量面共面设置。优选的，所述矫偏装置包括第一三角波测距单元和第三三角波测距单元，所述第一三角波测距单元的测量波通路所在的平面和所述第一测量面共面设置，所述第三三角波测距单元的测量波通路所在的平面和所述第二测量面共面设置。优选的，所述测厚装置包括第一三角波测距单元和所述第二三角波测距单元，所述矫偏装置包括所述第一三角波测距单元和第三三角波测距单元，所述第一三角波测距单元、第二三角波测距单元和所述第三三角波测距单元中，任一三角波测距单元均包括测量光生成器、线阵型光接收器，所述测量光生成器输出的测量光束和所述线阵型光接收器的延伸线设置在其所对应的测量面内。一种测宽方法，用于测量物体的相互平行的第一表面和第二表面之间的宽度，设第一测量面与所述第一表面的相交线为第一交线，所述第一测量面与所述第二表面的相交线为第二交线，设第二测量面与所述第一表面的相交线为第三交线，所述第一测量面平行于所述第二测量面；它包括以下步骤：测量所述第一交线与所述第二交线的距离CE，测量所述第一交线在所述第二测量面的投影线与所述第三交线的距离OP；则所述第一表面和所述第二表面之间宽度QH为式中，CO为所述第一测量面与所述第二测量面的距离。一种存储有测宽程序的计算机可读介质，所述测宽程序用于输出物体的相互平行的第一表面和第二表面之间的宽度，设第一测量面与所述第一表面的相交线为第一交线，所述第一测量面与所述第二表面的相交线为第二交线，设第二测量面与所述第一表面的相交线为第三交线，所述第一测量面平行于所述第二测量面；所述测宽程序包括输入模块、计算模块和输出模块；所述输入模块用于获取所述第一交线与所述第二交线的距离CE、所述第一交线在所述第二测量面的投影线与所述第三交线的距离OP；所述计算模块用于计算式中，CO为所述第一测量面与所述第二测量面的距离；所述输出模块用于输出所述第一表面和所述第二表面之间的宽度QH。前述的测宽设备的使用方法，用于测量设置在所述测宽设备的有效测量区域内的物体的宽度QH，所述有效测量区域为平面BR和平面DS，平面BR∥平面DS，物体的宽度QH对应于物体的第一表面与第二表面的距离；所述第一测量面与所述平面BR的相交线为第四交线，所述第一测量面与所述平面DS的相交线为第五交线，所述第二测量面与所述平面BR的相交线为第六交线，所述第一交线∥所述第四交线，包括以下步骤：使用所述第一三角波测距单元获取所述第一交线和所述第四交线的距离BC；使用所述第二三角波测距单元获取所述第二交线和所述第五交线的距离DE；使用所述第三三角波测距单元获取所述第三交线和所述第六交线的距离PR；则所述第一表面和所述第二表面之间宽度QH为式中，CO为所述第一测量面与所述第二测量面的距离，BD为平面BR与平面DS之间的距离。一种存储有测宽程序的计算机可读介质，用于测量设置在所述测宽设备的有效测量区域内的物体的宽度QH，所述有效测量区域为平面BR和平面DS，平面BR∥平面DS，物体的宽度QH对应于物体的第一表面与第二表面的距离；其特征在于，用于配合如权利要求7所述的测宽设备，所述第一测量面与所述平面BR的相交线为第四交线，所述第一测量面与所述平面DS的相交线为第五交线，所述第二测量面与所述平面BR的相交线为第六交线，所述第一交线∥所述第四交线，其特征在于，所述测宽程序包括输入模块、计算模块和输出模块；所述输入模块用于获取所述第一交线和所述第四交线的距离BC、所述第二交线和所述第五交线的距离DE、所述第三交线和所述第六交线的距离PR；所述计算模块用于计算式中，CO为所述第一测量面与所述第二测量面的距离本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测宽设备，用于测量物体的相互平行的第一表面和第二表面之间的宽度，其特征在于，它包括测厚装置和矫偏装置，所述测厚装置对应有第一测量面，所述第一测量面与所述第一表面的相交线为第一交线，所述第一测量面与所述第二表面的相交线为第二交线，所述测厚装置用于测量所述第一交线与所述第二交线的距离；所述矫偏装置对应有所述第一测量面、第二测量面，所述第二测量面平行于所述第一测量面，所述第二测量面与所述第一表面的相交线为第三交线，所述矫偏装置用于测量所述第一交线在所述第二测量面的投影线与所述第三交线的距离。/n

【技术特征摘要】
1.一种测宽设备，用于测量物体的相互平行的第一表面和第二表面之间的宽度，其特征在于，它包括测厚装置和矫偏装置，所述测厚装置对应有第一测量面，所述第一测量面与所述第一表面的相交线为第一交线，所述第一测量面与所述第二表面的相交线为第二交线，所述测厚装置用于测量所述第一交线与所述第二交线的距离；所述矫偏装置对应有所述第一测量面、第二测量面，所述第二测量面平行于所述第一测量面，所述第二测量面与所述第一表面的相交线为第三交线，所述矫偏装置用于测量所述第一交线在所述第二测量面的投影线与所述第三交线的距离。


2.如权利要求1所述的测宽设备，其特征在于，所述测厚装置包括第一相位波测距单元和第二相位波测距单元，所述第一相位波测距单元的测量波通路所在的平面、所述第二相位波测距单元的测量波通路所在的平面和所述第一测量面共面设置。


3.如权利要求1所述的测宽设备，其特征在于，所述矫偏装置包括第一相位波测距单元和第三相位波测距单元，所述第一相位波测距单元的测量波通路所在的平面和所述第一测量面共面设置，所述第三相位波测距单元的测量波通路所在的平面和所述第二测量面共面设置。


4.如权利要求1所述的测宽设备，其特征在于，所述测厚装置包括第一三角波测距单元和所述第二三角波测距单元，所述第一三角波测距单元的测量波通路所在的平面、所述第二三角波测距单元的测量波通路所在的平面和所述第一测量面共面设置。


5.如权利要求1所述的测宽设备，其特征在于，所述矫偏装置包括第一三角波测距单元和第三三角波测距单元，所述第一三角波测距单元的测量波通路所在的平面和所述第一测量面共面设置，所述第三三角波测距单元的测量波通路所在的平面和所述第二测量面共面设置。


6.如权利要求1所述的测宽设备，其特征在于，所述测厚装置包括第一三角波测距单元和所述第二三角波测距单元，所述矫偏装置包括所述第一三角波测距单元和第三三角波测距单元，所述第一三角波测距单元、第二三角波测距单元和所述第三三角波测距单元中，任一三角波测距单元均包括测量光生成器、线阵型光接收器，所述测量光生成器输出的测量光束和所述线阵型光接收器的延伸线设置在其所对应的测量面内。


7.一种测宽方法，用于测量物体的相互平行的第一表面和第二表面之间的宽度，其特征在于，设第一测量面与所述第一表面的相交线为第一交线，所述第一测量面与所述第二表面的相交线为第二交线，设第二测量面与所述第一表面的相交线为第三交线，所述第一测量面平行于所述第二测量面；它包括以下步骤：
测量所述第一交线与所述第二交线的距离CE，测量所述第一交线在所述第二测量面的投影线与所述第三交线的距离OP；
则所述第一表面和所述第二表面之间宽度QH为



式中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾治国，马丰原，方扬扬，职连杰，黄海霞，黄鹏杰，刘红，
申请(专利权)人：河南中原光电测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南;41