【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种半导体器件的测试方法,特别是涉及一种。
技术介绍
在SOC (system on a chip系统级芯片)芯片的量产测试中,芯片 的测试包括很多个测试项目。在目前现有的测试方法中,每进行一个测试 项目都要给芯片印加一个测试向量,然后等待芯片输出测试结果,得到测 试结果后再给芯片印加下一个测试向量进行下一个测试项目,如此循环, 直到所有测试项目测试完毕。芯片输出测试结果的格式为一串不同的数据 (参见图1)。在量产测试中人们关心的往往是测试效率和最终的测试结果是良品 还是残次品。按照目前SOC芯片的测试方法,其缺点是每个测试项目的测试均要印加测试向量,等待测试结果,这样使开发 测试程序的时间延长,浪费了测试时间,使得测试效率不高。由于芯片输出测试结果的格式为一串不同的数据,所以针对每个测试 项目都要写特定的测试模式(向量)进行比对芯片的输出,这无疑会增加 开发测试程序的时间。实际上对量产测试来说,关心的只是最终的测试结 果是良品还是残次品,应直观的反映出测试结果。在多个DUT (Device Under Test被测器件)同测时,特别是针对异歩响应芯片或测试项H,对芯片输出结果的比对和判断,数据处理花费的 时间较多,而且增加了开发测试程序的复杂度。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种,有效节省测试时间,简化开发测试程序。为解决上述技术问题,本专利技术的是采用 如下技术方案实现的,对soc进行量产测试时,把多个项目的测试结果存储在芯片中,在一定的时间内输出最终测试结果。由于采用本专利技术的方法,改变了现有方法中进行一个测试项目输出 ...
【技术保护点】
一种提高SOC芯片测试效率的方法,其特征在于:对SOC进行量产测试时,把多个项目的测试结果存储在芯片中,在一定的时间内输出最终测试结果。
【技术特征摘要】
1、一种提高SOC芯片测试效率的方法,其特征在于对SOC进行量产测试时,把多个项目的测试结果存储在芯片中,在一定的时间内输出最终测试结果。2、 根据权利要求1所述的提高S0C芯片测试效率的方法,其特征在 于当测试结果为合格时输出一个具有一定宽度的脉冲,当测试结果为不 合格时芯片的I/O 口的状态不变, 一直...
【专利技术属性】
技术研发人员:谢晋春,陈凯华,陈婷,辛吉升,桑浚之,
申请(专利权)人:上海华虹NEC电子有限公司,
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]
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